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Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR
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1.
Two-wavelength contouring in difference holographic interferometry and DISCO
机译:
差分全息干涉法和DISCO中的两波长轮廓
作者:
Ferenc Gyimesi
;
Zoltan Fuezessy
;
Bela Raczkevi
;
Venczel Borbely
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
holographic interferometry;
difference holographic interferometry;
digital holographic interferometry;
DISCO;
2.
Time-averaged holographic interferometry using subtraction digital holography
机译:
使用减法数字全息术的时均全息干涉术
作者:
Nazif Demoli
;
Dalibor Vukicevic
;
Marc Torzynski
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
digital holography;
time-averaged holography;
holographic interferometry;
3.
Technique for modelling diffractive multi-phase holographic elements
机译:
衍射多相全息元素建模技术
作者:
Ruslan Lymarenko
;
Oksana Budnyk
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
diffraction theory;
SLM;
computer-generated hologram;
4.
Spectral reflectrometry and white-light interferometry used to measure thin films
机译:
光谱反射仪和白光干涉仪用于测量薄膜
作者:
Petr Hlubina
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
white-light source;
spectral reflectometry;
spectral interferometry;
michelson interferometer;
fourier transform method;
substrate;
thickness;
refractive index dispersion;
thin films;
phase spectrum;
5.
Surface plasmon resonance heterodyne interferometry for measuring physical parameters
机译:
用于测量物理参数的表面等离子体共振外差干涉法
作者:
Der-Chin Su
;
Jing-Heng Chen
;
Kun-Huang Chen
;
Jiun-You Lin
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
surface-plasmon resonance;
heterodyne interferometry;
physical parameter;
6.
SOME STUDIES TO PREVENT THE PRODUCTION OF SOME TYPES OF MOIRE EFFECTS IN FABRICS
机译:
防止在织物中产生某些类型的莫尔效应的某些研究
作者:
A. Serrano
;
R. Ponce
;
I. Serroukh
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
moire;
textile;
nylon fabrics;
metrology;
7.
Digital Holography used for measurement of deformations during gas quenching processes
机译:
数字全息技术,用于测量气体淬火过程中的变形
作者:
Jens Alsen
;
Christoph v. Kopylow
;
Werner Jueptner
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
digital holography;
interferometry;
8.
Multi-component laser shearography for the investigation of defects in rotating machinery
机译:
多组分激光剪切成像技术研究旋转机械中的缺陷
作者:
Roger M. Groves
;
Stephen W. James
;
Stuart E. Barnes
;
Shan Fu
;
Domenico Furfari
;
Philip E. Irving
;
Ralph P. Tatam
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
shearography;
multi-component;
pulsed laser;
non-destructive testing;
rotating machinery;
9.
Digital Holography and Grating Interferometry: A complementary Approach
机译:
数字全息术和光栅干涉术:一种补充方法
作者:
C. Falldorf
;
C. Kopylow
;
W. Osten
;
W. Jueptner
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
optical metrology;
grating interferometry;
moire;
digital holography;
integrated sensors;
10.
'Black box' calibration methods investigated with a virtual fringe projection system
机译:
利用虚拟条纹投影系统研究“黑匣子”校准方法
作者:
Thomas Boettner
;
Joerg Seewig
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
virtual fringe projection system;
direct calibration;
black box models;
3-D measurement;
simulation;
11.
Coherent optical metrology in virtual reality
机译:
虚拟现实中的相干光学计量
作者:
Janos Kornis
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
speckle metrology;
virtual reality;
virtual optical laboratory;
12.
Color prediction in textile application
机译:
色彩预测在纺织品中的应用
作者:
Maurizio De Lucia
;
Massimo Buonopane
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
color;
textile;
prediction;
kubelka-munk;
13.
Application of Comparative Digital Holography for Distant Shape Control
机译:
比较数字全息技术在远距离形状控制中的应用
作者:
Torsten Baumbach
;
Wolfgang Osten
;
Christoph von Kopylow
;
Werner Jueptner
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
digital comparative holography;
shape control;
coherent mask;
14.
Analogue and digital developments for project DISCO at Budapest University of Technology and Economics
机译:
布达佩斯科技经济大学DISCO项目的模拟和数字开发
作者:
Z. Fuezessy
;
F. Gyimesi
;
J. Kornis
;
B. Raczkevi
;
V. Borbely
;
B. Gombkoeto
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
analogue and digital holography;
direct and comparative displacement measurement;
measuring range;
15.
An all-fiber Pr/Yb-doped up-conversion laser in different laser operation modes
机译:
不同激光器工作模式的全光纤掺Pr / Yb上转换激光器
作者:
M. Zeller
;
H.G. Limberger
;
T. Lasser
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
fiberlaser;
all-fiber devices;
fiber bragg gratings;
tunable lasers;
Up-conversion;
16.
All-digital phase code: a proposal for high-speed 3D-shape recording
机译:
全数字相位代码:高速3D形状记录的建议
作者:
Roland Hoefling
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
optical 3D measurement;
fringe projection;
phase code;
triangulation;
deflection;
spatial light modulator;
digital micromirror device;
pulse width modulation;
DMD;
DLP;
17.
A new calibration scheme for the three-dimensional depth-scanning fringe projection measurement method
机译:
三维深度扫描条纹投影测量方法的新标定方案
作者:
Jean-Marc Nivet
;
Thomas Schuster
;
Klaus Koerner
;
Ulrich Droste
;
Hans J. Tiziani
;
Wolfgang Osten
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
fringe projection;
depth-scanning;
zooming;
phase-shifting;
direct 3-D calibration;
absolute coordinate evaluation;
18.
A method for automatic 3D-reconstruction based on multiple views from a free-mobile camera
机译:
一种基于来自自由移动相机的多个视图的自动3D重建方法
作者:
Qingbing Yu
;
Zhijiang Zhang
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
3D-reconstruction;
camera calibration;
shape from silhouettes;
19.
A novel interferometric spectrometer obtained by imaging Talbot effect in digital holography
机译:
通过数字全息术中的Talbot效应成像获得的新型干涉光谱仪
作者:
P.Ferraro
;
G. Coppola
;
D. Alfieri
;
S. De Nicola
;
S. Grilli
;
A. Finizio
;
G.Pierattini
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
talbot effect;
diffraction and gratings;
digital holography;
20.
Absolute deflectometric measurement of topography - influence of systematic deviations
机译:
地形的绝对挠度测量-系统偏差的影响
作者:
J. Illemann
;
A. Just
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
long-trace profiler;
defiectometry;
free-form surface;
curvature;
form;
topography;
figure measurement;
21.
Nematic LCoS Spatial Light Modulators - Performance in Diffractive optics
机译:
Nematic LCoS空间光调制器-衍射光学性能
作者:
Sven Krueger
;
Guenther Wernicke
;
Andreas Langner
;
Hartmut Gruber
;
Stefan Osten
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
liquid crystal display;
spatial light modulator;
dynamic diffractive elements;
phase modulation;
22.
New approaches in depth-scanning optical metrology
机译:
深度扫描光学计量学的新方法
作者:
Klaus Koerner
;
Aiko K. Ruprecht
;
Tobias F. Wiesendanger
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
fringe projection;
depth-scanning;
confocal microscopy;
white light interferometry;
23.
Non Destructive Testing (NDT) and vibration analysis of defects in components and structures using laser diode shearography
机译:
使用激光二极管剪切成像技术进行的无损检测(NDT)和部件和结构中的缺陷的振动分析
作者:
W. Steinchen
;
Y. Gan
;
G. Kupfer
;
P. Maeckel
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
speckle shearing interferometry;
speckle metrology;
time-average shearography;
amplitude gradient;
variation of the shearing distance;
stroboscopic illumination;
vibration analysis;
forced normal mode excitation method;
24.
Measuring instrument for analyse of brightness distribution in the space
机译:
分析空间中亮度分布的测量仪
作者:
Jan Dorosz
;
Wladyslaw Dybczyhski
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
photometry;
light guide;
luminance;
luminous flux;
25.
Image processing providing low frequency jitter correction for synchroscan streak camera temporal resolution enhancement
机译:
图像处理可为同步扫描条纹相机的时间分辨率增强提供低频抖动校正
作者:
Wilfried Uhring
;
Manuel Jung
;
Patrick Summ
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
jitter;
image processing;
streak camera;
picoseconds resolution;
26.
Holographic interferometric microscopy systems for the application on biological samples
机译:
全息干涉显微镜系统在生物样品上的应用
作者:
Bjoern Kemper
;
Daniel Carl
;
Sabine Knoche
;
Rainer Thien
;
Gert von Bally
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
holography;
microscopy;
interferometry;
cellular samples;
27.
Evaluation Methods for Gradient Measurement Techniques
机译:
梯度测量技术的评估方法
作者:
Wansong Li
;
Thorsten Bothe
;
Christoph von Kopylow
;
Werner Jueptner
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
3D shape measurement;
gradient measurement;
shearography;
fringe reflection;
deflectometry;
28.
Evaluation of a Residual Stresses Measurement Device Combining a Radial In-Plane ESPI and the Blind Hole Drilling Method
机译:
结合径向平面ESPI和盲孔钻削方法的残余应力测量装置的评估
作者:
Armando Albertazzi G. Jr.
;
Flavio Tito Peixoto Filho
;
Ricardo Suterio
;
Felipe Kleber Amaral
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
ESPI;
interferometry;
radial interferometer;
residual stresses measurement;
29.
Etalon of optical frequency for the telecommunication spectral region
机译:
电信频谱区域的光频率标准具
作者:
Josef Lazar
;
Bohdan Ruzicka
;
Ondrej Cip
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
laser diode;
frequency stabilization;
absorption spectroscopy;
30.
Dual-technology optical sensor head for 3D surface shape measurements on the micro and nano-scales
机译:
双重技术的光学传感器头,可进行微米和纳米级的3D表面形状测量
作者:
Roger Artigas
;
Ferran Laguarta
;
Cristina Cadevall
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
optical surface metrology;
shape measurement;
confocal profiler;
PSI;
white light interferometry;
31.
Correction of aberrations in an optical correlator by using it as a point diffraction interferometer
机译:
通过将其用作点衍射干涉仪来校正光学相关器中的像差
作者:
Claudio Iemmi
;
Alfonso Moreno
;
Josep Nicolas
;
Juan Campos
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
optical correlators;
interferometry;
phase measurement;
32.
Dispersion of group and phase modal birefringence in optical fibers measured by time-domain and spectral-domain tandem interferometry
机译:
用时域和光谱域串联干涉法测量光纤中基团和相位模态双折射的色散
作者:
Petr Hlubina
;
Tadeusz Martynkien
;
Waclaw Urbanczyk
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
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2004年
关键词:
tandem interferometry;
time domain;
spectral domain;
dispersion;
birefringence;
elliptical-core fiber;
33.
ROM type Computer Generated Hologram Memory
机译:
ROM类型计算机生成的全息图存储器
作者:
T. Kurokawa
;
E. Kubota
;
K. Nishimoto
;
M. Yamamoto
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
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2004年
关键词:
hologram memory;
CGH;
3D memory;
holographic ROM;
waveguide memory;
34.
Smart Pixels
机译:
智能像素
作者:
Peter Seitz
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
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2004年
关键词:
smart pixels;
APS;
CMOS;
CCD;
image sensors;
semiconductor imaging;
35.
Short-coherence digital holography for the investigation of 3D microscopic samples
机译:
短相干数字全息技术用于3D显微样品的研究
作者:
Lluis Martinez-Leon
;
Giancarlo Pedrini
;
Wolfgang Osten
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
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2004年
关键词:
digital holography;
microscopy;
optical sectioning;
sample-induced aberrations;
36.
Signal modeling for modern interference microscopes
机译:
现代干涉显微镜的信号建模
作者:
P. de Groot
;
X. Colonna de Lega
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
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2004年
关键词:
interferometry;
microscopy;
white light;
modeling;
37.
Phasogrammetric optical 3D-sensor for the measurement of large objects
机译:
用于大型物体测量的光学3D传感器
作者:
Peter Kuehmstedt
;
Matthias Heinze
;
Michael Himmelreich
;
Georg Notni
;
Christian Braeuer-Burchardt
;
unther Notni
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
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2004年
关键词:
phasogrammetry;
optical 3D-measurement;
fringe projection;
38.
Processing of Low-Intensity CCD Images for Temperature Mapping in Industrial Processes
机译:
用于工业过程中温度映射的低强度CCD图像处理
作者:
Gerald Zauner
;
Daniel Heim
;
Kurt Niel
;
Guenther Hendorfer
;
Herbert Stoeri
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
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2004年
关键词:
thermal imaging;
temperature mapping;
image processing;
image denoising;
CCD camera characterisation;
platelet-filtering;
39.
Production integrated laser-based measurement system for railway sleepers
机译:
生产集成的基于激光的铁路轨枕测量系统
作者:
Gerd Stanke
;
Thomas Kessler
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
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2004年
关键词:
image processing;
industrial inspection;
laser plane triangulation;
quality inspection;
quality assurance;
40.
Pseudo-phase information of complex analytic signal of speckle fields and its applications: micro-displacement measurement based on phase-only correlation in signal domain
机译:
散斑场复杂分析信号的伪相位信息及其应用:基于仅相位相关的信号域微位移测量
作者:
Wei Wang
;
Nobuo Ishii
;
Yoko Miyamoto
;
Mitsuo Takeda
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
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2004年
关键词:
analytic signal;
pseudo-phase;
signal-domain phase-only correlation;
speckle metrology;
41.
Optical characterization of liquid-crystal-on-silicon displays
机译:
硅基液晶显示器的光学特性
作者:
Klaus-Peter Proll
;
Christian Kohler
;
Torsten Baumbach
;
Wolfgang Osten
;
Stefan Osten
;
Hartmut Gruber
;
Andreas Langner
;
Guenther Wernicke
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
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2004年
关键词:
spatial light modulator;
liquid-crystal-on-silicon display;
phase modulation;
complex transmission;
42.
Optonumerical system supporting visualization of true 3D variable in time objects in virtual reality environment
机译:
支持虚拟现实环境中时间对象中真实3D变量可视化的光影系统
作者:
P.Garbat
;
M.Wegiel
;
M.Kujawinska
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
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2004年
关键词:
3D shape measurement;
virtual reality;
colour structure light projection;
3D object monitoring;
3D object visualization;
43.
High-resolution 3D survey of artworks
机译:
艺术品的高分辨率3D调查
作者:
Raffaella Fontana
;
Maria Chiara Gambino
;
Cinzia Mazzotta
;
Marinella Greco
;
Enrico Pampaloni
;
Luca Pezzati
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
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2004年
关键词:
optical diagnostic;
3D survey;
micro-profilometry;
44.
Fringe pattern projection method combined with digital holography
机译:
结合数字全息的条纹图案投影方法
作者:
Marcin Prytulak
;
Romuald Jozwicki
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
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2004年
关键词:
digital holography;
holographic interferometry;
shape and deformations measurement;
45.
UV and DUV microscopy for dimensional metrology on micro- and nanostructures
机译:
UV和DUV显微镜用于微观和纳米结构的尺寸计量
作者:
Bernd Bodermann
;
Gerd Ehret
;
Werner Mirande
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
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2004年
关键词:
UV microscopy;
dark field microscopy;
microstructure measurement;
46.
Short coherence transmitted light interferometer for the thickness measurement of Si membranes
机译:
用于Si膜厚度测量的短相干透射光干涉仪
作者:
Ulrich Breitmeier
;
Klaus Leonhardt
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
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2004年
关键词:
white light interferometer;
profile measurement;
MEMS thickness;
47.
Recent advancements in digital holographic microscopy and its applications
机译:
数字全息显微镜及其应用的最新进展
作者:
P. Ferraro
;
G. Coppola
;
D. Alfieri
;
S. De Nicola
;
A. Finizio
;
G. Pierattini
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
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2004年
关键词:
digital holography;
holographic interferometry;
metrology;
microelectromechanical devices;
microscopy;
48.
Photoelastic tomography for residual stress measurement in glass
机译:
光弹性体层摄影术用于测量玻璃中的残余应力
作者:
Hillar Aben
;
Andrei Errapart
;
Leo Ainola
;
Johan Anton
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
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2004年
49.
Phase Measuring Deflectometry: a new approach to measure specular free-form surfaces
机译:
相位测量折光法:一种测量镜面自由曲面的新方法
作者:
Markus C. Knauer
;
Juergen Kaminski
;
Gerd Haeusler
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
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2004年
关键词:
optical metrology;
surface normal;
deflectometry;
specular surfaces;
calibration;
stereo;
50.
Practical aspects of curvature detection for LACS free-form measuring systems
机译:
LACS自由形式测量系统曲率检测的实践方面
作者:
M. Schulz
;
J. Gerhardt
;
C. Elster
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
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2004年
关键词:
aspheres;
free-form surfaces;
form;
topography;
surface model;
curvature measurement;
model selection;
outlier detection;
51.
Novel solution for digital holographic interferometer design
机译:
数字全息干涉仪设计的新颖解决方案
作者:
Aneta Michalkiewicz
;
Malgorzata Kujawinska
;
Leszek Salbut
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
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2004年
52.
Fast Scanning Confocal Sensor provides High Fidelity Surface Profiles on a Microscopic Scale
机译:
快速扫描共聚焦传感器可在微观尺度上提供高保真表面轮廓
作者:
Anton Schick
;
Ulrich Breitmeier
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
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2004年
关键词:
confocal microscopy;
height profiling;
confocal optical scanning;
displacement sensor;
thickness measurement;
53.
Fluorescence Metrology used for Analysis of High Quality Optical Materials
机译:
荧光计量学用于高质量光学材料的分析
作者:
A. Engel
;
R. Haspel
;
V. Rupertus
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
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2004年
54.
Frequency shift of light reflected from vibrating mirror
机译:
振动镜反射光的频移
作者:
A.Miks
;
J.Novak
;
P.Novak
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
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2004年
关键词:
deformation;
wave-front aberration;
doppler shift;
vibration;
optical testing;
lasers;
adaptive optics;
55.
Four-element optical system for Fourier transform
机译:
傅里叶变换的四元件光学系统
作者:
A.Miks
;
J.Novak
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
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2004年
关键词:
optical systems;
optical data processing;
fourier optics;
fourier transform lens;
56.
High resolution shape measurements with Phase-Shifting Schlieren (PSS)
机译:
使用相移Schlieren(PSS)进行高分辨率形状测量
作者:
Luc Joannes
;
Didier Beghuin
;
Renaud Ligot
;
Sebastien Farinotti
;
Olivier Dupont
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
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2004年
关键词:
schlieren;
quantitative;
phase-shifting;
shape measurement;
MEMS;
fluid physics;
57.
High-resolution 3D shape measurement on specular surfaces by fringe reflection
机译:
通过条纹反射在镜面上进行高分辨率3D形状测量
作者:
Thorsten Bothe
;
Wansong Li
;
Christoph von Kopylow
;
Werner Juptner
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
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2004年
关键词:
structured light;
3D shape measurement;
specular or reflective surface;
fringe reflection;
deflectometry;
58.
Visual robot control for close range inspections
机译:
可视机器人控制,用于近距离检查
作者:
F. Moenning
;
T. Pfeifer
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
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2004年
关键词:
robot;
visual servoing;
quality inspection;
metrology;
59.
Use of in-situ spectroscopic ellipsometry to study the behaviour of metallic surfaces in different solutions
机译:
使用原位光谱椭圆仪研究金属溶液在不同溶液中的行为
作者:
Sake Van Gils
;
Christophe Le Pen
;
Orlin Blajiev
;
Carlos Melendres
;
Erik Stijns
;
Herman Terryn
;
Annick Hubin
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
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2004年
关键词:
in-situ ellipsometry;
monitoring;
metal;
corrosion;
electrochemical polishing;
60.
User-friendly optical metrology in production engineering
机译:
生产工程中用户友好的光学计量
作者:
S. Bichmann
;
U. Glaser
;
T. Pfeifer
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
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2004年
关键词:
optical metrology;
multi-sensor cmm;
machine integration;
CAD-based inspection;
61.
Ultra-precise distance measurement for nanometrology
机译:
纳米计量学的超精密距离测量
作者:
Ondrej Cip
;
Frantisek Petru
;
Zdenek Buchta
;
Josef Lazar
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
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2004年
关键词:
high-resolution laser interferometry;
tunable laser;
scale linearity;
62.
Ultra Thin Hard Films - Optical Characterization and Metrology in Industrial Manufacturing
机译:
超薄硬膜-工业制造中的光学表征和计量
作者:
Peter Pokrowsky
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
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2004年
63.
Three-dimensional vision using structured light applied to quality control in production line
机译:
使用结构光的三维视觉应用于生产线的质量控制
作者:
L.-S. Bieri
;
J. Jacot
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
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2004年
关键词:
shape measurement;
dimensional measurement;
structured light;
3D scanner;
quality control;
temporal phase unwrapping;
64.
3D-shape measurement of nozzles on the micrometric scale
机译:
微米级喷嘴的3D形状测量
作者:
Ferran Laguarta
;
Roger Artigas
;
Cristina Cadevall
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
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2004年
关键词:
optical surface metrology;
shape measurement;
orifice plate;
nozzle plate;
printhead;
thermal inkjet system;
65.
A 3D scanning device for architectural survey based on Time-Of-Flight technology
机译:
基于飞行时间技术的用于建筑测量的3D扫描设备
作者:
Raffaella Fontana
;
Maria Chiara Gambino
;
Gabriella. Gianfrate
;
Marinella Greco
;
Enrico Pampaloni
;
Luca Pezzati
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
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2004年
关键词:
TOF;
laser scanner;
3D survey;
3D model;
66.
Displacement measurements of technical surfaces with a synchronously pumped external cavity diode laser
机译:
同步泵浦外腔二极管激光器测量工业表面的位移
作者:
Jasper Moebius
;
Juergen Czarske
;
Karsten Moldenhauer
;
Wolfgang Ertmer
;
Thomas Mueller-Wirts
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
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2004年
关键词:
displacement measurement;
interferometry;
external cavity laser;
mode locking;
semiconductor laser dynamics;
rate equations;
67.
Nano-displacement control with optical heterodyne interferometry
机译:
光学外差干涉法的纳米位移控制
作者:
L. Chassagne
;
S. Topcu
;
D. Haddad
;
Y. Alayli
;
P. Juncar
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
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2004年
关键词:
interferometry;
nanometric displacement;
length metrology;
sub-nanometric accuracy;
68.
Digital Holographic Microscopy applied to Metrology
机译:
数字全息显微镜在计量学中的应用
作者:
Christian D. Depeursinge
;
Florian Charriere
;
Anca M. Marian
;
Frederic Montfort
;
Tristan Colomb
;
Jonas Kuehn
;
Etienne Cuche
;
Yves.Emery
;
Pierre Marquet
;
Pierre J. Magistretti
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
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2004年
关键词:
microscopy;
holography;
phase contrast;
surface metrology;
69.
Bulk absorption measurements of highly transparent DUV/VUV optical materials
机译:
高透明DUV / VUV光学材料的体积吸收测量
作者:
Ch. Muehlig
;
S. Kufert
;
W. Triebel
;
F. Coriand
;
L. Parthier
;
A. Voitsch
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
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2004年
关键词:
fused silica;
calcium fluoride;
laser induced absorption;
laserinduced fluorescence;
193 nm;
157 nm;
70.
Compact excimer lasers for metrology and inspection applications
机译:
紧凑型准分子激光器,用于计量和检测应用
作者:
A. Goertler
;
A. Matern
;
S. Spoerlein
;
C. Strowitzki
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
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2004年
关键词:
excimer laser;
compact excimer laser;
VUV-laser;
193 nm;
157 nm;
metrology;
inspection;
71.
Multi-dimensional strain and temperature measurements using a novel high birefringent fibre Bragg grating interrogation system
机译:
使用新型高双折射光纤布拉格光栅询问系统进行多维应变和温度测量
作者:
Edmon Chehura
;
Alexandros A. Skordos
;
Chen-Chun Ye
;
Stephen W. James
;
Ivana K. Partridge
;
Ralph P. Tatam
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
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2004年
关键词:
HiBi;
FBG;
sensors;
multi-dimensional strain;
3D strain;
transverse strain;
cure monitoring;
temperature;
72.
Design aspects in the development of a standing-wave interferometer
机译:
驻波干涉仪开发中的设计方面
作者:
Viktor Mandryka
;
Hans Buechner
;
Gerd Jaeger
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
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2004年
关键词:
interferometer;
optical standing wave;
displacement measurement;
transparent photodetector;
73.
Comparative displacement measurement by digital holographic interferometry
机译:
通过数字全息干涉法比较位移测量
作者:
Janos Kornis
;
Balazs Gombkoeto
;
Zoltan Fuezessy
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
comparative measurement;
digital holography;
spatial light modulator;
TV holography;
measuring range;
74.
Combined interference and scanning force microscope
机译:
组合干涉和扫描力显微镜
作者:
Hans Ulrich Danzebrink
;
James W. G. Tyrrell
;
Claudio Dal Savio
;
Rolf Krueger-Sehm
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
interference microscopy;
scanning probe microscopy;
compact sensor;
piezo-resistive cantilever;
75.
Characterization of surface qualities of polished optical glass by ellipsometric way
机译:
椭圆光学法表征抛光光学玻璃的表面质量
作者:
Alssa MANALLAH
;
Mohamed BOUAFIA
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
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2004年
76.
A new method and a novel facility for ultra-precise 2D topography measurement of large optical surfaces
机译:
用于大光学表面的超高精度2D形貌测量的新方法和新设备
作者:
Matthias Wurm
;
Ralf D. Geckeler
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
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2004年
关键词:
deflectometry;
topography measurement;
interferometry;
autocollimator;
flatness;
77.
A general framework for three-dimensional surface reconstruction by self-consistent fusion of shading and shadow features and its application to industrial quality inspection tasks
机译:
阴影和阴影特征自洽融合的三维表面重建通用框架及其在工业质量检测中的应用
作者:
Kia Hafezi
;
Christian Woehler
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
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2004年
关键词:
3D surface reconstruction;
shadow analysis;
shape from shading;
quality inspection;
78.
A Fast CMOS Array Imager for Nanosecond Light Pulse Detection In Accumulation Mode
机译:
用于累积模式下纳秒光脉冲检测的快速CMOS阵列成像仪
作者:
Chantal-Virginie Zint
;
Wilfried Uhring
;
Bruno Casadei
;
Jean-Pierre Le Normand
;
Frederic Morel
;
Yann Hu
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
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2004年
关键词:
CMOS sensor;
nanoscale optical metrology;
CMOS streak camera;
79.
New Absolute Distance Interferometric Technique
机译:
新的绝对距离干涉测量技术
作者:
Michele Norgia
;
Guido Giuliani
;
Silvano Donati
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
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2004年
关键词:
semiconductor laser;
interferometry;
distance measurement;
remote sensing;
80.
N-lambda speckle-interferometry for contouring in industrial applications
机译:
N-lambda散斑干涉仪,用于工业应用中的轮廓
作者:
A. Purde
;
A. Meixner
;
K. Bachfischer
;
T. Zeh
;
P. Kirilenko
;
A. W. Koch
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
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2004年
关键词:
speckle-interferometry;
ESPI;
contouring;
laser stability;
discontinuous surfaces;
edge detection;
81.
MEASUREMENT OF THE VERY THIN METALLIC WIRES DIAMETER FOR THE INDUSTRIAL AUTOMATIC CONTROL
机译:
用于工业自动控制的非常细的金属线直径的测量
作者:
I. Serroukh
;
J. C. Martinez
;
A. Serrano
;
E. Bernabeu
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
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2004年
关键词:
metrology;
wire;
diffraction;
calibration;
diameter;
measurement;
82.
Light scattered measurements using Fourier optics: A new tool for surface characterization
机译:
使用傅立叶光学器件的光散射测量:用于表面表征的新工具
作者:
Pierre BOHER
;
Mathieu LUET
;
Thierry LEROUX
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
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2004年
关键词:
scatterometry;
BRDF;
fourier optics;
paper;
83.
In-factory calibration of multiocular camera systems
机译:
多眼相机系统的出厂校准
作者:
Lars Krueger
;
Christian Woehler
;
Alexander Wuerz-Wessel
;
Fridtjof Stein
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
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2004年
84.
Denoising of conoscopic holography fringe patterns with orientational filters: a comparative study
机译:
定向滤光镜对全息全息条纹图案的去噪:比较研究
作者:
Jose M. Enguita
;
Yolanda Fernandez
;
Ignacio Alvarez
;
Cesar Fraga
;
Jorge Marina
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
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2004年
关键词:
interferometry;
optical metrology;
conoscopic holography;
image processing;
orientational filters;
85.
Direct phase distribution evaluation by continuous Paul wavelet transforms
机译:
通过连续Paul小波变换直接评估相位分布
作者:
L. Bouamama
;
S. Segueni
;
R. Mellah
;
M. Bouafia
;
K. Ayadi
;
G. Wernicke
;
S. Krueger
;
H. Gruber
会议名称:
《Conference on Optical Metrology in Production Engineering; 20040427-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
continuous wavelet transforms;
interferogram phase distribution;
optical correlation;
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