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Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2
Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2
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1.
A compact shearing interferometer for testing optical systems
机译:
用于测试光学系统的紧凑型剪切干涉仪
作者:
Jiri Novak
;
Pavel Novak
;
Antonin Miks
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
关键词:
optical testing;
shearing interferometry;
aberrations;
wave-front reconstruction;
microscope objectives;
2.
A method for measuring the complex refractive index of a turbid medium
机译:
一种测量混浊介质的复数折射率的方法
作者:
Zhi-Cheng Jian
;
Jiun-You Lin
;
Po-Jen Hsieh
;
Huei-Wen Chen
;
Der-Chin Su
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
关键词:
heterodyne interferometry;
complex refractive index;
turbid medium;
3.
A new approach for measurement of wire diameter by optical diffraction
机译:
通过光学衍射测量线径的新方法
作者:
Yogesh C. Diwan
;
Kameswara Rao L.
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
关键词:
wire diameter;
slit width;
phase-correlation;
4.
Characterisation of high-density particle distributions for optimisation of laser cladding processes using digital holography
机译:
利用数字全息技术表征高密度粒子分布,以优化激光熔覆工艺
作者:
Volker Kebbel
;
Juergen Geldmacher
;
Knut Partes
;
Werner Jueptner
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
关键词:
digital holography;
particle image velocimetry;
laser cladding;
5.
Development and investigation of high resolution resonant pressure sensor with optical interrogation
机译:
带光学询问的高分辨率谐振压力传感器的研制与研究
作者:
Michal Jozwik
;
Christophe Gorecki
;
rei Sabac
;
Dominique Heinis
;
Thierry Dean
;
Alain Jacobelli
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
关键词:
MEMS/MOEMS;
pressure sensor;
membrane;
waveguide;
interferometry;
6.
Focal spot measurement in ultra-intense ultra-short pulse laser facility
机译:
超强超短脉冲激光设备中的焦点测量
作者:
LIU Lanqin
;
PENG Hansheng
;
ZHOU Kainan
;
WANG Xiaodong
;
WANG Xiao
;
ZENG Xiaoming
;
ZHU Qihua
;
HUANG Xiaojun
;
WEI Xiaofeng
;
Ren Huan
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
关键词:
chirped pulse amplification;
Ti:sapphire laser;
off-axis parabolic(OAP);
focus;
7.
How to detect object-caused illumination effects in 3D fringe projection
机译:
如何在3D条纹投影中检测物体引起的照明效果
作者:
Christoph Munkelt
;
Peter Kuehmstedt
;
Matthias Heinze
;
Herbert Suesse
;
Gunther Notni
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
关键词:
phasogrammetry;
shape measurement;
fringe projection;
noise reduction;
indirect illumination;
8.
Specification of vibrational modes and amplitudes in large-scale structure by time averaging moire technique
机译:
用时间平均云纹技术指定大型结构的振动模式和振幅
作者:
Saifollah Rasouli
;
Mohammad Taghi Tavassoly
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
关键词:
moire technique;
in plane vibration;
large-scale structures;
vibrational mode and amplitude;
9.
Time synchronization of oscillating objects with laser pulse in pulse interferometry
机译:
脉冲干涉法中振荡对象与激光脉冲的时间同步
作者:
Jaroslaw Bartold
;
Jacek Kacperski
;
Leszek Salbut
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
关键词:
interferometry;
microelements;
synchronization;
10.
Recent issues on development of reference materials and standarized tests of optical methods of strain measurement
机译:
参考材料开发和应变测量光学方法标准化测试的最新问题
作者:
Richard Burguete
;
Erwin Hack
;
Malgorzata Kujawinska
;
Eann Patterson
;
Leszek Salbut
;
Qasim Saleem
;
Thorsten Siebert
;
Maurice Whelan
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
11.
The Laser-Scanning Confocal Vibrometer Microscope
机译:
激光扫描共聚焦显微镜
作者:
Christian Rembe
;
Alexer Draebenstedt
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
12.
Improving 3D surface measurement accuracy on metallic surfaces
机译:
提高金属表面的3D表面测量精度
作者:
Raghu Kokku
;
Glen Brooksby
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
关键词:
stereo imaging;
surface scatter;
sub-pixel feature detection;
3D reconstruction;
13.
Digital Holography Microscopy (DHM): Fast and robust systems for Industrial Inspection with interferometer resolution
机译:
数字全息显微术(DHM):具有干涉仪分辨率的工业检测快速,强大系统
作者:
Yves Emery
;
Etienne Cuche
;
Francois Marquet
;
Nicolas Aspert
;
Pierre Marquet
;
Jonas Kuehn
;
Mikhail Botkine
;
Tristian Colomb
;
Frederic Montfort
;
Florian Charriere
;
Christian Depeursinge
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
关键词:
digital holography microscopy;
interferometer resolution;
real time;
industrial inspection;
14.
ESPI for contouring of surfaces with discontinuities
机译:
ESPI用于对不连续表面进行轮廓处理
作者:
A. Purde
;
N. Werth
;
A. Meixner
;
A.W. Koch
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
关键词:
speckle-interferometry;
ESPI;
discontinuous surfaces;
multi wavelength contouring;
15.
Enhancement of image contrast by fluorescence in microtechnology
机译:
通过微技术中的荧光增强图像对比度
作者:
Michael Berndt
;
Rainer Tutsch
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
关键词:
fluorescence;
micro technology;
optical metrology;
microassembly;
microphotogrammetry;
16.
Enhancement of high-resolution electronic autocollimators by application of phase grating technology
机译:
应用相位光栅技术增强高分辨率电子自准直仪
作者:
Gerald Fuetterer
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
关键词:
autocollimator;
angle metrology;
simulation;
uncertainty;
small apertures;
varying working distance;
17.
EXPERIMENTAL STUDIES OF MECHANICAL JOINTS BY AUTOMATED GRATING (MOIRE) INTERFEROMETRY
机译:
机械接缝(莫尔)干涉测量机械接头的实验研究
作者:
G. Dymny
;
M. Kujawinska
;
L. Salbut
;
D. Boronski
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
关键词:
grating (moire) interferometry;
in-plane displacement;
strain measurement;
laser weld;
riveted joint;
friction stir weld;
18.
Experimental comparison of shearography and laser optical feedback imaging for crack detection in concrete structures
机译:
剪切成像和激光光反馈成像在混凝土结构裂缝检测中的实验比较
作者:
V. Muzet
;
E. Lacot
;
O. Hugon
;
Y. Guillard
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
关键词:
differential speckle interferometry;
laser optical feedback imaging;
non-destructive testing;
civil engineering;
19.
FILTER RADIOMETER BASED REALIZATION OF PHOTOMETRIC SCALE TRACEABLE TO CRYOGENIC RADIOMETER AT UME
机译:
基于滤波辐射度计的可归因于UME的深冷辐射光度计的光度标尺的实现
作者:
Murat Durak
;
Farhad Samedov
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
20.
Interferogram intensity modulation calculations using temporal phase shifting: error analysis
机译:
使用时间相移的干涉图强度调制计算:误差分析
作者:
Krzysztof Patorski
;
Adam Styk
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
关键词:
interferometry;
automatic fringe pattern analysis;
phase shifting;
vibration studies;
21.
Laser Acoustic Characterization of Ta and TaN Diffusion Barriers beneath Cu Layers
机译:
铜层下Ta和TaN扩散阻挡层的激光声学表征
作者:
Jacqueline Vollmann
;
Dieter M. Profunser
;
Juerg Bryner
;
Juerg Dual
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
关键词:
laser acoustic thin film metrology;
diffusion barrier measurement;
photo acoustic detection;
in-depth profiling;
22.
Measurement of beating effects in narrowband multimode Lamb wave displacement fields in aluminum plates by pulsed TV holography
机译:
用脉冲电视全息法测量铝板中窄带多模兰姆波位移场中的跳动效应。
作者:
Jose L. Fernez
;
Cristina Trillo
;
Angel F. Doval
;
Daniel Cernadas
;
Carlos Lopez
;
Benito V. Dorrio
;
Marta Mira
;
Francisco Rodriguez
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
关键词:
ultrasonic field;
lamb wave;
surface acoustic wave;
TV holography;
electronic speckle pattern interferometry;
23.
On-line measurements with optical scanners: metrological aspects
机译:
光学扫描仪的在线测量:计量方面
作者:
Virgil-Florin Duma
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
关键词:
metrology;
measurement systems;
optical scanners;
lasers;
monogons;
polygons;
24.
Measurements of material refractive index with a circular heterodyne interferometer
机译:
用圆外差干涉仪测量材料的折射率
作者:
Zhi-Cheng Jian
;
Jiun-You Lin
;
Po-Jen Hsieh
;
Der-Chin Su
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
关键词:
refractive index;
circular heterodyne interferometer;
isotropic material;
birefringent crystal;
fresnel equations;
25.
Methods based on one component Laser Doppler Anemometer and Hot Film Anemometer for three dimensional turbulent measurements
机译:
基于一分量激光多普勒风速仪和热膜风速仪的三维湍流测量方法
作者:
Athanasios P. Zeris
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
关键词:
laser doppler velocimeter;
hot film anemometer;
turbulent flow;
open channel;
suction;
velocity direction correlation;
turbulent statistics angle dependence;
26.
Polarization plane rotator used as a phase stepping device in a 2-channel shearing speckle interferometer
机译:
偏振平面旋转器,用作2通道剪切散斑干涉仪中的相位步进装置
作者:
Peter A.A.M. Somers
;
Nini Bhattacharya
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
关键词:
speckle interferometry;
polarization phase stepping;
polarization plane rotator;
27.
Object surface topography by means of a speckle correlation
机译:
通过散斑相关性的对象表面形貌
作者:
Petr Smid
;
Pavel Horvath
;
Petra Wagnerova
;
Miroslav Hrabovsky
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
关键词:
speckle pattern;
correlation;
non-contact measurement;
surface topography;
28.
Interferometric optical tomography applied to dendritic crystal growth model scenes
机译:
干涉光学断层摄影术应用于树状晶体生长模型场景
作者:
J-L.Dewel
;
M.Heraud
;
S.Rex
;
M.Mathes
;
T.Lanen
;
L.Joannes
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
关键词:
tomography;
interferometry;
crystal growth;
29.
The evaluation of particle counting efficacy of the new optical scattering method detecting the fluorescence for the particle number concentration standard in liquid
机译:
新型光散射法检测液体中粒子数浓度标准品的荧光的粒子计数功效评估
作者:
Takayuki Sakaguchi
;
Kensei Ehara
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
关键词:
liquid particle counter;
distinction between particles and bubbles;
fluorescence;
laser light scattering;
light scattering method;
microscopic method;
particle number concentration;
30.
Utilizing a TII aspherical measurement machine in a computer controlled polishing process
机译:
在计算机控制的抛光过程中使用TII非球面测量机
作者:
E. Pitschke
;
M. Schinhaerl
;
P. Sperber
;
R. Rascher
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
关键词:
optical measurement;
optical manufacturing;
MRF;
TII;
computer controlled polishing;
31.
TV-holographic mapping of airborne sound fields for the design of parametric arrays
机译:
机载声场的电视全息映射,用于参数阵列的设计
作者:
Holger Joost
;
Klaus D. Hinsch
;
Gerd Guelker
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
关键词:
electronic speckle pattern interferometry;
optical tomography;
sound-field analysis;
ultrasound;
parametric acoustic array;
32.
Liquid mirror as planarity standard: a simplified experimental approach
机译:
液体镜作为平面度标准:简化的实验方法
作者:
M. Vannoni
;
G. Molesini
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
33.
Zeeman Laser for Straightness Measurements
机译:
塞曼激光测量直线度
作者:
Janusz Rzepka
;
Grzegorz Budzyn
;
Wojciech Fraczek
;
Marcin Bielenin
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
34.
Wavefront reconstruction algorithms for the adaptive Shack-Hartmann sensor
机译:
自适应Shack-Hartmann传感器的波前重建算法
作者:
Lars Seifert
;
Hans J.Tiziani
;
Wolfgang Osten
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
关键词:
shack hartmann sensor;
adaptive sensor;
wavefront reconstruction;
B-spline;
zernike;
35.
Pulsed Nd:YAG laser beam profile analyse
机译:
脉冲Nd:YAG激光束轮廓分析
作者:
Hana Chmelickova
;
Hana Lapsanska
;
Radim Ctvrtlik
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
关键词:
laser;
beam;
analyse;
Nd:YAG;
monitoring;
36.
Possible application of hyperchromatic optical systems for metrology of surfaces
机译:
超彩色光学系统在表面计量学中的可能应用
作者:
Jiri Novak
;
Antonin Miks
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
关键词:
optical system design;
aberration theory;
chromatic aberration;
hyperchromats;
37.
Seismic Damage Identification using multi-line distributed fiber optic sensor system
机译:
使用多线分布式光纤传感器系统的地震损伤识别
作者:
OU Jinping
;
HOU Shuang
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
关键词:
distributed sensor;
OTDR;
seismic damage evaluation;
RC structure;
crack detection;
38.
Superconductor ceramics behavior analyses during service by speckle metrology
机译:
通过斑点测量对超导体陶瓷的性能进行分析
作者:
S Recuero
;
N res
;
M P Arroyo
;
F Lera
;
L A Angurel
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
关键词:
speckle;
DSPI;
inhomogeneous heating detection;
DSP;
environmental degradation;
39.
Local measurements by noise in dynamic force microscopy
机译:
动态力显微镜中通过噪声进行局部测量
作者:
Pascal Vairac
;
Bernard Cretin
;
Benjamin Joly
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
关键词:
thermomechanical noise;
vibration;
optical probing;
microcantilever;
40.
Laval nozzle flow characterization by Fourier-transform Mach-Zehnder interferometry
机译:
傅里叶变换Mach-Zehnder干涉法表征拉瓦尔喷嘴流量
作者:
Francisco Rodriguez
;
Benito V. Dorrio
;
Angel F. Doval
;
Cristina Trillo
;
Felix Quintero
;
Marta Mira
;
Carlos Lopez
;
Jose L. Fernez
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
关键词:
shock wave;
mach-zehnder interferometry;
gas flow;
fourier transform method;
41.
New method for real time surface cleanliness measurement
机译:
实时表面清洁度测量的新方法
作者:
Gabriel M. Bilmes
;
Daniel J. O. Orzi
;
Oscar. E. Martinez
;
Alberto Lencina
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
关键词:
laser ablation;
dirt measurement;
photoacoustics;
laser cleanliness;
42.
Phase correlation method for subpixel in-plane vibration measurements of MEMS by stroboscopic microscopy
机译:
基于频闪显微镜的MEMS亚像素面内振动测量的相位相关方法
作者:
B. Serio
;
J. J. Hunsinger
;
D. Teyssieux
;
B. Cretin
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
关键词:
MEMS;
in-plane vibration measurement;
subpixel accuracy;
motion estimation;
shift measurement;
phase correlation;
43.
Precision inspection of diameters for circular reflecting cylinders
机译:
精密检查圆形反射圆柱体的直径
作者:
Yu.V. Chugui
;
Yu.A. Lemeshko
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
关键词:
3D optical inspection;
fraunhofer diffraction;
3D diffraction;
measurement;
cylinder;
rollers;
accuracy;
44.
Point-Diffraction Fiber Interferometer for Vibration Desensitization
机译:
用于振动减敏的点衍射光纤干涉仪
作者:
Jungjae Park
;
Hagyong Kihm
;
Seung-Woo Kim
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
关键词:
point-diffraction interferometer;
single-mode optical fibers;
common-path interferometer;
spatial phase shifting;
vibration desensitization;
45.
On-line non-contact measuring of synchronizer hubs
机译:
同步轮毂的在线非接触式测量
作者:
Cesar Praga
;
Jose M. Enguita
;
Ignacio Alvarez
;
Jorge Marina
;
Nestor Martinez
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
关键词:
optical metrology;
industrial inspection;
conoscopic holography;
ISO 5725;
46.
Performance Evaluation of a Residual Stress Measurement Device Using Indentation and a Radial In-Plane ESPI Interferometer
机译:
使用压痕和径向平面ESPI干涉仪的残余应力测量设备的性能评估
作者:
Ricardo Suterio
;
Armo Albertazzi G. Jr
;
Felipe Kleber Amaral
;
erson Pacheco
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
关键词:
residual stress;
indentation;
ESPI;
radial interferometer;
47.
3D measurement of human face by stereophotogrammetry
机译:
通过立体摄影测量法对人脸进行3D测量
作者:
Holger Wagner
;
Axel Wiegmann
;
Richard Kowarschik
;
Friedrich Zoellner
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
关键词:
photogrammetry;
shape measurement;
stereovision;
face;
48.
CCD based emissivity measurements for surface characterization in heat treatment processes
机译:
基于CCD的发射率测量,用于热处理过程中的表面表征
作者:
Gerald Zauner
;
Gerald Darilion
;
Daniel Heim
;
G. Hendorfer
;
Thomas Mueller
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
关键词:
plasma nitriding;
CCD;
spectral emissivity;
surface characterization;
49.
3D optical measuring technologies and systems for industrial applications
机译:
工业应用的3D光学测量技术和系统
作者:
Yu.V. Chugui
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
关键词:
3D optical inspection;
3D diffraction;
optical measurements;
hole inspection;
shadow method;
structured illumination method;
surface measurements;
laser triangulation method;
wheel pairs inspection;
50.
500-mm-aperture wavelength-tuning phase-shifting interferometer
机译:
500毫米孔径波长调谐相移干涉仪
作者:
Liqun Chai
;
Qiao Xu
;
Yingjie Yu
;
Yan Deng
;
Jiancheng Xu
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
关键词:
interferometer;
wavelenth-tuning;
phase-shifting algorithm;
51.
Birefringence measurement by use of digital holographic microscopy: examples with fiber optics and concrete samples
机译:
使用数字全息显微镜进行双折射测量:光纤和混凝土样品的实例
作者:
Tristan Colomb
;
Etienne Cuche
;
Christian Depeursinge
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
关键词:
computer holography;
birefringence;
microscopy;
polarization;
52.
ACCURACY ANALYSIS OF MAJOR SIGNAL PROCESSING TECHNIQUES IN LASER DOPPLER VELOCIMETRY
机译:
激光多普勒测速中主要信号处理技术的准确性分析
作者:
Ivan A. Popov
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
关键词:
doppler velocimeter;
spectrum;
correlation;
zero crossings;
accuracy;
53.
Assessment of technology and (thermo)mechanical behaviour of MEMS devices by interference microscopy
机译:
通过干涉显微镜评估MEMS器件的技术和(热)机械性能
作者:
Alain Bosseboeuf
;
Cedric Breluzeau
;
Sylvain Petitgr
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
关键词:
interference microscopy;
MEMS;
profilometry;
vibrometry;
mechanical testing;
reliability;
54.
Automatic detection of the natural frequencies using digital shearography
机译:
使用数字剪切仪自动检测固有频率
作者:
Y. Gan
;
G. Kupfer
;
W. Steinchen
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
关键词:
shearographic vibration analysis;
natural frequency;
histogram statistics;
time-average method;
NDT;
55.
Close infrared thermography using an intensified CCD camera: application in nondestructive high resolution evaluation of electrothermally actuated MEMS
机译:
使用增强型CCD相机的近红外热成像:在电热驱动MEMS的无损高分辨率评估中的应用
作者:
B. Serio
;
J. J. Hunsinger
;
F. Conseil
;
P. Derderian
;
D. Collard
;
L. Buchaillot
;
M. F. Ravat
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
关键词:
near infrared thermography;
intensified camera;
MEMS temperature measurement;
electro-thermal micro-actuator;
micromachined relay;
56.
Coherent introscopy of phase-inhomogeneous surface and layers
机译:
相不均匀的表面和层的相干内窥镜检查
作者:
O.V. Angelsky
;
A.G. Ushenko
;
I. M. Vashenko
;
L. M. Bodnar
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
关键词:
phase-inhomogeneous layer;
polarization;
mueller matrix;
signal-noise relation;
biotissue;
architectonics;
correlation function;
57.
Comparison of shearography and optical fibre Bragg grating strain sensors with resistance foil strain gauge measurements
机译:
剪切成像和光纤布拉格光栅应变传感器与电阻箔应变仪测量的比较
作者:
Roger M. Groves
;
Edmon Chehura
;
Weilai Li
;
Stephen E. Staines
;
Stephen W. James
;
Ralph P. Tatam
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
关键词:
shearography;
optical fibre bragg gratings;
strain measurement;
58.
Computer generated holograms for the optical shop testing of aspheres
机译:
计算机生成的全息图,用于非球面眼镜的光学车间测试
作者:
R. Schreiner
;
T. Herrmann
;
J. Roeder
;
S. Mueller-Pfeiffer
;
O. Falkenstoerfer
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
关键词:
computer generated holograms;
CGH;
interferometry;
optical testing;
asphere;
59.
Easy-Calibration of a Structured Light Vision System Based on Neural Networks
机译:
基于神经网络的结构光视觉系统的轻松校准
作者:
Bingbing Xia
;
ShengYong Chen
;
Wanliang Wang
;
Qiu Guan
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
|
2005年
关键词:
structured light vision;
system calibration;
3D reconstruction;
neural network;
60.
Diffusion coefficient measurement of transparent liquid solutions using digital holographic interferometry
机译:
使用数字全息干涉法测量透明液体的扩散系数
作者:
Vani K Chhaniwal
;
Arun An
;
CS Narayanamurthy
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
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2005年
关键词:
digital holography;
diffusion coefficient;
61.
Effectible factors in optics profile testing
机译:
光学轮廓测试中的有效因素
作者:
Ren Huan
;
Jiang Xiaodong
;
Huang Zuxin
;
Xu Hua
;
Zhong Wei
;
Li Ke
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
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2005年
关键词:
optics;
profile;
peak- valley;
interference;
testing;
GRMS;
PSD;
impact;
factor;
mask;
62.
Fast distance sensing by use of the speckle effect
机译:
利用斑点效应快速检测距离
作者:
Ervin Nippolainen
;
Dmitry V. Semenov
;
Alexei A. Kamshilin
;
rei V. Belyaev
;
Sergei V. reev
;
Boris S. Gurevich
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.2》
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2005年
关键词:
distance measurements;
speckles;
acousto-optical deflector;
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