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Asian Test Symposium
Asian Test Symposium
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1.
Untestable Multi-Cycle Path Delay Faults in Industrial Designs
机译:
工业设计中不可遗传的多周期路径延迟故障
作者:
Manan Syal
;
Suriyaprakash Natarajan
;
Sreejit Chakravarty
;
Michael S. Hsiao
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
2.
A Unified Approach to Partial Scan Design using Genetic Algorithm
机译:
使用遗传算法进行部分扫描设计的统一方法
作者:
Arora V.
;
Sengupta I.
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
3.
A Statistical Approach to Area - Constrained Yield Enhancement for Pipelined Circuits under Parameter Variations
机译:
参数变化下流水线电路的区域约束屈服增强的统计方法
作者:
Animesh Datta
;
Swarup Bhunia
;
Saibal Mukhopadhyay
;
Kaushik Roy
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
4.
Limitation of structural scan delay test
机译:
结构扫描延迟测试的限制
作者:
Mak T.M.
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
5.
Practical Aspects of Delay Testing for Nanometer Chips
机译:
纳米芯片延迟测试的实用方面
作者:
Chickermane V.
;
Keller B.
;
McCauley K.
;
Uzzaman A.
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
6.
Compressing Functional Tests for Microprocessors
机译:
压缩微处理器的功能测试
作者:
Balakrishnan K.J.
;
Touba N.A.
;
Patil S.
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
7.
Efficient Test Architecture based on Boundary Scan for Comprehensive System Test
机译:
基于综合系统测试的边界扫描的高效测试架构
作者:
Chakraborty T.J.
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
8.
Challenges in High Speed Interface Testing
机译:
高速接口测试中的挑战
作者:
Salem Abdennadher
;
Saghir A. Shaikh
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
9.
Flash Memory Die Sort by a Sample Classification Method
机译:
闪存芯片按样本分类方法排序
作者:
Yu-Chun Dawn
;
Jen-Chieh Yeh
;
Cheng-Wen Wu
;
Chia-Ching Wang
;
Yung-Chen Lin
;
Chao-Hsun Chen
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
关键词:
Die sort;
Flash memory;
Memory testing;
Test flow;
Wafer probe;
10.
Boundary Value Testing based on UML Models
机译:
基于UML模型的边值测试
作者:
Samuel P.
;
Mall R.
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
11.
Enhancing Fault Simulation Performance by Dynamic Fault Clustering
机译:
通过动态故障聚类增强故障仿真性能
作者:
Shahrzad Mirkhani
;
Zainalabedin Navabi
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
12.
Design of a CMOS Operational Amplifier for Extreme-Voltage Stress Test
机译:
用于极电压应力测试的CMOS运算放大器的设计
作者:
Shaolei Quan
;
Qiang Qiang
;
Chin-Long Wey
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
13.
Random Jitter Testing Using Low Tap-Count Delay Lines
机译:
随机抖动测试使用低轻拍计数延迟线
作者:
Jiun-Lang Huang
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
关键词:
High-speed serial transmission;
design-fortest;
jitter testing.;
High-speed serial transmission;
design-fortest;
jitter testing.;
14.
IDDQ Testing Method using a Scan Pattern for Production Testing
机译:
IDDQ测试方法使用扫描模式进行生产测试
作者:
Junichi HIRASE
;
Yoshiyuki GOI
;
Yoshiyuki TANAKA
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
15.
Synthesis of Testable Finite State Machine Through Decomposition
机译:
通过分解合成可测试的有限状态机
作者:
Biplab K. Sikdar
;
Arijit Sarkar
;
S. Roy
;
Debesh K. Das
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
关键词:
Degree-of-freedom;
Reachability;
Emitability;
FSM state encoding;
Decomposition;
16.
Improving Test Quality Using Test Data Compression
机译:
使用测试数据压缩提高测试质量
作者:
Mukherjee N.
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
17.
IEEE Std 1500 Compliant Infrastructure for Modular SOC Testing
机译:
IEEE STD 1500兼容模块化SOC测试的基础架构
作者:
Tom Waayers
;
Erik Jan Marinissen
;
Maurice Lousberg
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
18.
IEEE Std 1500 Compliant Infrastructure forModular SOC Testing
机译:
IEEE STD 1500标准的基础设施格式SOC测试
作者:
Waayers T.
;
Marinissen E.J.
;
Lousberg M.
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
19.
Achieving High Test Quality with Reduced Pin Count Testing
机译:
通过减少针计数测试实现高测试质量
作者:
Jay Jahangiri
;
Nilanjan Mukherjee
;
Wu-Tung Cheng
;
Subramanian Mahadevan
;
Ron Press
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
20.
A Methodology to Compute Bounds on Crosstalk Effects in Arbitrary Interconnects
机译:
在任意互连中计算串扰效应的界限的方法
作者:
Wichian Sirisaengtaksin
;
Sandeep K. Gupta
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
21.
Novel Bi-partitioned Scan Architecture to Improve Transition Fault Coverage
机译:
新型双分区扫描架构,提高过渡故障覆盖
作者:
V. R. Devanathan
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
22.
A Scan Matrix Design for Low Power Scan-Based Test
机译:
基于低功耗扫描测试的扫描矩阵设计
作者:
Shih Ping Lin
;
Chung Len Lee
;
Chen J.E.
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
23.
Emerging Techniques for Test Data Compression
机译:
用于测试数据压缩的新兴技术
作者:
Balakrishnan K.J.
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
24.
A Test Cost Reduction Method by Test Response and Test Vector Overlapping for Full-Scan Test Architecture
机译:
通过测试响应测试成本降低方法和全扫描测试架构的测试矢量重叠
作者:
Shinogi T.
;
Yamada H.
;
Hayashi T.
;
Tsuruoka S.
;
Yoshikawa T.
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
25.
A BIST Scheme Based on Selecting State Generation of Folding Counters
机译:
一种基于选择状态生成折叠计数器的BIST方案
作者:
Huaguo Liang
;
Maoxiang Yi
;
Xiangsheng Fang
;
Cuiyun Jiang
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
26.
Shortening Burn-In Test: Application of a Novel Approach in optimizing Burn-In Time using Weibull Statistical Analysis with HVST
机译:
缩短烧伤测试:使用HVST使用威布尔统计分析优化燃烧时间的新方法
作者:
Fairuz Zakaria
;
Melanie Po-Leen Ooi
;
Zainal Abu Kassim
;
Serge Demidenko
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
关键词:
Burn-in reduction;
Voltage stress;
27.
Block-based Schema-driven Assertion Generation for Functional Verification
机译:
基于块的模式驱动断言,用于功能验证
作者:
Amir Hekmatpour
;
Azadeh Salehi
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
28.
Design for Testability Based on Single-Port-Change Delay Testing for Data Paths
机译:
基于单端口更改数据路径的延迟测试的可测试性设计
作者:
Yoshikaw Y.
;
Ohtake S.
;
Inoue M.
;
Fujiwara H.
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
29.
Challenges in Next Generation Mixed-Signal IC Production Testing
机译:
下一代混合信号IC生产测试挑战
作者:
Sasikumar Cherubal
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
30.
Choosing the Right Mix of At-speed Structural Test Patterns: Comparisons in Pattern Volume Reduction and Fault Detection Efficiency
机译:
选择速度结构试验图案的正确混合:图案减小和故障检测效率的比较
作者:
Sameer Goel
;
Rubin A. Parekhji
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
关键词:
Delay fault test;
Delay fault simulation;
Test optimizations;
N-detect coverage metrics;
31.
Design for Testability Based on Single-Port-Change Delay Testing for Data Paths
机译:
基于单端口更改数据路径的延迟测试的可测试性设计
作者:
Yuki Yoshikawa
;
Satoshi Ohtake
;
Michiko Inoue
;
Hideo Fujiwara
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
32.
Circuit Independent Weighted Pseudo-Random BIST Pattern Generator
机译:
电路独立加权伪随机BIST图案发生器
作者:
Chaowen Yu
;
Reddy S.M.
;
Pomeranz I.
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
33.
CryptoScan: A Secured Scan Chain Architecture
机译:
cryptocan:安全的扫描链架构
作者:
D. Mukhopadhyay
;
S. Banerjee
;
D. RoyChowdhury
;
B. B. Bhattacharya
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
34.
Low Transition LFSR for BIST-Based Applications
机译:
低转换LFSR用于基于BIST的应用程序
作者:
Tehranipoor M.
;
Nourani M.
;
Ahmed N.
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
35.
Achieving High Test Quality with Reduced Pin Count Testing
机译:
通过减少针计数测试实现高测试质量
作者:
Jahangiri J.
;
Mukherjee N.
;
Wu-Tung Cheng
;
Mahadevan S.
;
Press R.
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
36.
Shannon Expansion Based Supply-Gated Logic for Improved Power and Testability
机译:
Shannon扩展基于电源门控逻辑,可提高功率和可测试性
作者:
S. Ghosh
;
S. Bhunia
;
K. Roy
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
37.
On Improving Defect Coverage of Stuck-at Fault Tests
机译:
提高粘滞缺陷覆盖的故障测试
作者:
Miyase K.
;
Terashima K.
;
Kajihara S.
;
Xiaoqing Wen
;
Reddy S.M.
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
38.
Bridge Defect Diagnosis with Physical Information
机译:
用物理信息桥梁缺陷诊断
作者:
Wei Zou
;
Wu-Tung Cheng
;
Reddy S.M.
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
39.
Design of a CMOS Operational Amplifier for Extreme-Voltage Stress Test
机译:
用于极电压应力测试的CMOS运算放大器的设计
作者:
Shaolei Quan
;
Qiang Qiang
;
Chin-Long Wey
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
40.
A State Machine for Detecting C/C++ Memory Faults
机译:
用于检测C / C ++存储器故障的状态机
作者:
Guangyan Huang
;
Guangmei Zhang
;
Xiaowei Li
;
Yunzhan Gong
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
41.
Efficient Test Compaction for Pseudo-Random Testing
机译:
伪随机测试的高效测试压缩
作者:
Sheng Zhang
;
Sharad C. Seth
;
Bhargab B. Bhattacharya
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
关键词:
Test compaction;
Test-data compression;
Pseudo-random testing;
Built-in testing;
42.
SOC Test Scheduling with Test Set Sharing and Broadcasting
机译:
使用测试集共享和广播的SOC测试调度
作者:
Larsson A.
;
Larsson E.
;
Eles P.
;
Zebo Peng
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
43.
On Detection of Resistive Bridging Defects by Low-Temperature and Low-Voltage Testing
机译:
低温低压检测检测电阻桥接缺陷
作者:
Sandip Kundu
;
Piet Engelke
;
Ilia Polian
;
Bernd Becker
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
关键词:
Temperature testing;
Low-voltage testing;
Resistive defects;
Early-life failures;
44.
A Family of Logical Fault Models for Reversible Circuits
机译:
可逆电路的一系列逻辑故障模型
作者:
Polian I.
;
Fiehn T.
;
Becker B.
;
Hayes J.P.
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
关键词:
ATPG;
fault models;
quantum circuits;
reversible circuits;
ATPG;
fault models;
quantum circuits;
reversible circuits;
45.
On Improving Defect Coverage of Stuck-at Fault Tests
机译:
提高粘滞缺陷覆盖的故障测试
作者:
Kohei Miyase
;
Kenta Terashima
;
Seiji Kajihara
;
Xiaoqing Wen
;
Sudhakar M. Reddy
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
46.
New Self-checking Output-Duplicated Booth Multiplier with High Fault Coverage for Soft Errors
机译:
新的自检输出重复的展位乘数,具有高故障覆盖的软错误
作者:
Marienfeld D.
;
Sogomonyan E.S.
;
Ocheretnij V.
;
Gossel M.
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
47.
A Class of Linear Space Compactors for Enhanced Diagnostic
机译:
一类用于增强诊断的线性空间压实机
作者:
Thomas Clouqueur
;
Kewal K. Saluja
;
Hideo Fujiwara
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
48.
Concurrent Test Generation
机译:
并发测试生成
作者:
Vishwani D. Agrawal
;
Alok S. Doshi
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
49.
Chip Identification using the Characteristic Dispersion of Transistor
机译:
芯片识别使用晶体管的特征分散
作者:
Hirase J.
;
Furukawa T.
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
50.
On Detection of Resistive Bridging Defects by Low-Temperature and Low-Voltage Testing
机译:
低温低压检测检测电阻桥接缺陷
作者:
Kundu S.
;
Engelke P.
;
Polian I.
;
Becker B.
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
关键词:
Early-life failures;
Low-voltage testing;
Resistive defects;
Temperature testing;
Early-life failures;
Low-voltage testing;
Resistive defects;
Temperature testing;
51.
A New Low Power Test Pattern Generator using a Transition Monitoring Window based on BIST Architecture
机译:
一种新的低功耗测试模式发生器,使用基于BIST架构的转换监视窗口
作者:
Youbean Kim
;
Myung-Hoon Yang
;
Yong Lee
;
Sungho Kang
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
52.
Chip Identification using the Characteristic Dispersion of Transistor
机译:
芯片识别使用晶体管的特征分散
作者:
Junichi HIRASE
;
Tatsuya FURUKAWA
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
53.
Enhancing Fault Simulation Performance by Dynamic Fault Clustering
机译:
通过动态故障聚类增强故障仿真性能
作者:
Mirkhani S.
;
Navabi Z.
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
54.
Low-cost Production Test of BER for Wireless Receivers
机译:
用于无线接收器的低成本生产测试
作者:
Halder A.
;
Chatterjee A.
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
55.
Adaptive Encoding Scheme for Test Volume/Time Reduction in SoC Scan Testing
机译:
用于SOC扫描测试的测试体积/时间的自适应编码方案
作者:
Shih Ping Lin
;
Chung Len Lee
;
Chen J.E.
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
56.
Pseudo-Parity Testing with Testable Design
机译:
可测试设计的伪奇偶校验测试
作者:
Shiyi Xu
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
关键词:
Parity Testing;
Pseudo-parity Testing;
Parity Testable Design;
57.
Partial Gating Optimization for Power Reduction During Test Application
机译:
用于测试应用期间功率降低的部分门控优化
作者:
Mohammed ElShoukry
;
C. P. Ravikumar
;
Mohammad Tehranipoor
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
58.
Finite State Machine Synthesis for At-Speed Oscillation Testability
机译:
有限状态机合成用于速度振荡可测试性
作者:
Li K.S.-M.
;
Chung Len Lee
;
Tagin Jiang
;
Chauchin Su
;
Chen J.E.
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
59.
A Methodology to Compute Bounds on Crosstalk Effects in Arbitrary Interconnects
机译:
在任意互连中计算串扰效应的界限的方法
作者:
Sirisaengtaksin W.
;
Gupta S.K.
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
60.
Optimal Schemes for ADC BIST Based on Histogram
机译:
基于直方图的ADC BIST的最佳方案
作者:
WANG Yong-sheng
;
WANG Jin-xiang
;
LAI Feng-chang
;
YE Yi-zheng
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
61.
Current Testing for Nanotechnologies: A Demystifying Application Perspective
机译:
纳米技术目前的测试:一种脱秀的应用程序视角
作者:
Hans Manhaeve
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
62.
New Self-checking Output-Duplicated Booth Multiplier with High Fault Coverage for Soft Errors
机译:
新的自检输出重复的展位乘数,具有高故障覆盖的软错误
作者:
D. Marienfeld
;
E. S. Sogomonyan
;
V. Ocheretnij
;
M. Gossel
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
63.
On-Line Testing of Digital Circuits for n-Detect and Bridging Fault Models
机译:
用于N检测和桥接故障模型的数字电路的在线测试
作者:
Biswas S.
;
Srikanth P.
;
Jha R.
;
Mukhopadhyay S.
;
Patra A.
;
Sarkar D.
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
64.
Shortening Burn-In Test: Application of a Novel Approach in optimizing Burn-In Time using Weibull Statistical Analysis with HVST
机译:
缩短烧伤测试:使用HVST使用威布尔统计分析优化燃烧时间的新方法
作者:
Zakaria F.
;
Kassim Z.A.
;
Ooi M.P.-L.
;
Demidenko S.
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
65.
Crosstalk Fault Detection for Interconnection Lines Based on Path Delay Inertia Principle
机译:
基于路径延迟惯量原理的互连线串扰故障检测
作者:
Ming-Shae Wu
;
Chung-Len Lee
;
Yeong-Jar Chang
;
Wen-Ching Wu
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
66.
Low Power Test Compression Technique for Designs with Multiple Scan Chain
机译:
具有多扫描链设计的低功耗测试压缩技术
作者:
Youhua Shi
;
Togawa N.
;
Yanagisawa M.
;
Ohtsuki T.
;
Kimura S.
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
67.
ADAPTIVE ENCODING SCHEME FOR TEST VOLUME/TIME REDUCTION IN SOC SCAN TESTING
机译:
用于SOC扫描测试的测试体积/时间的自适应编码方案
作者:
Shih Ping Lin
;
Chung Len Lee
;
Jwu E. Chen
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
68.
Improved Delay Fault Coverage Using Subsets of Flip-flops to Launch Transitions
机译:
使用触发器子集来改进延迟故障覆盖,以启动转换
作者:
N. Devtaprasanna
;
A. Gunda
;
P. Krishnamurthy
;
S. M. Reddy
;
I. Pomeranz
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
69.
A New, Flexible and Very Accurate Crosstalk Fault Model to Analyze the Effects of Coupling Noise between the Interconnects on Signal Integrity Losses in Deep Submicron Chips
机译:
一种新的,灵活且非常准确的串扰故障模型,分析了互连耦合噪声对深亚微米芯片信号完整性损失之间的影响
作者:
Ajoy K. Palit
;
Lei Wu
;
Kishore K. Duganapalli
;
Walter Anheier
;
Juergen Schloeffel
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
关键词:
Crosstalk model;
Signal integrity;
Aggressor-victim;
ABCD-model;
Crosstalk-hazards;
70.
Cost Optimal Design of Nonlinear CA based PRPG for Test Applications
机译:
基于非线性CA PRPG的测试应用成本最优设计
作者:
Sukanta Das
;
H. Rahaman
;
Biplab K Sikdar
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
71.
Synthesis of Testable Finite State Machine Through Decomposition
机译:
通过分解合成可测试的有限状态机
作者:
Sikdar B.K.
;
Sarkar A.
;
Roy S.
;
Das D.K.
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
关键词:
FSM state encoding;
decomposition.;
degree-of-freedom;
emitability;
reachability;
FSM state encoding;
decomposition.;
degree-of-freedom;
emitability;
reachability;
72.
Defect-Oriented Test for Ultra-Low DPM
机译:
面向缺陷的超低DPM测试
作者:
Vikram Iyengar
;
Phil Nigh
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
73.
A Statistical Approach to Area-Constrained Yield Enhancement for Pipelined Circuits under Parameter Variations
机译:
参数变化下管道电路的区域约束产量增强的统计方法
作者:
Datta A.
;
Bhunia S.
;
Mukhopadhyay S.
;
Roy K.
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
74.
Low Cost Delay Testing of Nanometer SoCs Using On-Chip Clocking and Test Compression
机译:
使用片上时钟和测试压缩的纳米SOC的低成本延迟测试
作者:
Hiroyuki Nakamura
;
Anis Uzzaman
;
Tsutomu Ube
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
75.
Investigations of Faulty DRAM Behavior Using Electrical Simulation Versus an Analytical Approach
机译:
使用电模拟对抗分析方法的错误DRAM行为的研究
作者:
Zaid Al-Ars
;
Jorg Vollrath
;
Said Hamdioui
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
关键词:
DRAMs;
Faulty behavior;
Defect simulation;
Analytical evaluation;
Memory testing;
76.
The Ultimate Chase
机译:
终极追逐
作者:
Krishnamurthy P.
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
77.
An Efficient System-Level to RTL Verification Framework for Computation-Intensive Applications
机译:
用于计算密集型应用程序的RTL验证框架的高效系统级
作者:
Liveris N.D.
;
Hai Zhou
;
Banerjee P.
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
78.
Challenges in High Speed Interface Testing
机译:
高速接口测试中的挑战
作者:
Abdennadher S.
;
Shaikh S.A.
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
79.
A BIST Scheme Based on Selecting State Generation of Folding Counters
机译:
一种基于选择状态生成折叠计数器的BIST方案
作者:
Huaguo Liang
;
Maoxiang Yi
;
Xiangsheng Fang
;
Cuiyun Jiang
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
80.
Compressing Functional Tests for Microprocessors
机译:
压缩微处理器的功能测试
作者:
Kedarnath J. Balakrishnan
;
Nur A. Touba
;
Srinivas Patil
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
81.
Delay Defect Characterization Using Low Voltage Test
机译:
使用低压测试延迟缺陷表征
作者:
Haihua Yan
;
Adit D. Singh
;
Gefu Xu
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
82.
SOC Test Scheduling with Test Set Sharing and Broadcasting
机译:
使用测试集共享和广播的SOC测试调度
作者:
Anders Larsson
;
Erik Larsson
;
Petru Eles
;
Zebo Peng
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
83.
An Effective Design for Hierarchical Test Generation Based on Strong Testability
机译:
基于强可测试性的分层测试生成有效设计
作者:
Ichihara H.
;
Inoue T.
;
Okamoto N.
;
Hosokawa T.
;
Fujiwara H.
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
关键词:
Hierarchical test generation;
datapath;
strong testability;
test plan.;
Hierarchical test generation;
datapath;
strong testability;
test plan.;
84.
A DFT Method for RTL Data Paths Based on Partially Strong Testability to Guarantee Complete Fault Efficiency
机译:
基于部分强可测试性的RTL数据路径的DFT方法,以保证完全故障效率
作者:
Iwata H.
;
Yoneda T.
;
Ohtake S.
;
Fujiwara H.
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
关键词:
complete fault efficiency;
data paths;
design-for-testability;
partially strong testability;
strong testability;
complete fault efficiency;
data paths;
design-for-testability;
partially strong testability;
strong testability;
85.
ISC: Reconfigurable Scan-Cell Architecture for Low Power Testing
机译:
ISC:可重新配置的扫描单元架构,用于低功耗测试
作者:
Esmaeilzadeh H.
;
Shamshiri S.
;
Saeedi P.
;
Navabi Z.
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
86.
High Level Test Generation/ SW based Embedded Test
机译:
高级试验生成/ SW基于嵌入式测试
作者:
Praveen Parvathala
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
87.
The Automatic Generation of Basis Set of Path for Path Testing
机译:
路径测试的自动生成基础一套
作者:
Zhang Guangmei
;
Chen Rui
;
Li Xiaowei
;
Han Congying
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
88.
Efficient Test Architecture based on Boundary Scan for Comprehensive System Test
机译:
基于综合系统测试的边界扫描的高效测试架构
作者:
Tapan J. Chakraborty
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
89.
A New Low Power Test Pattern Generator using a Transition Monitoring Window based on BIST Architecture
机译:
一种新的低功耗测试模式发生器,使用基于BIST架构的转换监视窗口
作者:
Youbean Kim
;
Myung-Hoon Yang
;
Yong Lee
;
Sungho Kang
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
90.
Non-robust Test Generation for Crosstalk-Induced Delay Faults
机译:
串扰引起的延迟故障的非鲁棒测试生成
作者:
Pei-Fu Shen
;
Hua-Wei Li
;
Yong-Jun Xu
;
Xiao-Wei Li
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
91.
Low Transition LFSR for BIST-Based Applications
机译:
低转换LFSR用于基于BIST的应用程序
作者:
Mohammad Tehranipoor
;
Mehrdad Nourani
;
Nisar Ahmed
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
92.
Arithmetic Test Strategy for FFT Processor
机译:
FFT处理器的算术测试策略
作者:
Ji-Xue Xiao
;
Guang-Ju Chen
;
Yong-Le Xie
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
93.
Choosing the Right Mix of At-speed Structural Test Patterns: Comparisons in Pattern Volume Reduction and Fault Detection Efficiency
机译:
选择速度结构试验图案的正确混合:图案减小和故障检测效率的比较
作者:
Goel S.
;
Parekhji R.A.
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
关键词:
Delay fault test;
N-detect coverage metrics.;
delay fault simulation;
test optimizations;
Delay fault test;
N-detect coverage metrics.;
delay fault simulation;
test optimizations;
94.
A State Machine for Detecting C/C++ Memory Faults
机译:
用于检测C / C ++存储器故障的状态机
作者:
Guangyan Huang
;
Guangmei Zhang
;
Xiaowei Li
;
Yunzhan Gong
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
95.
Improving Test Quality Using Test Data Compression
机译:
使用测试数据压缩提高测试质量
作者:
Nilanjan Mukherjee
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
96.
Shannon Expansion Based Supply-Gated Logic for Improved Power and Testability
机译:
Shannon扩展基于电源门控逻辑,可提高功率和可测试性
作者:
Ghosh S.
;
Bhunia S.
;
Roy K.
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
97.
Using Weighted Scan Enable Signals to Improve the Effectiveness of Scan-Based BIST
机译:
使用加权扫描使能信号提高基于扫描的BIST的有效性
作者:
Dong Xiang
;
Mingjing Chen
;
Hideo Fujiwara
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
关键词:
Test signal;
Scan-based BIST;
Random testability;
Weighted random testing;
98.
Test Data Compression with Partial LFSR-Reseeding
机译:
使用部分LFSR重新确定测试数据压缩
作者:
Yu-Hsuan Fu
;
Sying-Jyan Wang
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
99.
Bridge Defect Diagnosis with Physical Information
机译:
用物理信息桥梁缺陷诊断
作者:
Wei Zou
;
Wu-Tung Cheng
;
Sudhakar M. Reddy
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
100.
Non-robust Test Generation for Crosstalk-Induced Delay Faults
机译:
串扰引起的延迟故障的非鲁棒测试生成
作者:
Pei-Fu Shen
;
Hua-Wei Li
;
Yong-Jun Xu
;
Xiao-Wei Li
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2005年
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