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Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium
Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium
召开年:
2020
召开地:
Reno(US)
出版时间:
-
会议文集:
-
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1.
ESD Protection Diodes in Sub-5nm Gate-All-Around Nanosheet Technologies
机译:
5nm以下全栅纳米片技术中的ESD保护二极管
作者:
Shih-Hung Chen
;
Anabela Veloso
;
Hans Mertens
;
Geert Hellings
;
Marko Simicic
;
Wen-Chieh Chen
;
Wei-Min Wu
;
Kateryna Serbulova
;
Dimitri Linten
;
Naoto Horiguchi
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2020年
2.
Optimization of Wafer-Level Low-Impedance Contact CDM Testers
机译:
晶圆级低阻抗接触式CDM测试仪的优化
作者:
Marko Simicic
;
Wei-Min WU
;
Nathan Jack
;
Shinichi Tamura
;
Yohei Shimada
;
Masanori Sawada
;
Shih-Hung Chen
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2020年
3.
Shielding Effectiveness of ESD Protective Packaging
机译:
防静电包装的屏蔽效能
作者:
John Werner
;
Piyush Kashyap
;
John Kinnear
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2020年
4.
Novel ESD Compact Modeling Methodology Using Machine Learning Techniques
机译:
使用机器学习技术的新型ESD紧凑建模方法
作者:
Wei Liang
;
Xuejiao Yang
;
Alain Loiseau
;
Souvick Mitra
;
Robert Gauthier
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2020年
5.
A New Current Probe for Measuring Transient Events Under Data Traffic
机译:
一种用于测量数据流量下瞬态事件的新型电流探头
作者:
Omid Hoseini Izadi
;
David Pommerenke
;
DongHyun Kim
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2020年
6.
Impact of Alternative CDM Methods on HV ESD Protections Behavior
机译:
CDM替代方法对高压ESD保护行为的影响
作者:
Leonardo Di Biccari
;
Andrea Boroni
;
Alessandro Castelnovo
;
Lucia Zullino
;
Lorenzo Cerati
;
Heinrich Wolf
;
Johannes Weber
;
Antonio Andreini
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2020年
7.
Understanding ESD Characteristics of GGNMOS in Bulk FinFET Technology
机译:
了解大容量FinFET技术中GGNMOS的ESD特性
作者:
Wen-Chieh Chen
;
Shih-Hung Chen
;
Geert Hellings
;
Thomas Chiarella
;
Jie Chen
;
Sujith Subramanian
;
Yong Kong Siew
;
Dimitri Linten
;
Guido Groeseneken
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2020年
8.
3D TCAD studies of Snapback Driven Failure in Punch-through TVS Diodes under System Level ESD Stress Conditions
机译:
系统级ESD应力条件下穿通TVS二极管的回跳驱动故障的3D TCAD研究
作者:
Jhnanesh Somayaji B
;
Monishmurali
;
Ajay Singh
;
N Kranthi K
;
Mayank Shrivastava
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2020年
9.
A Thin Film Storage Device to Characterize the CDM Event Distribution of a Process
机译:
用于表征过程的CDM事件分布的薄膜存储设备
作者:
Matt Lauderdale
;
Emmanuel Onyegam
;
Brad Smith
;
Jane Yater
;
Scott Ruth
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2020年
10.
Hot Plug-in: Test Method and HV Active Clamps
机译:
热插拔:测试方法和高压有源钳
作者:
Vladislav Vashchenko
;
David Marreiro
;
Slavica Malobabic
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2020年
11.
Open-relay Tester Capacitance Parasitic Induced Product Level HBM Failure with ESD Proven IP in FinFET Technology
机译:
FinFET技术中具有ESD可靠IP的开路继电器测试仪电容寄生引起的产品级HBM故障
作者:
Tao-Yi Hung
;
Li-Wei Chu
;
Paul Lee
;
Wei-Chao Chang
;
Ming-Fu Tsai
;
Wun-Jie Lin
;
Jam-Wem Lee
;
Chris Wang
;
Kuo-Ji Chen
;
Ming-Hsiang Song
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2020年
12.
Analytical Model and Verification Algorithm to Prevent Injection Induced Latchup Failures
机译:
防止喷射引起的闩锁故障的分析模型和验证算法
作者:
David Marreiro
;
Slavica Malobabic
;
Vladislav Vashchenko
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2020年
13.
Damage to ElectroStatic Discharge Sensitive Electronic Devices by Changing Electrostatic Fields
机译:
静电场的变化会损坏静电放电敏感电子设备
作者:
Jeremy Smallwood
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2020年
14.
Charged Device Model (CDM) and Capacitive Coupled Transmission Line Pulsing (CC-TLP) Stress Severity Study on RF IC's
机译:
RF IC的充电设备模型(CDM)和电容耦合传输线脉冲(CC-TLP)应力严重性研究
作者:
Dolphin Abessolo-Bidzo
;
Johannes Weber
;
Victoria Kiriliouk
;
Heinrich Wolf
;
Sheela Verwoerd
;
Ellen Jirutková
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2020年
15.
Clarification and Countermeasures of Electrostatic Discharge in High-Pressure Spray Cleaning During Flat-Panel Display Manufacturing
机译:
平板显示器制造过程中高压喷雾清洗中静电放电的澄清和对策
作者:
Yoshiyuki Seike
;
Yasuaki Fukuoka
;
Tatsuo Mori
;
Taishi Segawa
;
Yoshinori Kobayashi
;
Keiji Miyachi
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2020年
16.
A Relay Discharged FICDM Method for Improved Repeatability
机译:
中继放电FICDM方法可提高重复性
作者:
Matthew Drallmeier
;
Lena Zeitlhoefler
;
Huiping Yang
;
Wei Huang
;
Friedrich zur Nieden
;
David Pommerenke
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2020年
17.
Slow Turn-Off Optimization of CMOS ESD NAND Clamp to Eliminate Fly-Back Damage During Unlatch
机译:
CMOS ESD NAND钳位的缓慢关断优化可消除解锁期间的反激式损坏
作者:
Divya Acharya
;
Nathaniel Peachey
;
Stephen Franck
;
Emilio Ruiz-Linares
;
Jian Liu
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2020年
18.
ESD Characterization and Modeling of Cascoded, Silicided FETs in a 22nm FDSOI Technology
机译:
22nm FDSOI技术中的级联硅化物FET的ESD表征和建模
作者:
Alain Loiseau
;
Xuejiao Yang
;
Anindya Nath
;
Souvick Mitra
;
John Forguites
;
Michael Fortney
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2020年
19.
Empirical ESD Modeling of Multi-Gate ESD Transistors
机译:
多门ESD晶体管的经验ESD建模
作者:
Efraim Aharoni
;
Avi Parvin
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2020年
20.
Technical Program Committee 2020
机译:
2020年技术计划委员会
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2020年
21.
Understanding Electrostatic Field Meter Field and Voltage Measurements from Conductors and Insulators
机译:
了解静电场计从导体和绝缘子进行的场和电压测量
作者:
Jeremy Smallwood
;
Nicolas G. Green
;
Kelly Robinson
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2020年
22.
Physics of Dynamic Current Filament Spreading in Silicon Controlled Rectifiers under ESD Stress
机译:
ESD应力下可控硅整流器中动态电流灯丝的扩散物理
作者:
Om Kesharwani
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2020年
23.
Addressing Latch-up Verification Challenges of 2.5D/3D Technologies
机译:
应对2.5D / 3D技术的闩锁验证挑战
作者:
Dina Medhat
;
Mohamed Dessouky
;
DiaaEldin Khalil
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2020年
24.
General Chair Letter
机译:
董事长致辞
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2020年
25.
Balancing the Trade-off Between Performance and Mis-trigger Immunity in Active Feedback-based High-voltage Tolerant Power Clamps
机译:
平衡基于主动反馈的耐高压电源钳的性能和误触发抗扰度之间的权衡
作者:
Alex Ayling
;
Javier Salcedo
;
Srivatsan Parthasarathy
;
Jean-Jacques Hajjar
;
Elyse Rosenbaum
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2020年
26.
Increased Latch-up Susceptibility of ICs Using Reverse Body Bias
机译:
使用反向身体偏置增加IC的闩锁敏感性
作者:
Sandeep Vora
;
Michael Stockinger
;
Elyse Rosenbaum
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2020年
27.
Insights into the System-Level IEC ESD Failure in High Voltage DeNMOS-SCR for Automotive Applications
机译:
汽车应用高压DeNMOS-SCR中系统级IEC ESD失效的见解
作者:
Nagothu Karmel Kranthi
;
James di Sarro
;
Rajkumar Sankaralingam
;
Gianluca Boselli
;
Mayank Shrivastava
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2020年
28.
Efficient ESD Generator Modeling Using Reinforcement Learning
机译:
使用强化学习的高效ESD生成器建模
作者:
Akhilesh Kumar
;
En-Cih Yang
;
Ming-Chih Shih
;
Ying-Shiun Li
;
Wen-Tze Chuang
;
Norman Chang
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2020年
29.
Ultrafast RVS as an Efficient Method to Measure Oxide Breakdown in the EOS and ESD Time Domain
机译:
超快速RVS是在EOS和ESD时域中测量氧化物击穿的有效方法
作者:
Simon Van Beek
;
Marko Simicic
;
Jacopo Franco
;
Shih-Hung Chen
;
Dimitri Linten
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2020年
30.
Latchup Test Structure Optimization in Advanced CMOS Technologies
机译:
先进CMOS技术中的闩锁测试结构优化
作者:
Collin Reiman
;
Nathan Jack
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2020年
31.
Spectral Analysis of IEC Generators for System Level Testing of RF Components
机译:
IEC发生器的频谱分析,用于射频组件的系统级测试
作者:
Kathleen Muhonen
;
Luis Perez
;
Nathaniel Peachey
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2020年
32.
An Experimentally Verified Methodology for Calculating Coaxial Cable Loss Effects on CDM Waveforms
机译:
计算CDM波形上同轴电缆损耗影响的实验验证方法
作者:
Peyman Ensaf
;
Timothy J. Maloney
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2020年
33.
Study of Inter-Power Domain Failures during a CDM Event
机译:
CDM事件期间电源域间故障的研究
作者:
Chloé Troussier
;
Johan Bourgeat
;
Emmanuel Simeu
;
Jean-Daniel Arnould
;
Jean Jimenez
;
Blaise Jacquier
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2020年
34.
A physical finite difference model of a forward biased diode using SPICE
机译:
使用SPICE的正向偏置二极管的物理有限差分模型
作者:
Steffen Holland
会议名称:
《》
|
2020年
35.
Race Conditions Among Protection Devices for a High Speed I/O Interface
机译:
高速I / O接口的保护设备之间的竞争状况
作者:
Jianchi Zhou
;
Javad Meiguni
;
Sergej Bub
;
Steffen Holland
;
Guido Notermans
;
Yang Xu
;
Giorgi Maghlakelidze
;
David Pommerenke
;
Daryl Beetner
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2020年
36.
Measuring the Body Voltage While Performing the Walking Test
机译:
进行步行测试时测量身体电压
作者:
Magdalena Hilkersberger
;
Reinhold Gärtner
;
Wolfgang Stadler
;
Josef Niemesheim
;
Jürgen Speicher
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2020年
37.
Electromagnetic Shielding Effectiveness of Conductive Compounds
机译:
导电化合物的电磁屏蔽效能
作者:
Toni Viheriäkoski
;
Jan Järveläinen
;
Pasi Tamminen
;
Jeremy Smallwood
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2020年
38.
Statistical Characterization of ESD through Solder Paste
机译:
通过焊膏对ESD进行统计表征
作者:
Junsoo Paek
;
Rita Fung
;
Richard Wong
;
Geronimo Filippini
;
Jeff Kendo
;
Allen Zhao
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2020年
39.
Pitfalls for Transient Analysis with VF-TLP
机译:
使用VF-TLP进行瞬态分析的陷阱
作者:
Theo Smedes
;
Mart Coenen
;
Sander Sluiter
;
Paul Cappon
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2020年
40.
Workshop and Panel Discussions 4 abstracts
机译:
研讨会和小组讨论4摘要
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2020年
41.
Transmission Line Pulse (TLP) Statistical Characterization Approach
机译:
传输线脉冲(TLP)统计表征方法
作者:
L. Merlo
;
L. Di Biccari
;
A. Castelnovo
;
L. Cerati
;
A. Boroni
;
A. Martino
;
A. Andreini
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2020年
42.
Cable Discharge Event Simulation and Measurement Methods
机译:
电缆放电事件模拟与测量方法
作者:
Pasi Tamminen
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2020年
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