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2011 IEEE Radiation Effects Data Workshop
2011 IEEE Radiation Effects Data Workshop
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1.
RED11 Copyright
机译:
RED11版权
会议名称:
《2011 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2011年
2.
REDW11 Welcome
机译:
REDW11欢迎
会议名称:
《2011 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2011年
3.
REDW11 Author Index
机译:
REDW11作者索引
会议名称:
《2011 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2011年
4.
SEE and TID Results for Commercial Non-Optogalvanic Isolators for Space Application
机译:
用于空间应用的商用非光电隔离器的SEE和TID结果
作者:
Jacobson Mark A.
;
Buchner Stephen P.
;
Hughes Harold L.
;
McMarr Patrick J.
会议名称:
《2011 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2011年
5.
Proton-Induced Single Event Upsets in 90nm Technology High Performance SRAM Memories
机译:
质子诱导的90nm技术高性能SRAM存储器中的单事件翻转
作者:
Puchner H.
;
Tausch J.
;
Koga R.
会议名称:
《2011 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2011年
6.
Wafer by Wafer Low Dose Rate Qualification in a Production Environment
机译:
在生产环境中通过Wafer获得低剂量率合格晶圆
作者:
van Vonno N. W.
;
Pearce L. G.
;
Northen A. L.
;
Touvell J. R.
;
Brewster J. C.
;
Gill J. S.
;
Thomson E. T.
;
Chesley P. J.
;
Schettler D.
会议名称:
《2011 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2011年
7.
Single Event Sensitivity of High-Speed Differential Signaling Devices to Heavy Ions and Protons
机译:
高速差分信号设备对重离子和质子的单事件敏感性
作者:
Koga R.
;
George J.
;
Bielat S.
;
Yu P.
会议名称:
《2011 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2011年
8.
Radiation and Reliability Characterization of a Multiplexer Family Using a 0.35µm Triple-Well CMOS Technology
机译:
使用0.35µm三重阱CMOS技术的多路复用器系列的辐射和可靠性表征
作者:
Wilson A.
;
Kerwin D.
;
Richardson T.
;
Ton Q.
;
Merkel K.
;
Koziuk G.
;
Hafer C.
会议名称:
《2011 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2011年
9.
Total Dose Test Results for CubeSat Electronics
机译:
CubeSat Electronics的总剂量测试结果
作者:
Avery Keith
;
Finchel Jeffery
;
Mee Jesse
;
Kemp William
;
Netzer Richard
;
Elkins Donald
;
Zufelt Brian
;
Alexander David
会议名称:
《2011 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2011年
10.
Heavy Ion Single Event Effects Performance of RadHard Devices Migrated to an Alternate Wafer Fab
机译:
RadHard器件迁移到备用晶圆厂的重离子单事件影响性能
作者:
Hafer Craig
;
Lahey Mike
;
Harris Debra
;
Larsen Jennifer
;
Sievert Fred
;
Sims Tony
;
Meyer Steve
;
Dumitru Radu
;
Jordan Anthony
;
Milliken Peter
会议名称:
《2011 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2011年
11.
Results of Low Dose Rate Testing of Legacy Intersil Products
机译:
旧版Intersil产品的低剂量率测试结果
作者:
van Vonno N. W.
;
Pearce L. G.
;
Gill J. S.
;
Thomson E. T.
;
Chesley P. J.
会议名称:
《2011 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2011年
12.
Neutron Beam Testing of High Performance Computing Hardware
机译:
高性能计算硬件的中子束测试
作者:
Michalak Sarah E.
;
DuBois Andrew J.
;
Storlie Curtis B.
;
Quinn Heather M.
;
Rust William N.
;
DuBois David H.
;
Modl David G.
;
Manuzzato Andrea
;
Blanchard Sean P.
会议名称:
《2011 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2011年
13.
Calculating Spacecraft Single Event Environments with FLUKA: Investigating the Effects of Spacecraft Material Atomic Number on Secondary Particle Showers, Nuclear Reactions, and Linear Energy Transfer (LET) Spectra, Internal to Spacecraft Avionics Materials, at High Shielding Mass
机译:
用FLUKA计算航天器的单事件环境:研究航天器航空电子材料内部的高屏蔽质量的航天器材料原子序数对次级粒子阵雨,核反应和线性能量转移(LET)光谱的影响
作者:
Koontz Steve
;
Reddell Brandon
;
Boeder Paul
会议名称:
《2011 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2011年
14.
Applicability of the Accelerated Switching Test Method - A Comprehensive Survey
机译:
加速开关测试方法的适用性-综合调查
作者:
Wind M.
;
Beck P.
;
Boch J.
;
Dusseau L.
;
Latocha M.
;
Poizat M.
;
Zadeh A.
会议名称:
《2011 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2011年
15.
Single-Event Characterization of Multi-Gigabit Transceivers (MGT) in Space-Grade Virtex-5QV Field Programmable Gate Arrays (FPGA)
机译:
空间级Virtex-5QV现场可编程门阵列(FPGA)中多千兆位收发器(MGT)的单事件表征
作者:
Monreal Roberto
;
Carmichael Carl
;
Swift Gary
会议名称:
《2011 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2011年
16.
Investigation of Low Cross Section Events in the RHBD/FT UT699 Leon 3FT
机译:
RHBD / FT UT699 Leon 3FT中的低截面事件调查
作者:
Guertin Steven M.
;
Hafer Craig
;
Griffith Steve
会议名称:
《2011 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2011年
17.
Investigation of Current Spike Phenomena during Heavy Ion Irradiation of NAND Flash Memories
机译:
NAND闪存中重离子辐射过程中电流尖峰现象的研究
作者:
Oldham Timothy R.
;
Berg Melanie
;
Friendlich Mark
;
Wilcox Ted
;
Seidleck Christina
;
LaBel Kenneth A.
;
Irom Farokh
;
Buchner Steven P.
;
McMorrow Dale
;
Mavis David G.
;
Eaton Paul H.
;
Castillo James
会议名称:
《2011 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2011年
18.
Recent Total Ionizing Dose and Displacement Damage Compendium of Candidate Electronics for NASA Space Systems
机译:
美国宇航局太空系统候选电子设备的最新总电离剂量和位移损伤简编
作者:
Cochran Donna J.
;
Boutte Alvin J.
;
Campola Michael J.
;
Carts Martin A.
;
Casey Megan C.
;
Chen Dakai
;
LaBel Kenneth A.
;
Ladbury Raymond L.
;
Lauenstein Jean-Marie
;
Marshall Cheryl J.
;
OBryan Martha V.
;
Oldham Timothy R.
;
Pellish Jonathan A.
;
Sanders Anthony B.
;
Xapsos Michael A.
会议名称:
《2011 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2011年
19.
Compendium of Recent Total Ionizing Dose Test Results Conducted by the Jet Propulsion Laboratory from 2009-2011
机译:
喷气推进实验室从2009-2011年进行的最新总电离剂量测试结果简编
作者:
Bowles-Martinez J. N.
;
Thorbourn D. O.
;
Rax B. G.
;
Kenna A. J.
;
Harris R. D.
;
Scheick L. Z.
;
Allen G. R.
;
McClure S. S.
会议名称:
《2011 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2011年
20.
Recent Single Event Effects Compendium of Candidate Electronics for NASA Space Systems
机译:
NASA太空系统候选电子产品的最新单事件效果纲要
作者:
OBryan Martha V.
;
LaBel Kenneth A.
;
Pellish Jonathan A.
;
Lauenstein Jean-Marie
;
Chen Dakai
;
Marshall Cheryl J.
;
Oldham Timothy R.
;
Kim Hak S.
;
Phan Anthony M.
;
Berg Melanie D.
;
Campola Michael J.
;
Sanders Anthony B.
;
Marshall Paul W.
;
Xapsos Michael A.
;
Heidel David F.
;
Rodbell Kenneth P.
;
Swonger Jim W.
;
Alexander Don
;
Gauthier Michael
;
Gauthier Brian
会议名称:
《2011 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2011年
21.
REDW11 Cumulative Index
机译:
REDW11累积指数
会议名称:
《2011 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2011年
22.
A Summary of Single Event Upset Testing of CD4000 Series Devices
机译:
CD4000系列设备的单事件翻转测试摘要
作者:
Lombardi Robert E.
;
Bogorad Alexander L.
;
Likar Justin J.
;
Rubin Aaron S.
;
Camacho Carlos F.
会议名称:
《2011 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2011年
23.
Single Event Upset Characterization of a Mixed-Signal Field Programmable Gate Array Using Proton Irradiation
机译:
使用质子辐照的混合信号场可编程门阵列的单事件翻转特性
作者:
Hiemstra David M.
;
Gill Prab
会议名称:
《2011 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2011年
24.
COTS Based On-Board-Computer on South Africa's Sumbandilasat: A Radiation and In-Orbit Performance Analysis
机译:
基于COTS的南非Sumbandilasat车载计算机:辐射和在轨性能分析
作者:
Barnard Arno
;
Nwosa Chijioke
会议名称:
《2011 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2011年
25.
FASTRAD 3.2: Radiation Shielding Tool with a New Monte Carlo Module
机译:
FASTRAD 3.2:带有新蒙特卡洛模块的辐射屏蔽工具
作者:
Pourrouquet Pierre
;
Thomas Jean-Charles
;
Peyrard Pierre-Francois
;
Ecoffet Robert
;
Rolland Guy
会议名称:
《2011 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2011年
26.
SEE and TID Response of Spansion 512Mb NOR Flash Memory
机译:
Spansion 512Mb NOR闪存的SEE和TID响应
作者:
Irom Farokh
;
Nguyen Duc N.
会议名称:
《2011 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2011年
27.
Radiation Characterization of Microsemi ProASIC3 Flash FPGA Family
机译:
Microsemi ProASIC3 Flash FPGA系列的辐射特性
作者:
Poivey C.
;
Grandjean M.
;
Guerre F. X.
会议名称:
《2011 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2011年
28.
Total Ionizing Dose Considerations in Space Bound Electronics Subjected to Real Time X-Ray Radioscopic Examinations
机译:
接受实时X射线射线照相检查的太空绑定电子设备中的总电离剂量注意事项
作者:
Lawrence R. K.
;
Ocheltree C. L.
会议名称:
《2011 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2011年
29.
Radiation Characterization of Commercial GaN Devices
机译:
商用GaN器件的辐射表征
作者:
Harris Richard D.
;
Scheick Leif Z.
;
Hoffman James P.
;
Thrivikraman Tushar
;
Jenabi Masud
;
Gim Yonggyu
;
Miyahira Tetsuo
会议名称:
《2011 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2011年
30.
Impact of Reference Voltage on the ELDRS Characteristics of the LM4050 Shunt Voltage Reference
机译:
参考电压对LM4050分流参考电压的ELDRS特性的影响
作者:
Kruckmeyer Kirby
;
Trinh Thang
;
McGee Larry
;
Kelly Andrew T.
会议名称:
《2011 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2011年
31.
SEU and MBU Angular Dependence of Samsung and Micron 8-Gbit SLC NAND-Flash Memories under Heavy-Ion Irradiation
机译:
重离子辐照下三星和微米8Gb SLC NAND闪存的SEU和MBU角度依赖性
作者:
Grurmann Kai
;
Walter Dietmar
;
Herrmann Martin
;
Gliem Fritz
;
Kettunen Heikki
;
Ferlet-Cavrois Veronique
会议名称:
《2011 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2011年
32.
SEEs Induced by High-Energy Protons and Neutrons in SDRAM
机译:
SDRAM中高能质子和中子引起的SEE
作者:
Quinn Heather
;
Graham Paul
;
Fairbanks Tom
会议名称:
《2011 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2011年
33.
Recent Single Event Effects Results in Advanced Reconfigurable Field Programmable Gate Arrays
机译:
最近的单个事件影响导致高级可重新配置的现场可编程门阵列
作者:
Allen Gregory R.
;
Madias George
;
Miller Eric
;
Swift Gary
会议名称:
《2011 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2011年
34.
Recent Power MOSFET Test Results
机译:
最近的功率MOSFET测试结果
作者:
Scheick Leif Z.
;
Gauthier Michael
;
Gauthier Brian
;
Triggs Brian
会议名称:
《2011 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2011年
35.
The Use of Diodes as Dose and Fluence Probes in the Experimental Beamline at the Francis H. Burr Proton Therapy Center
机译:
在弗朗西斯·H·伯尔质子治疗中心的实验光束线中,将二极管用作剂量和注量探针
作者:
Cascio Ethan W.
;
Bentefour E. H.
会议名称:
《2011 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2011年
36.
130nm Single Event Upset Performance Evaluation: Commercial vs. Hardened by Design Architectures
机译:
130nm单事件翻转性能评估:商业与设计架构的强化
作者:
Dumitru Radu
;
Hafer Craig
;
Wu Tzu-Wen
;
Rominger Rob
;
Milliken Peter
;
Bruno Kevin
;
Farris Teresa
会议名称:
《2011 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2011年
37.
Guide to the 2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop Record
机译:
2010 IEEE辐射效应数据研讨会记录指南
作者:
Hiemstra David M.
会议名称:
《2011 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2011年
38.
LEON3FT Proton SEE Test Results for the Solar Probe Plus Program
机译:
LEON3FT Proton SEE针对Solar Probe Plus计划的测试结果
作者:
Pham Chi
;
Malcom Horace
;
Maurer Richard
;
Roth David
;
Strohbehn Kim
会议名称:
《2011 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2011年
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