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Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology V
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1.
Effects of P4 annealing on ordered Ga0.52In0.48P
机译:
P4退火对有序Ga0.52In0.48P的影响
作者:
Xiaoming Yin
;
Univ. of Utah
;
Salt Lake City
;
UT
;
USA
;
Matthew C. DeLong
;
Univ. of Utah
;
Salt Lake City
;
UT
;
USA
;
Q.Li
;
Univ. of Utah
;
Salt Lake City
;
UT
;
USA
;
P.C. Taylor
;
Univ. of Utah
;
Salt Lake City
;
UT
;
USA
;
Hei-Ruey H. Jen
;
Polaroid Corp.
;
Cambridge
会议名称:
《Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology V》
|
1994年
2.
Characterization of very thin MBE-grown Ge epilayers on (001) Si
机译:
(001)Si上非常薄的MBE生长的Ge外延层的表征
作者:
Wolfgang Kissinger
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Frankfurt
;
Oder
;
Federal Republic of Germany
;
Hans J. Osten
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Frankfurt (Oder)
;
Federal Republic of Germany
;
G.Lippert
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Frankfur
会议名称:
《Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology V》
|
1994年
3.
Characterization by line-shape analysis of photoreflectance spectra for modulation-doped strained quantum wells
机译:
通过线形分析表征调制掺杂应变量子阱的光反射光谱
作者:
Godfrey Gumbs
;
CUNY/Hunter College
;
New York
;
NY
;
USA
;
Danghong Huang
;
Wayne State Univ.
;
Detroit
;
MI
;
USA.
会议名称:
《Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology V》
|
1994年
4.
Reflection high-energy electron diffraction studies of epitaxial growth on corrugated semiconductor surfaces
机译:
波纹半导体表面上外延生长的反射高能电子衍射研究
作者:
Lutz Daeweritz
;
Paul-Drude-Institut fuer Festkoerperelektronik
;
Berlin
;
Federal Republic of Germany
;
Richard Noetzel
;
Max-Planck-Institut fuer Festkoerperforschung
;
Stuttgart
;
Federal Republic of Germany
;
Klaus H. Ploog
;
Paul-Drude-Institut fuer Festkoerp
会议名称:
《Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology V》
|
1994年
5.
Photoreflectance study of the chemically modified (100) GaAs surface
机译:
化学修饰的(100)GaAs表面的光反射研究
作者:
Orest J. Glembocki
;
Naval Research Lab.
;
Washington
;
DC
;
USA
;
Judah A. Tuchman
;
Naval Research Lab.
;
Silver Spring
;
MD
;
USA
;
K.K. Ko
;
Univ. of Michigan
;
Ann Arbor
;
MI
;
USA
;
Stella W. Pang
;
Univ. of Michigan
;
Ann Arbor
;
MI
;
USA
;
John A. Dagata
;
National In
会议名称:
《Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology V》
|
1994年
6.
Optical study of lift-off multiple quantum well thin films under various types of thermally induced in-plane strain
机译:
各种热诱导面内应变下剥离多量子阱薄膜的光学研究
作者:
Hongen Shen
;
U.S. Army Research Lab.
;
Geo Centers
;
Inc.
;
Ft. Monmouth
;
NJ
;
USA
;
M.Wraback
;
U.S. Army Research Lab.
;
Fort Monmouth
;
NJ
;
USA
;
J.Pamulapati
;
U.S. Army Research Lab.
;
Fort Monmouth
;
NJ
;
USA
;
Monica A. Taysing-Lara
;
U.S. Army Research Lab.
;
Fort
会议名称:
《Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology V》
|
1994年
7.
Optical characterization of light-emitting porous silicon
机译:
发光多孔硅的光学表征
作者:
Philippe M. Fauchet
;
Univ. of Rochester
;
Rochester
;
NY
;
USA
;
L.Tsybeskov
;
Univ. of Rochester
;
Rochester
;
NY
;
USA
;
Jury V. Vandyshev
;
Univ. of Rochester
;
Rochester
;
NY
;
USA
;
A.Dubois
;
Univ. of Rochester
;
Rochester
;
NY
;
USA
;
C.Peng
;
Univ. of Rochester
;
Roch
会议名称:
《Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology V》
|
1994年
8.
Nonlinear optical phenomena in semiconductor lasers and amplifiers: physics and a
机译:
半导体激光器和放大器中的非线性光学现象:物理学和物理学
作者:
Wolfgang E. Elsaesser
;
Philipps-Univ. Marburg
;
Marburg
;
Federal Republic of Germany.
会议名称:
《Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology V》
|
1994年
9.
Measurement of ion-induced damage profiles in GaAs using modulation spectroscopy
机译:
使用调制光谱法测量GaAs中离子诱导的损伤曲线
作者:
Michael Gal
;
Univ. of New South Wales
;
Kensington
;
New South Wales
;
Australia
;
P.Kraisingdecha
;
Univ. of New South Wales
;
Kensington
;
New South Wales
;
Australia
;
Chit Shwe
;
Univ. of New South Wales
;
Mandalay
;
Myanmar
;
Burma.
会议名称:
《Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology V》
|
1994年
10.
Investigation of doped multiple quantum well structures using modulation spectroscopy
机译:
使用调制光谱研究掺杂的多量子阱结构
作者:
R.Goldhahn
;
Technische Univ. Ilmenau
;
Ilmenau
;
Federal Republic of Germany
;
Gerhard Gobsch
;
Technische Univ. Ilmenau
;
Ilmenau
;
Federal Republic of Germany
;
J.M. Chamberlain
;
Univ. of Nottingham
;
Nottingham
;
United Kingdom
;
M.Henini
;
Univ. of Nottingham
;
N
会议名称:
《Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology V》
|
1994年
11.
Interface disorder effects on confined phonons in semiconductor microstructures
机译:
界面无序对半导体微结构中有限声子的影响
作者:
B.Jusserand
;
CNET Lab. de Bagneux
;
Bagneux
;
France.
会议名称:
《Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology V》
|
1994年
12.
Correlation of optical x-ray and electron microscopy measurements on semiconductor multilayer structures
机译:
半导体多层结构的光学X射线和电子显微镜测量结果的相关性
作者:
David H. Christensen
;
National Institute of Standards
;
Technology
;
Un iv. of Colorado/Boulder
;
Boulder
;
CO
;
USA
;
Robert K. Hickernell
;
National Institute of Standards
;
Technology
;
Boulder
;
CO
;
USA
;
David T. Schaafsma
;
National Institute of Standards
;
Technolo
会议名称:
《Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology V》
|
1994年
13.
Characterization of semiconductor device structures by modulation spectroscopy
机译:
通过调制光谱表征半导体器件结构
作者:
Hao Qiang
;
CUNY/Brooklyn College
;
Brooklyn
;
NY
;
USA
;
Dong Yan
;
CUNY/Brooklyn College
;
Brooklyn
;
NY
;
USA
;
Yichun Yin
;
CUNY/Brooklyn College
;
Brooklyn
;
NY
;
USA
;
Fred H. Pollak
;
CUNY/Brooklyn College
;
Brooklyn
;
NY
;
USA.
会议名称:
《Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology V》
|
1994年
14.
Use of optical characterization for optimization of epitaxial growth
机译:
利用光学表征优化外延生长
作者:
Gary W. Wicks
;
Univ. of Rochester
;
Rochester
;
NY
;
USA.
会议名称:
《Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology V》
|
1994年
15.
Spectroscopic ellipsometry of undulated bonded silicon-on-insulator structures with oxide-nitride-oxide layers
机译:
氧化物-氮化物-氧化物层起伏的绝缘体上硅键合结构的光谱椭偏
作者:
Magdi E. El-Ghazzawi
;
Tokyo Univ. of Agriculture
;
Technology
;
Koganei
;
Tokyo
;
Japan
;
Tadashi Saitoh
;
Tokyo Univ. of Agriculture
;
Technology
;
Kokubuji
;
Tokyo
;
Japan.
会议名称:
《Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology V》
|
1994年
16.
Optical determination of (partial) ordering in ordered alloys
机译:
光学测定有序合金中(部分)有序
作者:
Judah A. Tuchman
;
Naval Research Lab.
;
Silver Spring
;
MD
;
USA
;
Orest J. Glembocki
;
Naval Research Lab.
;
Washington
;
DC
;
USA
;
R.S. Sillmon
;
Naval Research Lab.
;
Washington
;
DC
;
USA
;
E.R. Glaser
;
Naval Research Lab.
;
Washington
;
DC
;
USA
;
M.E. Twigg
;
Naval R
会议名称:
《Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology V》
|
1994年
17.
Optical processes in quantum dots and wires
机译:
量子点和量子线中的光学过程
作者:
Clivia M. Sotomayor Torres
;
Univ. of Glasgow
;
Glasgow
;
United Kingdom
;
Pei D. Wang
;
Univ. of Glasgow
;
Glasgow
;
Scotland
;
United Kingdom
;
N.N. Ledentsov
;
A.F. Ioffe Physical-Technical Institute
;
St. Petersburg
;
Russia
;
Yin-Sheng Tang
;
Univ. of Glasgow
;
Gla
会议名称:
《Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology V》
|
1994年
18.
Lateral confinement effects in the luminescence of ultranarrow InGaAs/InP quantum wires
机译:
超窄InGaAs / InP量子线的发光中的横向约束效应
作者:
Frank Kieseling
;
Univ. Wuerzburg
;
Wuerzburg
;
Federal Republic of Germany
;
P.Ils
;
Univ. Wuerzburg
;
Wuerzburg
;
Federal Republic of Germany
;
M.Michel
;
Univ. Wuerzburg
;
Wuerzburg
;
Federal Republic of Germany
;
Alfred W. Forchel
;
Univ. Wuerzburg
;
Wuerzburg
;
Fed
会议名称:
《Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology V》
|
1994年
19.
Light emission properties of porous Si
机译:
多孔硅的发光特性
作者:
Sharka M. Prokes
;
Naval Research Lab.
;
Washington
;
DC
;
USA.
会议名称:
《Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology V》
|
1994年
20.
Electronic optical properties of the condensed medium
机译:
冷凝介质的电子光学性质
作者:
Nadezhda P. Netesova
;
Lomonosov State Univ. of Moscow
;
Moscow
;
Russia.
会议名称:
《Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology V》
|
1994年
21.
Electroreflectance line-shape analysis for coupled GaAs-AlAs superlattices in strong electric fields
机译:
强电场中耦合GaAs-AlAs超晶格的电反射线形分析
作者:
Udo Behn
;
Fachhochschule Schmalkalden
;
Schmalkalden
;
Federal Republic of Germany
;
Holger T. Grahn
;
Paul-Drude-Institut fuer Festkoerperelektronik
;
Berlin
;
Federal Republic of Germany
;
Klaus H. Ploog
;
Paul-Drude-Institut fuer Festkoerperelektronik
;
Berlin
会议名称:
《Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology V》
|
1994年
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