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Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium

召开年：1999
召开地：Orlando, FL(US)
出版时间：-

会议文集：-

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1.Electrostatic and ESD in magnetic recording

机译：磁记录中的静电和ESD
- 作者：Al Wallash
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
2.ESD control program-audit problem

机译：ESD控制程序审核问题
- 作者：Larry Fromm;Ron Gibson;Ted Dangelmayer;David E.Swenson;Dale Parkin
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
3.ESD in cleanrooms

机译：洁净室中的ESD
- 作者：Tom Albano;Vaughn Gross;Arnold Steinman;Gene Williams;Jay Hamlin
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
4.ESD Material and reliability workshop

机译：ESD材料与可靠性研讨会
- 作者：Richard Haynes;Doung Smith;Joseph T.Morrison;Neil Hardwick;Keith W.Donaldson;Stephen L.Thompson;Bob Benson;Dave Swenson
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
5.ESD Testing of high-pin count devices

机译：高引脚数设备的ESD测试
- 作者：Warren Anderson;Bill Bottoms;Colin Hatchard;Leo G.Henry;Tom Meuse
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
6.Failure mechanisms and s olutions for on-chip circuits and ESD networks

机译：片上电路和ESD网络的故障机制和解决方案
- 作者：Yehuda Smooha;Charvaka Duvvury;Koen Verhaege;Horst Gieser
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
7.Failure mechanisms and solutions for on-chip circuits and ESD networks

机译：片上电路和ESD网络的故障机制和解决方案
- 作者：Steve Voldman;Yehuda Smooha;Charvaka Duvvury;Koen Verhaege;Horst Gieser
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
8.On-chip protection

机译：片上保护
- 作者：Eugene Worley;Ajith Amerasekera;Warren Anderson;Tim Maloney;Steve Voldman
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
9.System level ESD considerations

机译：系统级ESD注意事项
- 作者：Doug Smith
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
10.Workshop and panel discussions

机译：研讨会和小组讨论
- 作者：Worksho Chairman;Michael Chaine;Micron Technology
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
11.ESD protection of GMR heads in manufacturing

机译：制造中GMR磁头的ESD保护
- 作者：Fu Jin Wu;xiao Min Wang;Robin Zeng;Hong Tian
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
12.Field and ESD risk from charged object introduction into hard drives

机译：带电物体引入硬盘驱动器的现场和ESD风险
- 作者：Bert Perry
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
13.Conductive floor and footwear system as primary protection against human body model ESD event

机译：导电地板和鞋类系统是针对人体模型ESD事件的主要保护
- 作者：Seng Lim
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
14.Development of accelerated aging test for ESD/EMI protective materials and electrical discontinuity at seams and interconnections

机译：针对ESD / EMI保护材料以及接缝和互连处的电中断的加速老化测试的开发
- 作者：Richard Haynes
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
15.Electrostatic test methods compared

机译：静电测试方法比较
- 作者：Dr.R.Gompf;P.Holdstock;Dr.J.Chubb
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
16.ESD Damage of GMR sensors at head stack assembly

机译：磁头堆栈组件上GMR传感器的ESD损坏
- 作者：Robin Zeng;Yu Qun;Fenggang Zhao;Hong Tian
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
17.ESD testing of head stack assemblies used in magnetic recording hard disk drives

机译：磁记录硬盘驱动器中使用的磁头堆栈组件的ESD测试
- 作者：Albert Wallash
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
18.A study of ESD induced lockups in a semiconductor photolithgraphy area

机译：ESD引起的半导体光刻区域锁定的研究
- 作者：Roderick Ford-Smith;Hardold Barnett;Goege Leal;Gary Sutorius
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
19.Plasma-charging damage and ESD, help each other?

机译：等离子充电损坏和ESD是否互相帮助？
- 作者：Kin P.Cheung
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
20.Unusual forms of ESD and their effects

机译：ESD的异常形式及其影响
- 作者：Douglas C.Smith
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
21.Effects of aging, wiping and humidity on surface resistivity of polyethylene and polypropylene boxes

机译：老化，擦拭和湿度对聚乙烯和聚丙烯盒表面电阻率的影响
- 作者：Tom Lesniewski
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
22.Electrostatic discharge (ESD) mechanism for battery charge contact failure in cordless phones

机译：静电放电（ESD）机制可解决无绳电话中电池充电接触不良的问题
- 作者：Richard J.Coyle;Min-Chung Jon
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
23.ESD damage by directly arcing to a MR head

机译：直接向MR磁头放电会造成ESD损坏
- 作者：Li-Yan Zhu
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
24.ESD performance optimization of ballast resistor on power AlGaAs/GaAs heterojunction bipolar transistor technology

机译：基于功率AlGaAs / GaAs异质结双极晶体管技术的镇流电阻的ESD性能优化
- 作者：Charles Y.Chu;G.P.Li
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
25.ESD testing of GMR heads as a function of temperature

机译：GMR磁头的ESD测试与温度的关系
- 作者：Chris Moore;Albert Wallash
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
26.Measurement of ionizer performance-a new approach

机译：电离器性能的测量-一种新方法
- 作者：Larry B.Levit;Gaurisha Gajjar Desai;William Vosteen
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
27.A study of diode protection for giant magnetoresistive recording heads

机译：巨型磁阻记录头的二极管保护研究
- 作者：Al Wallash;Wenwei Wang
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
28.Using HGA antennas to measure EMI; establishing and correlating damage thresholds of GMR heads

机译：使用HGA天线测量EMI;建立和关联GMR磁头的损坏阈值
- 作者：Bert Perry;Jenny Himle;Terry Porter;Wayne Boone;Jeff LeBlanc
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
29.ESD protection under wire bonding pads

机译：引线焊盘下的ESD保护
- 作者：Warren R.Anderson;William M.Gonzalez;Sheera S.Knecht;Wendy Fowler
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
30.Investigating the performance of conductive thick epoxy floors

机译：研究导电厚环氧地板的性能
- 作者：Meir Golane
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
31.A study of head stack assembly sensitivity to ESD

机译：磁头堆叠组件对ESD的敏感性研究
- 作者：Wayne Boone;jenny Himle;Terry Porter;Bert Perry
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
32.The real CDM field induced ESD waveform from MR heads

机译：MR磁头产生的实际CDM场感应ESD波形
- 作者：Leo G.Henry;Bernard J.Hall
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
33.An anti-sanapback circuit technique for inhibiting parasitic bipolar conduction during EOS/ESD events

机译：一种在EOS / ESD事件期间抑制寄生双极传导的抗回跳电路技术
- 作者：Jeremy C.Smith
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
34.Charging and ignition of sprayed fuel

机译：喷雾燃料的充电和点火
- 作者：Keith Davies;Steve Gerken
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
35.Investigation of test methodology for triboelectrification

机译：摩擦电气化测试方法的研究
- 作者：William D.Greason
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
36.Latent ESD failures in schottky barroer diodes

机译：肖特基Barroer二极管中潜在的ESD故障
- 作者：Yogi Anand;Dana Crowe
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
37.A simulation analysis of quarter-micron CMOS LSI input circuit behavior under CDM-ESD for protoection device improvement

机译：CDM-ESD下四分之一微米CMOS LSI输入电路行为的仿真分析，以改善原型设备
- 作者：Kaoru Narita;Yoko Horiguchi;Kiminori Hayano;Kouichi Suzuki
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
38.Processable ESD control materials filled with tunable intrinsically conductive polymer nanocomposites

机译：填充有可调本征导电聚合物纳米复合材料的可加工ESD控制材料
- 作者：Jamshid K.Avlyanov;Martin E.Cooper;Sam J.Dahman
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
39.Processable ESD copntrol materials filled with tunable intrinsically conductive polymer nanocomposites

机译：装有可调本征导电聚合物纳米复合材料的可加工ESD酚醛材料
- 作者：Jamshid K.Avlyanov;martin E.Cooper;Sam J.Dahman
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
40.Stacked PMOS clamps for high voltage power supply protection

机译：堆叠式PMOS钳位用于高压电源保护
- 作者：Timothy J.maloney;Wilson Kan
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
41.An improved model of man for ESD applications

机译：ESD应用程序的改进模型
- 作者：Vitantonio Amoruso;Mohamed Helali;Francesco Lattarulo
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
42.Hardware / firmware Co-Design in an 8-bits microcontroller to solve the system-level ESD issue on keyboard

机译：8位微控制器中的硬件/固件协同设计，可解决键盘上的系统级ESD问题
- 作者：Ming-Dou Ker;Yu-Yu Sung
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
43.Innovative ESD thermoplastic composites structured through melt flow processing

机译：通过熔体流动工艺构造的创新型ESD热塑性复合材料
- 作者：Moshe Narkis;Gershon Lidor;Anita Vaxman;Limor Zuri
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
44.Investigations on duble-diffused MOS (DMOS) transistors under ESD zap conditions

机译：ESD击穿条件下双扩散MOS（DMOS）晶体管的研究
- 作者：Gianluca Boselli;Stan Meeuwsen;Tom Mouthaan;Fred Kuper
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
45.Issues concerning CDM ESD verification modules-the need to move to alumina

机译：与CDM ESD验证模块有关的问题-需要转向氧化铝
- 作者：Leo G.Henry;Mark A.Kelly;Tom Diep;Jon Barth
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
46.Wide range control of the sustaining voltage of ESD protection elements realized in a smart power technology

机译：通过智能电源技术实现的ESD保护元件的维持电压的宽范围控制
- 作者：H.Gossner;T.Mueller-Lynch;K.Esmark;M.Stecher
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
47.Analysis and compact modeling of lateral DMOS power devices under ESD stress conditions

机译：ESD应力条件下横向DMOS功率器件的分析和紧凑建模
- 作者：Markus Mergens;Wolfgang Wilkening;Stephan Mettler;Heinrich Wolf;Andreas Stricker;Wolfgang Fichtner
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
48.Analysis of the electrical field effects of AC and DC ionization systems for MR head manufacturing

机译：MR磁头制造中AC和DC电离系统的电场效应分析
- 作者：Carl E.Newberg
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
49.Analyzing the switching behavior of ESD-protection transistors by very fast transmission line pulsing

机译：通过非常快的传输线脉冲分析ESD保护晶体管的开关行为
- 作者：Heinrich Wolf;Horst Gieser;Wolfgang Wilkening
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
50.Anaysis of the electrical field effects of AC and DC ionization systems for MR head manufacturing

机译：MR磁头制造中AC和DC电离系统的电场效应分析
- 作者：Carl E.Newberg
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
51.Design methodology of a robust ESD protection circuit for STI process 256Mb MAND flash memory

机译：用于STI工艺256Mb MAND闪存的强大ESD保护电路的设计方法
- 作者：Tamio Ikehashi;Kenichi Imamiya;Koji Sakui
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
52.Influence of gate length on ESD-performance for deep sub micron CMOS technology

机译：深亚微米CMOS技术的栅极长度对ESD性能的影响
- 作者：K.Bock;B.Keppens;V.De heyn;G.Groeseneken;L.Y.Ching;A.Naem
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
53.Inteformetric temperature mapping during ESD stress and failure analysis of smart power technology ESD protection devices

机译：智能电源技术ESD保护设备的ESD应力和故障分析过程中的测温温度映射
- 作者：C.Furbock;D.Pogany;M.Litzenberger;E.Gornik;N.Seliger;H.Gobner;T.Muller-Lych;M.Stecher;W.Werner
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
54.Interformetric temperature mapping during ESD stress and failure analysis of smart power technology ESD protection devices

机译：智能电源技术ESD保护设备的ESD应力和故障分析期间的孔间温度映射
- 作者：C.Fuerboeck;D.Pogany;M.Litzenberger;E.Gornik;N.Seliger;H.Gossner;T.Mueller-Lynch;M.Stecher;W.Werner
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
55.A study of fully silicided 0.18um CMOS ESD protection devices

机译：完全硅化的0.18um CMOS ESD保护器件的研究
- 作者：Teruo Suzuk Shin Mitarai;Seigo Ito Hideo Monma;Norikuni Higashi
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
56.S study of ESD corrugated

机译：ESD瓦楞纸的研究
- 作者：Robert J.Vermillion;Larry Fromm
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
57.Test methodologies for detecting ESD events in automated processing equipment

机译：用于检测自动化处理设备中ESD事件的测试方法
- 作者：A.Steinman;J.Bernier;D.Boehm;T.Albano;W.Tan;D.Pritchard
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
58.Electrostatic discharge (ESD) protection in silicon-on-insulator (SOI) CMOS technology with aluminum and copper interconnects in advanced microprocessor semiconductor chips

机译：绝缘体上硅（SOI）CMOS技术中的静电放电（ESD）保护，具有高级微处理器半导体芯片中的铝和铜互连
- 作者：S.Voldman;D.Hui;L.warriner;D.Young;J.Howard;F.Assaderaghi;G.Shahidi
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
59.Developing a transient induced latch-up standard for testing integrated circuits

机译：制定用于测试集成电路的瞬态感应闩锁标准
- 作者：M.Kelly;L.G.Henry;J.Barth;G.Weiss;M.Chaine;H.Gieser;D.Bonfert;T.Meuse;V.Gross;C.Hatchard;I.Morgan
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
60.A strategy for characterization and evaluation of ESD robustness of CMOS semiconductor technologies

机译：表征和评估CMOS半导体技术ESD鲁棒性的策略
- 作者：S.Voldman;W.Anderson;R.Ashton;M.Chaine;C.Duvvury;T.Maloney;E.Worley
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
61.Transient latch-up using an improved bi-polar trigger

机译：使用改进的双极性触发器进行瞬态闩锁
- 作者：Ian Morgan;Colin Hatchard;Mehrdad Mahanpour
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
62.Balanced static elimination in variable ion mobility environments

机译：在可变离子迁移率环境中平衡消除静电
- 作者：C.G.Noll
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年
63.ESD-senstivity study of GMR recording heads with a flex-on-suspension head-gimbal assembly

机译：带有悬挂式挠性万向节组件的GMR记录头的ESD敏感性研究
- 作者：Chung F.Lam;Dino Martinez;Caleb Chang
- 会议名称：《Electrical overstrees/electrostatic discharge symposium》 | 1999年