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Recombination lifetime measurements in silicon
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1.
Overview
机译:
总览
作者:
Dinesh Gupta
;
Fred R. Backer
;
William Hughes
会议名称:
《Recombination lifetime measurements in silicon》
|
1997年
2.
RECOMBINATION LIFETIMES IN SILICON
机译:
硅的重组寿命
作者:
Dieter K. Schroder
会议名称:
《Recombination lifetime measurements in silicon》
|
1997年
关键词:
silicon;
recombination lifetime;
minority carrier diffusion length;
bulk lifetime;
surface recombination;
surface recombination velocity;
iron;
3.
SILICON LIFETIME DEGRADATION AS A FUNCTION OF WET CHEMICAL CLEANS AND CHEMICAL PURITY
机译:
硅寿命退化与湿化学溶剂和化学纯度的关系
作者:
J. Linn
;
G. Rouse
;
W. Wereb
;
R. Leggett
;
S. Slasor
;
R Lowry
;
R Cameron
;
R. Canfield
会议名称:
《》
|
1997年
关键词:
silicon lifetime;
ELYMAT;
wet chemical process cleaning;
process chemical purity;
4.
CHARACTERISTICS AND EVALUATION METHODS OF CARRIER RECOMBINATION LIFETIMES IN HIGH-QUALITY SILICON WAFERS
机译:
高质量硅晶片中载流子复合寿命的特征和评估方法
作者:
Yutaka Kitagawara
;
Tomosuke Yoshida
;
Toko Koide
;
Yoshinori Hayamizu
会议名称:
《Recombination lifetime measurements in silicon》
|
1997年
关键词:
bulk lifetime;
photoconductive decay;
lifetime shift;
chemical passivation;
surface recombination velocities;
epitaxial layers;
p/p~+;
photoluminescence;
gettering;
5.
THE APPLICATION OF MINORITY CARRIER LIFETIME TECHNIQUES IN MODERN CZ SILICON
机译:
少数族裔生命周期技术在现代CZ硅中的应用
作者:
Robert Falster
;
Gabriella Borionetti
会议名称:
《Recombination lifetime measurements in silicon》
|
1997年
关键词:
minority carrier recombination lifetime;
czochralski silicon;
transition metals;
oxygen precipitation;
point defects;
6.
NON-CONTACT SILICON EPILAYER AND SUBSURFACE CHARACTERIZATION WITH UV/MM WAVE TECHNIQUE
机译:
UV / MM波技术对非接触硅外延层和表面的表征
作者:
Yoh-Ichiro Ogita
;
N. Tate
;
H. Masumura
;
M. Miyazaki
;
K. Yakushiji
会议名称:
《Recombination lifetime measurements in silicon》
|
1997年
关键词:
silicon epitaxial wafer;
carrier lifetime;
surface recombination velocity;
subsurface damage;
GOI;
mirror polishing;
CMP;
PCD;
millimeter wave;
7.
MEASUREMENT OF MINORITY CARRIER RECOMBINATION LIFETIME IN SILICON WAFERS BY MEASUREMENT OF PHOTOCONDUCTIVITY DECAY BY MICROWAVE REFLECTANCE :RESULT OF ROUND ROBIN TEST
机译:
用微波反射法测定光电导率衰减法测定硅晶片中少数载子重组寿命:循环法的结果
作者:
Morimasa Miyazaki
;
Kenichi Kawai
;
Masaya Ichimura
会议名称:
《Recombination lifetime measurements in silicon》
|
1997年
关键词:
microwave photoconductive decay method;
round robin test;
recombination lifetime;
primary mode lifetime;
1/e lifetime;
8.
RESULTS OF THE LIFETIME ROUND ROBINS DONE IN THE FRAMEWORK OF THE SEMI M6 SOLAR SILICON STANDARDIZATION TASK FORCE
机译:
在SEMI M6太阳能硅标准化任务框架中完成的终身圆形机器人测试结果
作者:
Axel G. Schoenecker
;
Wolfgang Koch
会议名称:
《》
|
1997年
关键词:
SEMI M6;
standardization;
solar silicon;
lifetime;
diffusion length;
round robin;
surface passivation;
measurement conditions;
9.
APPENDIX A SYNOPSIS OF THE PANEL DISCUSSIONS
机译:
附录A小组讨论提要
会议名称:
《Recombination lifetime measurements in silicon》
|
1997年
10.
NEW DEVELOPMENTS OF THE ELYMAT TECHNIQUE
机译:
Elymat技术的新发展
作者:
Peter Eichinger
会议名称:
《Recombination lifetime measurements in silicon》
|
1997年
关键词:
minority carrier recombination lifetime;
injection level;
ELYMAT tech-nique;
metal contamination;
oxygen precipitates;
surface recombination;
metal silicide;
11.
COMPARATIVE ANALYSIS OF PHOTOCONDUCTANCE DECAY AND SURFACE PHOTO VOLTAGE TECHNIQUES: THEORETICAL PERSPECTIVE AND EXPERIMENTAL EVIDENCE
机译:
光电导衰减与表面光电技术的比较分析:理论上和实验上的证据
作者:
Andrzej Buczkowski
会议名称:
《Recombination lifetime measurements in silicon》
|
1997年
关键词:
photoconductance decay;
surface photovoltage;
recombination lifetime;
surface recombination velocity;
bulk iron contamination;
12.
NON-CONTACT MEASUREMENTS OF THE MINORITY CARRIER RECOMBINATION LIFETIME AT THE SILICON SURFACE
机译:
硅表面少数载体重组寿命的非接触式测量
作者:
Etnil Kamieniecki
会议名称:
《Recombination lifetime measurements in silicon》
|
1997年
关键词:
carrier lifetime measurement;
recombination;
surface measurement;
silicon;
charge profiler;
13.
MONITORING OF SURFACE MINORITY CARRIER LIFETIME USING MODULATED PHOTOCURRENT
机译:
利用调制的光电流监测少数族裔载体的寿命
作者:
Sergey Liberman
会议名称:
《Recombination lifetime measurements in silicon》
|
1997年
关键词:
carrier lifetime;
recombination;
photovoltage;
contamination;
in-line measurements;
process control;
14.
SPATIAL NONUNIFORMITIES IN THE MINORITY-CARRIER DIFFUSION LENGTH/LIFETIME: MEASUREMENT AND IMPLICATIONS ON A LARGE-AREA DEVICE PERFORMANCE
机译:
少数族裔扩散长度/寿命中的空间不均匀性:大面积设备性能的测量和含义
作者:
Bhushan L. Sopori
;
Wei Chen
;
Marta Symko
会议名称:
《Recombination lifetime measurements in silicon》
|
1997年
关键词:
minority carrier lifetime;
diffusion length;
photovoltaic silicon;
surface recombination velocity;
15.
INFLUENCE OF METAL IMPURITIES ON LIFETIME
机译:
金属杂质对寿命的影响
作者:
Morimasa Miyazaki
会议名称:
《Recombination lifetime measurements in silicon》
|
1997年
关键词:
recombination lifetime;
generation lifetime;
micro wave photoconductive;
16.
CONTACTLESS FREQUENCY RESOLVED PHOTOCONDUCTANCE (FR-PC) MEASUREMENT OF IRON CONTAMINATED P-TYPE SILICON
机译:
铁污染的P型硅的电导率分辨分辨光电导(FR-PC)测量
作者:
Andrzej Romanowski
;
Andrzej Buczkowski
;
Abdenasser Karoui
;
George A.Rozgonyi
会议名称:
《Recombination lifetime measurements in silicon》
|
1997年
关键词:
laser microwave photoconductance decay;
μ-PCD;
FR-PC;
electron/hole lifetime;
surface recombination velocity;
recombination centers;
trapping centers;
17.
OPTIMIZATION AND CONTROL OF ELYMAT LIFETIME MEASUREMENT FOR USE IN A MANUFACTURING SETTING
机译:
制造环境中使用的Elymat寿命测量的优化和控制
作者:
Gail A. Keefe
;
William M. Hughes
会议名称:
《Recombination lifetime measurements in silicon》
|
1997年
关键词:
Elymat;
minority carrier lifetime;
measurement control;
18.
ASPECTS OF SILICON CONTAMINATION CONTROL BY LIFETIME
机译:
终身控制硅污染的方面
作者:
Guenther Zoth
会议名称:
《Recombination lifetime measurements in silicon》
|
1997年
关键词:
minority carrier diffusion length;
injection level;
charge carrier trapping;
photoconductive decay;
surface photovoltage;
Elymat;
Fe impurities;
oxygen precipitates;
19.
Minority Carrier Diffusion Length Degradation in Silicon:Who is the Culprit?
机译:
硅中的少数载流子扩散长度退化:谁是罪魁祸首?
作者:
E.R.Weber
;
A.A.Istratov
;
S.A.McHugo
;
H.Hieslmair
;
C.Flink
会议名称:
《Recombination lifetime measurements in silicon》
|
1997年
关键词:
silicon;
copper;
iron;
photovoltaics;
microdefects;
SPV;
20.
INFLUENCE OF IRON AND COPPER ON MINORITY CARRIER RECOMBINATION LIFETIME IN SILICON
机译:
铁和铜对硅中少数载流子复合寿命的影响
作者:
Armin Kempf
;
Peter Bloechl
;
Alois Huber
;
Laszlo Fabry
;
Lars Meinecke
会议名称:
《Recombination lifetime measurements in silicon》
|
1997年
关键词:
carrier lifetime;
recombination;
silicon;
μ-PCD;
iron;
copper;
21.
OXYGEN PRECIPITATION CHARACTERIZATION USING THE ELYMAT TECHNIQUE
机译:
使用Elymat技术进行氧气沉淀表征
作者:
Guenther Obermeier
;
Juergen Hage
;
Diethard Huber
会议名称:
《Recombination lifetime measurements in silicon》
|
1997年
关键词:
ELYMAT technique;
oxygen precipitation;
denuded zone;
diffusion length;
injection level;
22.
METALLIC CONTAMINATION FROM WAFER HANDLING
机译:
晶圆处理产生的金属污染
作者:
Felix Beaudoin
;
Martine Simard-Normandin
;
Michel Meunier
会议名称:
《Recombination lifetime measurements in silicon》
|
1997年
关键词:
microcontamination;
metallic contamination;
iron contamination;
particle contamination;
surface photovoltage;
wafer handling;
23.
APPLICATION AND COMPARISON OF SPV AND μPCD FOR IRON MEASUREMENT IN SILICON WAFER MANUFACTURING
机译:
SPV和μPCD在硅晶片制造中铁含量测量中的应用与比较
作者:
Yi Pan
会议名称:
《Recombination lifetime measurements in silicon》
|
1997年
关键词:
minority carrier lifetime;
diffusion length;
μ-PCD;
SPV;
iron in silicon;
24.
PROBLEMS AND POSSIBILITIES OF COMPARING DIFFERENT LIFETIME MEASURING INSTRUMENTS AND TECHNIQUES
机译:
比较各种寿命测量仪器和技术的问题和可能性
作者:
Tibor Pavelka
会议名称:
《Recombination lifetime measurements in silicon》
|
1997年
关键词:
carrier lifetime;
SPV;
μ-PCD;
injection level;
surface recombination;
surface passivation;
25.
EFFECTS OF SAMPLE INHOMOGENEITY AND GEOMETRY ON PHOTOCONDUCTIVITY DECAY
机译:
样品非均质性和几何形状对光电导衰减的影响
作者:
Tihu Wang
;
Ted F. Ciszek
会议名称:
《Recombination lifetime measurements in silicon》
|
1997年
关键词:
excess carrier recombination;
numeric simulation;
finite element method;
inhomogeneity effect;
geometry effect;
photoconductivity decay;
multicrystals;
wafers;
26.
LIFETIME MEASURED BY LOW INJECTION LEVEL μ-PCD TECHNIQUE
机译:
低注射量μ-PCD技术可测量使用寿命
作者:
Carsten Swiatkowski
会议名称:
《Recombination lifetime measurements in silicon》
|
1997年
关键词:
microwave photoconductive decay;
Corona charge;
recombination lifetime;
surface passivation;
silicon;
Fe-B;
27.
Recombination Lifetime Variations and Defect Introduction by Rapid Thermal Processing
机译:
重组寿命变化和通过快速热处理引入缺陷
作者:
Abdenasser Karoui
;
Qiang Zhang
;
Andrezj Romanowski
;
George A. Rozgonyi
;
Peter Rushbrook
;
Jean Francois Daviet
会议名称:
《Recombination lifetime measurements in silicon》
|
1997年
关键词:
laser microwave photoconductance decay;
LM-PCD;
X-ray topography;
XRT;
Rapid Thermal Processing;
RTP;
low lifetime spots;
slip dislocations;
decontamination monitoring;
28.
The Optical Excitation Effect in Transition Metal Doped CZ Silicon Wafers Revealed by the Microwave Photoconductive Decay Lifetime Measurement
机译:
微波光导衰变寿命测量显示的过渡金属掺杂CZ硅晶片的光激发效应
作者:
Kazunari Kurita
;
Takayuki Shingyouji
会议名称:
《Recombination lifetime measurements in silicon》
|
1997年
关键词:
light illumination;
recombination lifetime;
injection level;
Fe-B;
29.
APPLICATION OF RECOMBINATION LIFETIME MEASUREMENTS IN SILICON WAFER MANUFACTURING
机译:
重组寿命测量在硅晶圆制造中的应用
作者:
Michael R. Seacrist
会议名称:
《Recombination lifetime measurements in silicon》
|
1997年
关键词:
silicon;
recombination lifetime;
transition metals;
crystal growth;
thermal processing;
wafer cleaning;
30.
PRESENT STATUS OF THE SURFACE PHOTO VOLTAGE METHOD (SPV) FOR MEASURING MINORITY CARRIER DIFFUSION LENGTH AND RELATED PARAMETERS
机译:
测量少数载流子扩散长度及相关参数的表面光电压法(SPV)的现状
作者:
Jacek Lagowski
;
Piotr Edelman
;
Vladimir Faifer
会议名称:
《Recombination lifetime measurements in silicon》
|
1997年
关键词:
surface photovoltage;
minority carrier diffusion length;
iron contamination;
recombination lifetime;
31.
CARRIER LIFETIME MEASUREMENTS BY MICROWAVE PHOTO-CONDUCTIVITY DECAY METHOD
机译:
微波光电导衰减法测量载体寿命
作者:
Hidehisa Hashizume
;
Shingo Sumie
;
Yasuhide Nakai
会议名称:
《Recombination lifetime measurements in silicon》
|
1997年
关键词:
recombination lifetime;
photo-conductivity decay;
μ PCD;
iron;
molybdenum;
interface trap density;
silicon;
epitaxial;
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