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IEEE European Test Symposium
IEEE European Test Symposium
召开年:
2013
召开地:
Avignon(FR)
出版时间:
-
会议文集:
-
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1.
Magical thinking applied to test engineering reality (and vice versa)
机译:
神奇的思维应用于测试工程现实(反之亦然)
作者:
Rearick Jeff
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2013年
2.
Outlook for many-core systems: Cloudy with a chance of virtualization
机译:
多核系统的展望:多云,有可能进行虚拟化
作者:
Dutt Nikil
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2013年
关键词:
many-core architectures;
memory virtualization;
on-chip memory organizations;
3.
Robust optimization of test-architecture designs for core-based SoCs
机译:
针对基于内核的SoC的测试体系结构设计的强大优化
作者:
Deutsch Sergej
;
Chakrabarty Krishnendu
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2013年
4.
Computing detection probability of delay defects in signal line tsvs
机译:
计算信号线tsvs中延迟缺陷的检测概率
作者:
Metzler C.
;
Todri-Sanial A.
;
Bosio A.
;
Dilillo L.
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2013年
5.
Automated DfT insertion and test generation for 3D-SICs with embedded cores and multiple towers
机译:
具有嵌入式核心和多个塔架的3D-SIC的自动DfT插入和测试生成
作者:
Papameletis Christos
;
Keller Brion
;
Chickermane Vivek
;
Marinissen Erik Jan
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2013年
6.
Efficient fault simulation through dynamic binary translation for dependability analysis of embedded software
机译:
通过动态二进制翻译进行有效的故障仿真,以分析嵌入式软件的可靠性
作者:
Di Guglielmo Giuseppe
;
Ferraretto Davide
;
Fummi Franco
;
Pravadelli Graziano
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2013年
7.
Experimental evaluation of thread distribution effects on multiple output errors in GPUs
机译:
线程分布对GPU中多个输出错误的影响的实验评估
作者:
Rech P.
;
Aguiar C.
;
Frost C.
;
Carro L.
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2013年
关键词:
GPU hardening;
multiple errors;
neutron sensitivity;
8.
A software-based self test of CUDA Fermi GPUs
机译:
基于软件的CUDA Fermi GPU自测
作者:
Di Carlo Stefano
;
Gambardella Giulio
;
Indaco Marco
;
Martella Ippazio
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2013年
9.
Scan pattern retargeting and merging with reduced access time
机译:
扫描模式重新定位和合并,减少访问时间
作者:
Baranowski Rafal
;
Kochte Michael A.
;
Wunderlich Hans-Joachim
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2013年
关键词:
Design for debug diagnosis;
IJTAG;
P1687;
optimal pattern retargeting;
reconfigurable scan network;
scan pattern generation;
10.
Utilizing circuit structure for scan chain diagnosis
机译:
利用电路结构进行扫描链诊断
作者:
Lo Wei-Hen
;
Hsieh Ang-Chih
;
Lan Chien-Ming
;
Lin Min-Hsien
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2013年
11.
A layout-aware x-filling approach for dynamic power supply noise reduction in at-speed scan testing
机译:
一种布局感知的x填充方法,可在全速扫描测试中动态降低电源噪声
作者:
Kiamehr Saman
;
Firouzi Farshad
;
Tahoori Mehdi B.
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2013年
12.
Adaptive quality binning for analog circuits
机译:
模拟电路的自适应质量分级
作者:
Yilmaz Ender
;
Ozev Sule
;
Butler Kenneth M.
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2013年
13.
On combining alternate test with spatial correlation modeling in analog/RF ICs
机译:
在模拟/ RF IC中将替代测试与空间相关建模结合在一起
作者:
Huang Ke
;
Kupp Nathan
;
Carulli John M.
;
Makris Yiorgos
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2013年
14.
M-S test based on specification validation using octrees in the measure space
机译:
基于规范验证的M-S测试,使用度量空间中的八叉树
作者:
Gomez-Pau Alvaro
;
Balado Luz
;
Figueras Joan
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2013年
关键词:
Lissajous Compositions;
Mixed-Signal Test;
Octrees;
Quadtrees;
Test Escapes;
Test Metrics;
Test Yield Loss;
15.
Panel session what is the electronics industry doing to win the battle against the expected scary failure rates in future technology nodes?
机译:
小组会议上,电子行业正在采取什么措施来赢得与未来技术节点中预期的可怕故障率的对抗?
作者:
Hamdioui Said
;
Appello Davide
;
Grasset Arnaud
;
Huawei Xinli Gu
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2013年
16.
Analytical modeling for EVM in OFDM transmitters including the effects of IIP3, I/Q imbalance, noise, AM/AM and AM/PM distortion
机译:
OFDM发射机中EVM的分析模型,包括IIP3,I / Q不平衡,噪声,AM / AM和AM / PM失真的影响
作者:
Nassery Afsaneh
;
Ozev Sule
;
Slamani Mustapha
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2013年
17.
Efficient selection of signatures for analog/RF alternate test
机译:
为模拟/ RF替代测试有效选择签名
作者:
Barragan Manuel J.
;
Leger Gildas
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2013年
18.
Efficient system-level testing and adaptive tuning of MIMO-OFDM wireless transmitters
机译:
MIMO-OFDM无线发射机的高效系统级测试和自适应调整
作者:
Devarakond S.
;
Banerjee D.
;
Banerjee A.
;
Sen S.
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2013年
19.
Information-theoretic syndrome and root-cause analysis for guiding board-level fault diagnosis
机译:
信息理论综合症和根本原因分析可指导板级故障诊断
作者:
Ye Fangming
;
Zhang Zhaobo
;
Chakrabarty Krishnendu
;
Gu Xinli
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2013年
20.
A mutual characterization based SAR ADC self-testing technique
机译:
基于相互表征的SAR ADC自检技术
作者:
Lin H.-J.
;
Huang X.-L.
;
Huang J.-L.
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2013年
关键词:
ADC calibration;
ADC testing;
SAR ADC;
capacitor mismatch;
mixed-signal testing;
21.
Extracting device-parameter variations using a single sensitivity-configurable ring oscillator
机译:
使用单个灵敏度可配置的环形振荡器提取设备参数变化
作者:
Higuchi Yuma
;
Shinkai Ken-ichi
;
Hashimoto Masanori
;
Rao Rahul
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2013年
22.
Current testing: Dead or alive?
机译:
当前测试:死了还是活着?
作者:
Manhaeve Hans
;
Harrod Pete
;
Singh Adit
;
Patel Chintan
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2013年
23.
Reconciling the IC test and security dichotomy
机译:
协调IC测试和安全性二分法
作者:
Sinanoglu O.
;
Karimi N.
;
Rajendran J.
;
Karri R.
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2013年
24.
Semiconductor failure modes and mitigation for critical systems embedded tutorial
机译:
半导体故障模式和缓解关键系统的嵌入式教程
作者:
Manhaeve Hans
;
Mikkola Esko
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2013年
关键词:
HCI;
IC design;
NBTI;
TDDB;
aerospace;
automotive;
condition-based maintenance;
device degradation;
device lifetimes;
die level;
electronic prognostics;
medical;
nanoscale geometries;
predictive diagnostics;
process geometries;
process spreads;
reliability;
remaining useful life;
semiconductor;
silicon;
test structures;
transistor;
yield;
25.
Approximate computing: An emerging paradigm for energy-efficient design
机译:
近似计算:节能设计的新兴范例
作者:
Han Jie
;
Orshansky Michael
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2013年
关键词:
adder;
approximate computing;
low-energy design;
multiplier;
probabilistic computing;
stochastic computation;
26.
Error-correction schemes with erasure information for fast memories
机译:
带有擦除信息的纠错方案,用于快速存储
作者:
Evain Samuel
;
Gherman Valentin
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2013年
关键词:
DEC;
ECC;
MRAM;
MTJ;
SEC-DED;
dielectric breakdown;
erasure;
resistance;
shortened SEC;
soft information;
switching memory;
27.
Reducing power dissipation in memory repair for high defect densities
机译:
减少内存修复中的功耗以实现高缺陷密度
作者:
Papavramidou Panagiota
;
Nicolaidis Michael
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2013年
关键词:
Memory repair;
high defect densities;
low power;
reliability;
ultimate CMOS and post-CMOS;
yield;
28.
Analyzing resistive-open defects in SRAM core-cell under the effect of process variability
机译:
在工艺可变性的影响下分析SRAM核心单元中的电阻性开路缺陷
作者:
Vatajelu Elena I.
;
Bosio A.
;
Dilillo L.
;
Girard P.
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2013年
关键词:
Defect Coverage;
Process Variability;
SRAM Test;
29.
New test compression scheme based on low power BIST
机译:
基于低功耗BIST的新测试压缩方案
作者:
Tyszer J.
;
Filipek M.
;
Mrugalski G.
;
Mukherjee N.
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2013年
关键词:
Built-in self-test;
hybrid low power compression;
low power test;
scan-based test;
test data compression;
toggling;
30.
Novel approach to reduce power droop during scan-based logic BIST
机译:
减少基于扫描的逻辑BIST期间功耗下降的新颖方法
作者:
Omana M.
;
Rossi D.
;
Fuzzi F.
;
Metra C.
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2013年
关键词:
Logic BIST;
Microprocessor;
Power Droop;
Test;
31.
Optimization for timing-speculated circuits by redundancy addition and removal
机译:
通过冗余添加和移除来优化时序电路
作者:
Liu Yuxi
;
Ye Rong
;
Yuan Feng
;
Xu Qiang
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2013年
32.
An error-detection and self-repairing method for dynamically and partially reconfigurable systems
机译:
用于动态和部分可重构系统的错误检测和自我修复方法
作者:
Reorda Matteo Sonza
;
Sterpone Luca
;
Ullah Anees
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2013年
关键词:
Multiple Bit Upsets (MBUs);
Partial and Dynamic Reconfiguration;
Self-Repair;
Single Event Upsets (SEUs);
33.
Run-time detection of hardware Trojans: The processor protection unit
机译:
硬件木马的运行时检测:处理器保护单元
作者:
Dubeuf Jeremy
;
Hely David
;
Karri Ramesh
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2013年
关键词:
Hardware Trojan;
secure processors;
trusted hardware;
34.
Variability-aware and fault-tolerant self-adaptive applications for many-core chips
机译:
多核芯片的可变性和容错自适应应用
作者:
Bizot Gilles
;
Chaix Fabien
;
Zergainoh Nacer-Eddine
;
Nicolaidis Michael
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2013年
关键词:
Distributed applications;
Energy-aware systems;
Many-cores Processor;
Multiprocessor Systems;
Self-Adaptive Self-Mapping;
System on Chip;
Variability-Aware;
35.
A minimum MSE sensor fusion algorithm with tolerance to multiple faults
机译:
最小的MSE传感器融合算法,可容忍多个故障
作者:
Sarbishei O.
;
Fekr A.Roshan
;
Janidarmian M.
;
Nahill B.
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2013年
36.
Bias temperature instability analysis in SRAM decoder
机译:
SRAM解码器中的偏置温度不稳定性分析
作者:
Khan Seyab
;
Hamdioui Said
;
Kukner Halil
;
Raghavan Praveen
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2013年
37.
Generation of compact multi-cycle diagnostic test sets
机译:
生成紧凑的多周期诊断测试仪
作者:
Pomeranz Irith
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2013年
38.
Aggresive scan chain masking for improved diagnosis of multiple scan chain failures
机译:
积极的扫描链屏蔽可改善对多个扫描链故障的诊断
作者:
Kundu Subhadip
;
Chattopadhyay Santanu
;
Sengupta Indranil
;
Kapur Rohit
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2013年
39.
PinPoint: An algorithm for enhancing diagnostic resolution using capture cycle power information
机译:
PinPoint:一种使用捕获周期功率信息增强诊断分辨率的算法
作者:
Potluri Seetal
;
Trinadh Satya
;
Baskaran Roopashree
;
Chandrachoodan Nitin
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2013年
关键词:
Diagnostic Resolution;
Power-Assisted Diagnosis;
40.
Efficient minimization of test frequencies for linear analog circuits
机译:
高效地最小化线性模拟电路的测试频率
作者:
Bentobache Mohand
;
Bounceur Ahcene
;
Euler Reinhardt
;
Kieffer Yann
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2013年
关键词:
Analog circuit testing;
Consecutive-ones;
Interval graphs;
Linear programming;
Set covering problem;
41.
Implementing model redundancy in predictive alternate test to improve test confidence
机译:
在预测性替代测试中实现模型冗余以提高测试信心
作者:
Ayari Haithem
;
Azais Florence
;
Bernard Serge
;
Comte Mariane
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2013年
关键词:
Analog/RF integrated circuits;
Test;
alternate test;
prediction error;
test confidence;
42.
RF BIST and test strategy for the receive part of an RF transceiver in CMOS technology
机译:
CMOS技术中RF收发器接收部分的RF BIST和测试策略
作者:
Kelma Christophe
;
Darfeuille Sebastien
;
Neuburger Andreas
;
Lobnig Andreas
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2013年
43.
Hybrid 3D pre-bonding test framework design
机译:
混合3D预绑定测试框架设计
作者:
Chandran Unni
;
Zhao Dan
;
Jayabharathi Rathish
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2013年
44.
BIST architecture to detect defects in tsvs during pre-bond testing
机译:
BIST体系结构可在粘合前测试期间检测tsv中的缺陷
作者:
Arumi Daniel
;
Rodriguez-Montanes Rosa
;
Figueras Joan
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2013年
关键词:
3-D ICs;
TSVs;
bridging fault;
defect;
open fault;
pre-bond test;
45.
Test generation for circuits with embedded memories using SMT
机译:
使用SMT对具有嵌入式存储器的电路进行测试生成
作者:
Prabhu Sarvesh
;
Hsiao Michael S.
;
Lingappan Loganathan
;
Gangaram Vijay
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2013年
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