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Reliability Physics Symposium, 1989. 27th Annual Proceedings., International
Reliability Physics Symposium, 1989. 27th Annual Proceedings., International
召开年:
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Phoenix, AZ
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-
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1.
Characterization of electromigration under bidirectional (BC) andpulsed unidirectional (PDC) currents
机译:
双向电迁移(BC)和脉冲单向(PDC)电流
作者:
Maiz J.A.
会议名称:
《Reliability Physics Symposium, 1989. 27th Annual Proceedings., International》
2.
A study of the breakdown testing of thermal silicon oxides and theeffects of preoxidation surface treatment
机译:
热氧化硅的击穿试验研究及应用。预氧化表面处理的效果
作者:
Kao D.B.
;
deLarios J.M.
;
Helms C.R.
;
Deal B.E.
会议名称:
《Reliability Physics Symposium, 1989. 27th Annual Proceedings., International》
3.
New applications of focused ion beam technique to failure analysisand process monitoring of VLSI
机译:
聚焦离子束技术在失效分析中的新应用和VLSI的过程监控
作者:
Nikawa K.
;
Nasu K.
;
Murase M.
;
Kaito T.
;
Adachi T.
;
Inoue S.
会议名称:
《Reliability Physics Symposium, 1989. 27th Annual Proceedings., International》
4.
Electromigration of ionized cluster beam deposited aluminummetallizations
机译:
离子化簇束沉积铝的电迁移金属化
作者:
Hummel R.E.
会议名称:
《Reliability Physics Symposium, 1989. 27th Annual Proceedings., International》
5.
HAST applications: acceleration factors and results for VLSIcomponents
机译:
HAST应用:VLSI的加速因子和结果组件
作者:
Danielson D.
;
Marcyk G.
;
Babb E.
;
Kudva S.
会议名称:
《Reliability Physics Symposium, 1989. 27th Annual Proceedings., International》
6.
An investigation of the time dependence of current degradation inMOS devices
机译:
电流衰减的时间依赖性研究MOS器件
作者:
Rakkhit R.
;
Peckerar M.C.
;
Yao C.T.
会议名称:
《Reliability Physics Symposium, 1989. 27th Annual Proceedings., International》
7.
Reliability aspects of laser programmable redundancy: infrared vs.green, polysilicon vs. silicide
机译:
激光可编程冗余的可靠性方面:红外与红外绿色,多晶硅与硅化物
作者:
Chlipala J.D.
;
Scarfone L.M.
会议名称:
《Reliability Physics Symposium, 1989. 27th Annual Proceedings., International》
8.
Time dependent dielectric breakdown at 210 Å oxides
机译:
在210Å氧化物下随时间变化的介电击穿
作者:
Boyko K.C.
;
Gerlach D.L.
会议名称:
《Reliability Physics Symposium, 1989. 27th Annual Proceedings., International》
9.
Long term reliability of SiO
2
/SiN/SiO
2
thinlayer insulator formed in 9 μm deep trench on high boron concentratedsilicon
机译:
SiO
2 sub> / SiN / SiO
2 sub>薄层的长期可靠性高硼浓度下在9μm深的沟槽中形成的层绝缘子硅
作者:
Nishimura A.
;
Murata S.
;
Kuroda S.
;
Enomoto O.
;
Kitegawa H.
;
Hasegawa S.
会议名称:
《Reliability Physics Symposium, 1989. 27th Annual Proceedings., International》
10.
Interface degradation and dielectric breakdown of thin oxides dueto homogeneous charge injection
机译:
界面氧化和薄氧化物的介电击穿均匀注入电荷
作者:
Kerber M.
;
Schwalke U.
会议名称:
《Reliability Physics Symposium, 1989. 27th Annual Proceedings., International》
11.
The properties of Al-Cu/Ti films sputter deposited at elevatedtemperatures and high DC bias
机译:
高温下溅射沉积的Al-Cu / Ti薄膜的性能温度和高直流偏置
作者:
Hariu T.
;
Watanabe K.
;
Inoue M.
;
Takada T.
;
Tsuchikawa H.
会议名称:
《Reliability Physics Symposium, 1989. 27th Annual Proceedings., International》
12.
A new reliability problem associated with Ar ion sputter cleaningof interconnect vias
机译:
与Ar离子溅射清洗相关的新可靠性问题互连通孔的数量
作者:
Tomioka H.
;
Tanabe S.-i.
;
Mizukami K.
会议名称:
《Reliability Physics Symposium, 1989. 27th Annual Proceedings., International》
13.
Oxide charge trapping and HCI susceptibility of a submicron CMOSdual-poly (N+/P+) gate technology
机译:
亚微米CMOS的氧化物电荷俘获和HCI敏感性双多晶硅(N + sup> / P + sup>)门技术
作者:
Sun S.W.
;
Fu K.-Y.
;
Swift C.T.
;
Yeargain J.R.
会议名称:
《Reliability Physics Symposium, 1989. 27th Annual Proceedings., International》
14.
On-chip measurement of package related metal shift using anintegrated silicon sensor
机译:
芯片测量封装相关的金属偏移集成硅传感器
作者:
Bossche A.
会议名称:
《Reliability Physics Symposium, 1989. 27th Annual Proceedings., International》
15.
Improved EPROM moisture performance using spin-on-glass (SOG) forpassivation planarization
机译:
使用旋涂玻璃(SOG)改善了EPROM的湿气性能钝化平面化
作者:
Gaeta I.S.
;
Wu K.J.
会议名称:
《Reliability Physics Symposium, 1989. 27th Annual Proceedings., International》
16.
Effect of mechanical stress for thin SiO
2
films in TDDBand CCST characteristics
机译:
机械应力对TDDB中SiO
2 sub>薄膜的影响和CCST特性
作者:
Ohno Y.
;
Ohsaki A.
;
Kaneoka T.
;
Mitsuhashi J.
;
Hirayama M.
;
Kato T.
会议名称:
《Reliability Physics Symposium, 1989. 27th Annual Proceedings., International》
17.
The electromigration damage response time and implications for DCand pulsed characterizations
机译:
电迁移损伤响应时间及其对直流的影响和脉冲表征
作者:
Suehle J.S.
;
Schafft H.A.
会议名称:
《Reliability Physics Symposium, 1989. 27th Annual Proceedings., International》
18.
Analysis of aluminum gallium arsenide laser diodes failing due tononradiative regions behind the facets
机译:
铝砷化镓激光二极管由于故障原因的分析小平面后面的非辐射区域
作者:
Fritz W.J.
;
Bauer L.B.
;
Miller C.S.
会议名称:
《Reliability Physics Symposium, 1989. 27th Annual Proceedings., International》
19.
Angled implant fully overlapped LDD (AI-FOLD) NFETs for performanceand reliability
机译:
角形植入物完全重叠的LDD(AI-FOLD)NFET可提高性能和可靠性
作者:
Bryant A.
;
Furukawa T.
;
Mandelman J.
;
Mittl S.
;
Noble W.
;
Nowak E.
;
Wade W.
;
Ogura S.
;
Wordeman M.
会议名称:
《Reliability Physics Symposium, 1989. 27th Annual Proceedings., International》
20.
Interface state generation due to electron tunneling into thinoxides
机译:
由于电子隧穿成薄而产生界面态氧化物
作者:
Ozawa Y.
;
Iwase M.
;
Toriumi A.
会议名称:
《Reliability Physics Symposium, 1989. 27th Annual Proceedings., International》
21.
Hot-carrier induced instability of 0.5 μm CMOS devices patternedusing synchrotron X-ray lithography
机译:
热载流子引起的0.5μmCMOS器件的不稳定性使用同步加速器X射线光刻
作者:
Hsu C.C.
;
Wang L.K.
;
Sun J.Y.
;
Wordeman M.R.
;
Ning T.H.
会议名称:
《Reliability Physics Symposium, 1989. 27th Annual Proceedings., International》
22.
Effects of copper and titanium addition to aluminum interconnectson electro- and stress-migration open circuit failures
机译:
铜和钛对铝互连件的影响电迁移和应力迁移开路故障
作者:
Hosoda T.
;
Yagi H.
;
Tsuchikawa H.
会议名称:
《Reliability Physics Symposium, 1989. 27th Annual Proceedings., International》
23.
The effects of minute impurities (H, OH, F) on theSiO
2
/Si interface investigated by nuclear resonant reactionand electron spin resonance
机译:
微量杂质(H,OH,F)对核共振反应研究SiO
2 sub> / Si界面和电子自旋共振
作者:
Ohji Y.
;
Nishioka Y.
;
Yokogawa K.
;
Mukai K.
;
Qiu Q.
;
Arai E.
;
Sugano T.
会议名称:
《Reliability Physics Symposium, 1989. 27th Annual Proceedings., International》
24.
27th Annual Proceedings. Reliability Physics 1989 (Cat.No.89CH2650-0)
机译:
第27届年度会议论文集。可靠性物理学1989(Cat。编号89CH2650-0)
会议名称:
《Reliability Physics Symposium, 1989. 27th Annual Proceedings., International》
25.
Low-voltage hot-electron currents and degradation indeep-submicrometer MOSFETs
机译:
低压热电子电流及其退化深亚微米MOSFET
作者:
Chung J.
;
Jeng M.
;
Moon J.E.
;
Ko P.K.
;
Hu C.
会议名称:
《Reliability Physics Symposium, 1989. 27th Annual Proceedings., International》
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