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IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems
IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems
召开年:
2020
召开地:
Frascati(IT)
出版时间:
-
会议文集:
-
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1.
Experimental study and analysis of soft and permanent errors in digital cameras
机译:
数码相机软和永久性误差的实验研究与分析
作者:
Glenn H. Chapman
;
Rahul Thomas
;
Rohan Thomas
;
Israel Koren
;
Zahava Koren
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2016年
关键词:
Integrated circuits;
Sensors;
Digital cameras;
Digital images;
ISO;
Single event upsets;
2.
Error recovery through partial value similarity
机译:
通过部分值相似性恢复错误
作者:
Abdulaziz Eker
;
Oguz Ergin
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2016年
关键词:
Registers;
Error correction;
Hamming distance;
Program processors;
Error correction codes;
Parity check codes;
Reliability;
3.
Reliable PUF design using failure patterns from time-controlled power gating
机译:
可靠的PUF设计使用来自时控功率门控的故障模式
作者:
Xiaolin Xu
;
Daniel E. Holcomb
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2016年
关键词:
Voltage control;
Random access memory;
Switching circuits;
Transistors;
Field programmable gate arrays;
Reliability;
Logic gates;
4.
Low cost resilient regular expression matching on FPGAs
机译:
在FPGA上的低成本弹性正则表达式匹配
作者:
Marcos T. Leipnitz
;
Eduardo Nunes de Souza
;
Gabriel L. Nazar
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2016年
关键词:
Field programmable gate arrays;
Fault tolerance;
Fault tolerant systems;
Hardware;
Throughput;
Tunneling magnetoresistance;
Clocks;
5.
Cross-layer fault-tolerant design of real-time systems
机译:
实时系统的交叉层容错设计
作者:
Siva Satyendra Sahoo
;
Bharadwaj Veeravalli
;
Akash Kumar
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2016年
关键词:
Lead;
Fault tolerance;
Fault tolerant systems;
6.
Fault-tolerant scheduling of multicore mixed-criticality systems under permanent failures
机译:
永久性故障下多核混合关键系统的容错调度
作者:
Zaid Al-bayati
;
Brett H. Meyer
;
Haibo Zeng
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2016年
关键词:
Program processors;
Standards;
Reliability;
Time factors;
Multicore processing;
Transient analysis;
Real-time systems;
7.
Effects of online fault detection mechanisms on Probabilistic Timing Analysis
机译:
在线故障检测机制对概率定时分析的影响
作者:
Chao Chen
;
Jacopo Panerati
;
Giovanni Beltrame
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2016年
关键词:
Biological system modeling;
Silicon;
Hidden Markov models;
Benchmark testing;
Reliability;
8.
Side channel attacks on STTRAM and low-overhead countermeasures
机译:
对STTRAM和低开销对策的侧频攻击
作者:
Anirudh Iyengar
;
Swaroop Ghosh
;
Nitin Rathi
;
Helia Naeimi
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2016年
关键词:
Magnetic tunneling;
Thermal stability;
Resistance;
Monitoring;
Arrays;
Data privacy;
Temperature dependence;
9.
Soft error vulnerability assessment of the real-time safety-related ARM Cortex-R5 CPU
机译:
软错误漏洞评估实时安全相关的ARM Cortex-R5 CPU
作者:
Xabier Iturbe
;
Balaji Venu
;
Emre Ozer
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2016年
关键词:
Circuit faults;
Registers;
Benchmark testing;
Computer architecture;
Ports (Computers);
Clocks;
Real-time systems;
10.
CoBRA: Low cost compensation of TSV failures in 3D-NoC
机译:
眼镜蛇:3D-NOC中TSV失败的低成本补偿
作者:
Ronak Salamat
;
Masoumeh Ebrahimi
;
Nader Bagherzadeh
;
Freek Verbeek
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2016年
关键词:
Through-silicon vias;
Routing;
Elevators;
System recovery;
Fault tolerance;
Fault tolerant systems;
Algorithm design and analysis;
11.
Modeling SRAM start-up behavior for Physical Unclonable Functions
机译:
模拟SRAM启动行为的物理不可渗透功能
作者:
Cortez Mafalda
;
Dargar Apurva
;
Hamdioui Said
;
Schrijen Geert-Jan
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2012年
12.
#SAT-based vulnerability analysis of security components — A case study
机译:
#基于SAT的漏洞分析安全组件 - 以案例研究
作者:
Feiten Linus
;
Sauer Matthias
;
Schubert Tobias
;
Czutro Alexander
;
Bohl Eberhard
;
Polian Ilia
;
Becker Bernd
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2012年
13.
Improving small-delay fault coverage for on-chip delay measurement
机译:
提高片上延迟测量的小延迟故障覆盖
作者:
Zhang Wenpo
;
Namba Kazuteru
;
Ito Hideo
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2012年
14.
On the development of Software-Based Self-Test methods for VLIW processors
机译:
关于VLIW处理器的软件自检方法的开发
作者:
Sabena D.
;
Reorda M. Sonza
;
Sterpone L.
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2012年
15.
On the design of two single event tolerant slave latches for scan delay testing
机译:
关于扫描延迟测试的两个单个事件容忍从锁存器的设计
作者:
Lu Yang
;
Lombardi Fabrizio
;
Pontarelli Salvatore
;
Ottavi Marco
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2012年
16.
A mechanism to verify cache coherence transactions in multicore systems
机译:
一种验证多核系统中缓存一致性交易的机制
作者:
Rodrigues Rance
;
Koren Israel
;
Kundu Sandip
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2012年
17.
Transient pulse propagation using the Weibull distribution function
机译:
使用Weibull分布函数的瞬态脉冲传播
作者:
Watkins Adam
;
Tragoudas Spyros
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2012年
18.
Prediction of gate delay variation for CNFET under CNT density variation
机译:
CNT密度变化下CNFET的栅极延迟变化预测
作者:
Shahi Ali Arabi M.
;
Zarkesh-Ha Payman
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2012年
19.
Hardening a memory cell for low power operation by gate leakage reduction
机译:
通过栅极泄漏减少硬化用于低功耗操作的存储器单元
作者:
Gong Jianping
;
Kim Yong-Bin
;
Lombardi Fabrizio
;
Han Jie
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2012年
20.
Accurate simulation of SEUs in the configuration memory of SRAM-based FPGAs
机译:
基于SRAM的FPGA配置存储器中SEU的精确模拟
作者:
Bernardeschi Cinzia
;
Cassano Luca
;
Domenici Andrea
;
Sterpone Luca
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2012年
21.
On the multiple fault detection of a nano crossbar
机译:
关于纳米横杆的多个故障检测
作者:
Lombardi Fabrizio
;
Park Nohpill
;
Almurib Haider A. F.
;
Kumar T. Nandha
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2012年
22.
Path-delay fingerprinting for identification of recovered ICs
机译:
用于识别恢复IC的路径延迟指纹识别
作者:
Zhang Xuehui
;
Xiao Kan
;
Tehranipoor Mohammad
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2012年
23.
Low pin count DfT technique for RFID ICs
机译:
RFID IC的低引脚数DFT技术
作者:
de Souza Moraes Marcelo
;
Herve Marcos Barcellos
;
Lubaszewski Marcelo Soares
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2012年
24.
Optimal choice of arithmetic compactors for mixed-signal systems
机译:
混合信号系统的算术压实机的最佳选择
作者:
Geurkov Vadim
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2012年
25.
A scan-based attack on Elliptic Curve Cryptosystems in presence of industrial Design-for-Testability structures
机译:
基于扫描的椭圆曲线密码系统存在于工业设计的可测试性结构的存在
作者:
Da Rolt Jean
;
Das Amitabh
;
Di Natale Giorgio
;
Flottes Mane-Lise
;
Rouzeyre Bruno
;
Verbauwhede Ingrid
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2012年
26.
Built-in generation of multi-cycle broadside tests
机译:
内置生成多周期广角测试
作者:
Pomeranz Irith
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2012年
27.
Dual-edge-triggered FF with timing error detection capability
机译:
具有定时错误检测能力的双边触发FF
作者:
Namba Kazuteru
;
Katagiri Takashi
;
Ito Hideo
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2012年
28.
Dirty data vulnerability mitigation by means of sharing management in cache coherence protocols
机译:
通过共享管理中的缓存一致性协议共享管理脏数据漏洞缓解
作者:
Maghsoudloo Mohammad
;
Zarandi Hamid R.
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2012年
29.
High-reliability fault tolerant digital systems in nanometric technologies: Characterization and design methodologies
机译:
纳米型技术高可靠性容错数字系统:表征和设计方法
作者:
Bolchini C.
;
Miele A.
;
Sandionigi C.
;
Ottavi M.
;
Pontarelli S.
;
Salsano A.
;
Metra C.
;
Omana M.
;
Rossi D.
;
Reorda M. Sonza
;
Sterpone L.
;
Violante M.
;
Gerardin S.
;
Bagatin M.
;
Paccagnella A.
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2012年
30.
Accurate calculation of SET propagation probability for hardening
机译:
精确计算硬化的集合传播概率
作者:
Gangadhar Sreenivas
;
Tragoudas Spyros
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2012年
31.
An on-line soft error mitigation technique for control logic of VLIW processors
机译:
VLIW处理器控制逻辑的在线软错误缓解技术
作者:
Rohani Alireza
;
Kerkhoff Hans G.
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2012年
32.
Single event upset tolerance in flip-flop based microprocessor cores
机译:
触发器基础微处理器芯中的单一事件镦粗耐受性
作者:
Valadimas Stefanos
;
Tsiatouhas Yiorgos
;
Arapoyanni Angela
;
Evans Adrian
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2012年
33.
Software exploitable hardware Trojans in embedded processor
机译:
软件在嵌入式处理器中可利用硬件特洛伊木马
作者:
Wang Xinmu
;
Mal-Sarkar Tatini
;
Krishna Aswin
;
Narasimhan Seetharam
;
Bhunia Swarup
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2012年
34.
Generation and compaction of mixed broadside and skewed-load n-detection test sets for transition faults
机译:
混合宽边和偏斜负荷N检测试验组的生成和压实用于过渡故障
作者:
Pomeranz Irith
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2012年
35.
Dependable routing in multi-chip NoC platforms for automotive applications
机译:
用于汽车应用的多芯片NOC平台的可靠路由
作者:
Yoneda Tomohiro
;
Imai Masashi
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2012年
36.
A novel pseudonoise tester for transmission line fault location and identification using pseudorandom binary sequences
机译:
一种新型伪音测试仪,用于传输线路故障位置和使用伪随机二进制序列的识别
作者:
Guinee Richard A.
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2012年
37.
Implementing defect tolerance in 3D-ICs by exploiting degrees of freedom in assembly
机译:
通过利用组装自由度来实现3D-ICS中的缺陷公差
作者:
Rab M. Tauseef
;
Bawa Asad
;
Touba Nur A.
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2012年
38.
A low overhead built-in delay testing with voltage and frequency adaptation for variation resilience
机译:
具有用于变化弹性的电压和频率适应的低开销延迟测试
作者:
Shim Kyu-Nam
;
Hu Jiang
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2012年
39.
Incorporating parameter variations in BTI impact on nano-scale logical gates analysis
机译:
在纳米尺度逻辑门分析中纳入参数变化对纳米尺度逻辑栅极分析的影响
作者:
Khan Seyab
;
Hamdioui Said
;
Kukner Halil
;
Raghavan Praveen
;
Catthoor Francky
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2012年
40.
Relating digital imager defect rates to pixel size, sensor area and ISO
机译:
将数字成像器缺陷率与像素大小,传感器区域和ISO相关联
作者:
Chapman Glenn H.
;
Thomas Rohit
;
Koren Israel
;
Koren Zahava
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2012年
41.
Amalgamated q-ary codes for multi-level flash memories
机译:
用于多级闪存的Q-ary代码
作者:
Manzor Yifat
;
Keren Osnat
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2012年
42.
Parametric counterfeit IC detection via Support Vector Machines
机译:
参数伪造IC检测通过支持向量机
作者:
Huang Ke
;
Carulli John M
;
Makris Yiorgos
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2012年
43.
Maintaining proximity to functional operation conditions under enhanced-scan tests based on functional broadside tests
机译:
基于功能宽边测试,维持在增强扫描测试下的功能运行条件的邻近
作者:
Pomeranz Irith
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2012年
44.
Minimization of Trojan footprint by reducing Delay/Area impact
机译:
通过减少延迟/区域影响,最小化特洛伊木马足迹
作者:
Rahmatian Mehryar
;
Kooti Hessam
;
Harris Ian G.
;
Bozorgzadeh Elaheh
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2012年
45.
Using partial masking in X-chains to increase output compaction for an X-canceling MISR
机译:
在X-Chains中使用部分屏蔽以增加输出压实的X消除MISR
作者:
Bawa Asad A.
;
Rab M. Tauseef
;
Touba Nur A.
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2012年
46.
Designing and implementing a Malicious 8051 processor
机译:
设计和实现恶意8051处理器
作者:
Santos Juan Carlos Martinez
;
Fei Yunsi
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2012年
47.
Exploring hardware transaction processing for reliable computing in chip-multiprocessors against soft errors
机译:
探索软件交易处理,以便对软误差进行芯片多处理器的可靠计算
作者:
Zheng Chuanlei
;
Shukla Parijat
;
Wang Shuai
;
Hu Jie
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2012年
48.
Using the Berlekamp-Massey algorithm to obtain LFSR characteristic polynomials for TPG
机译:
使用Berlekamp-Massey算法获取TPG的LFSR特征多项式
作者:
Acevedo Oscar
;
Kagaris Dimitri
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2012年
49.
Fast single-FPGA fault injection platform
机译:
快速单FPGA故障注入平台
作者:
Nazar Gabriel L.
;
Carro Luigi
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2012年
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