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12th Asian test symposium
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1.
Test Synthesis for Datapaths Using Datapath-Comroller Functions
机译:
使用Datapath-Comroller函数对数据路径进行测试综合
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
2.
A Linear Time Fault Diagnosis Algorithm for Hypercube Multiprocessors under theMM* Comparison Model
机译:
MM *比较模型下超立方体多处理器的线性时间故障诊断算法
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
3.
A BIST Circuit for I(DDQ) Tests
机译:
用于I(DDQ)测试的BIST电路
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
4.
DDT ATPG Based on Ambiguous Delay Assignments
机译:
基于模糊时延分配的DDT ATPG
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
5.
Yield, Overall Test Environment Timing Accuracy, and Defect Level Trade-offs forHigh-Speed Interconnect Device Testing
机译:
高速互连设备测试的良率,总体测试环境时序精度和缺陷级别的折衷
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
6.
Reducibility of Sequential Test Generation to Combinational Test Generation forSeveral Delay Fault Models
机译:
几个延迟故障模型的顺序测试生成到组合测试生成的可约性
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
7.
A Method of Test Plan Grouping to Shorten Test Length for RTL Data Paths under aTest Controller Area Constraint
机译:
在测试控制器区域约束下缩短RTL数据路径测试长度的测试计划分组方法
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
8.
Design Error Diagnosis Based on Verfication Techniques
机译:
基于验证技术的设计错误诊断
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
9.
Analysis of Software Test Item Generation-Comparison between High Skilled and Low Skilled Engineers
机译:
高技能和低技能工程师的软件测试项目生成比较分析
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
10.
Optimizing Test Access Mechanism under Constrains by Genetic Local Search Algorithm
机译:
遗传局部搜索算法优化约束条件下的测试访问机制
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
11.
Assessing Software Implemented Fault Detection and Fault Tolerance Mechanisms
机译:
评估软件实现的故障检测和容错机制
作者:
P. Gawkowski
;
J. Sosnowski
会议名称:
《》
|
2003年
12.
Testing Delay Faults in Embedded CAMs
机译:
测试嵌入式CAM中的延迟故障
作者:
Xiaogang Du
;
Joseph Rayhawk
;
Sudhakar M. Reddy
;
Wu-Tung Cheng
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
关键词:
delay fault;
built-in self-test;
memory BIST;
at-speed;
CAM;
13.
Yield, Overall Test Environment Timing Accuracy, and Defect Level Trade-offs for High-Speed Interconnect Device Testing
机译:
高速互连设备测试的良率,总体测试环境时序精度和缺陷级别的折衷
作者:
Baosheng Wang
;
Yong B. Cho
;
Sassan Tabatabaei
;
Andre Ivanov
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
关键词:
timing specifications testing;
testenvironment;
yield analysis;
tester OTA and yield;
highspeed interconnect testing;
14.
User-level Implementation of Checkpointing fpr Multithreaded Applications on Windows NT
机译:
Windows NT上检查点fpr多线程应用程序的用户级实现
作者:
Jin-Min Yang
;
Da-Fang Zhang
;
Xue-Dong Yang
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
15.
Testability Improvement during High-Level Synthesis
机译:
高级综合过程中的可测试性改进
作者:
Saeed Safari
;
Hadi Esmaeilzadeh
;
Amir-Hossein Jahangir
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
16.
Testing the Conformity of Transactional Attributes of Components by Simulation
机译:
通过仿真测试组件的事务属性的一致性
作者:
Zhao Hui-Qun
;
Gao Qin-Xin
;
Gao Yuan
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
关键词:
software simulating test;
PEADL;
attributes of transactional components;
17.
Test Data Volume Reduction by Test Data Realignment
机译:
通过测试数据调整减少测试数据量
作者:
Irith Pomeranz
;
Sudhakar M. Reddy
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
18.
Test Data Manipulation Techniques for Energy-Frugal, Rapid Scan Test
机译:
节电快速扫描测试的测试数据处理技术
作者:
Ozgur Sinanoglu
;
Alex Orailoglu
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
19.
Test Time Minimization for Hybrid BIST of Core-Based Systems
机译:
基于核心的系统的混合BIST的测试时间最小化
作者:
Gert Jervan
;
Petru Eles
;
Zebo Peng
;
Raimund Ubar
;
Maksim Jenihhin
会议名称:
《》
|
2003年
20.
Test Resource Partitioning Based on Efficient Response Compaction for Test Time and Tester Channels Reduction
机译:
基于有效响应压缩的测试资源划分,可缩短测试时间并减少测试人员的渠道
作者:
Yinhe Han
;
Yongjun Xu
;
Huawei Li
;
Xiaowei Li
;
Anshuman Chandra
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
21.
Test Response Compression Based on Huffman Coding
机译:
基于霍夫曼编码的测试响应压缩
作者:
Hideyuki Ichihara
;
Michihiro Shintani
;
Toshihiro Ohara
;
Tomoo Inoue
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
22.
Software-Based Delay Fault Testing of Processor Cores
机译:
基于软件的处理器内核延迟故障测试
作者:
Virendra Singh
;
Michiko Inoue
;
Kewal K Saluja
;
Hideo Fujiwara
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
23.
SOC Test Time Minimization Under Multiple Constraints
机译:
多种约束下的SOC测试时间最小化
作者:
Julien Pouget
;
Erik Larsson
;
Zebo Peng
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
24.
STAGE: A Decoding Engine Suitable for Multi-Compressed Test Data
机译:
阶段:适用于多压缩测试数据的解码引擎
作者:
Bernd Koenemann
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
25.
Stress Test for Disturb Faults in Non-volatile Memories
机译:
非易失性存储器中干扰故障的压力测试
作者:
Mohammad Gh. Mohammad
;
Kewal K. Saluja
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
26.
SAT-based Algorithm of Verification for Port Order Fault
机译:
基于SAT的端口顺序故障验证算法
作者:
Ming Shao
;
Guanghui Li
;
Xiaowei Li
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
27.
Sharing BIST with Multiple Cores for System-on-a-Chip
机译:
与多核共享BIST用于片上系统
作者:
Huaguo Liang
;
Cuiyun Jiang
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
28.
Probability Model for Faults in Large-Scale Multicomputer Systems
机译:
大型多计算机系统中的故障概率模型
作者:
GAOCAI WANG
;
JIANER CHEN
;
GUOJUN WANG
;
SONGQIAO CHEN
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
29.
Optimal System-on-Chip Test Scheduling
机译:
最佳片上系统测试计划
作者:
Erik Larsson
;
Hideo Fujiwara
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
30.
On Estimation of Fault Efficiency for Path Delay Faults
机译:
路径延迟故障的故障效率估计
作者:
Masayasu Fukunaga
;
Seiji Kajihara
;
Sadami Takeoka
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
31.
On-Chip Short-Time Interval Measurement for High-Speed Signal Timing Characterization
机译:
片内短时间隔测量,用于高速信号时序表征
作者:
Tian Xia
;
Jien-Chung Lo
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
32.
Leveraging Infrastructure IP for SoC Yield
机译:
利用基础架构IP来提高SoC产量
作者:
Yervant Zorian
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
33.
Implementation of Memory Tester Consisting of SRAM-Based Reconfigurable Cells
机译:
包含基于SRAM的可重构单元的内存测试器的实现
作者:
Yuki Yamagata
;
Kenichi Ichino
;
Masayuki Arai
;
Satoshi Fukumoto
;
Kazuhiko Iwasaki
;
Masayuki Sato
;
Hiroyuki Itabashi
;
Takashi Murai
;
Nobuyuki Otsuka
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
关键词:
SRAM test;
SRAM-based reconfigurable cell;
memory tester;
marching test;
34.
I_(DDT) ATPG Based on Ambiguous Delay Assignments
机译:
基于模糊延迟分配的I_(DDT)ATPG
作者:
Jishun Kuang
;
Yu Wang
;
Xiaofen Wei
;
Changnian Zhang
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
关键词:
I_(DDT) testing;
delay assignments;
stuck-open fault;
35.
Fault Detection for Testable Realizations of Multiple-valued Logic Functions
机译:
故障检测,用于多值逻辑功能的可测试实现
作者:
Pan Zhongliang
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
36.
Exhaustive Test of Several Dependable Memory Architectures Designed by GRAAL Tool
机译:
GRAAL工具设计的几种可靠的内存体系结构的详尽测试
作者:
F. Bertuccelli
;
F. Bigongiari
;
A. S. Brogna
;
G. Di Natale
;
P. Prinetto
;
R. Saletti
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
37.
Equivalence Checking Using Independent Cuts
机译:
使用独立切割进行等价检查
作者:
Zhan Xu
;
Xiaolang Yan
;
Yongjiang Lu
;
Haitong Ge
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
38.
Domain Testing Based on Character String Predicate
机译:
基于字符串谓词的域测试
作者:
Ruilian Zhao
;
Michael R. Lyu
;
Yinghua Min
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
39.
Design Retargetable Platform System for Microprocessor Functional Test
机译:
设计可重定位的微处理器功能测试平台系统
作者:
Liu ling
;
Feng Wennan
;
Jia Song
;
Jiang Anping
;
Ji Lijiu
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
40.
Delay Testing of MOS Transistor with Gate Oxide Short
机译:
栅极氧化短路的MOS晶体管的延迟测试
作者:
M. Renovell
;
J.M. Galliere
;
F. Azaies
;
Y. Bertrand
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
41.
Delay Test Pattern Generation Considering Crosstalk-induced Effects
机译:
考虑串扰引起的延迟测试模式生成
作者:
Huawei Li
;
Yue Zhang
;
Xiaowei Li
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
42.
Build-In-Self-Test for Software
机译:
软件内建自测
作者:
Shiyi Xu
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
关键词:
build-in-self-test (BIST);
design for testability;
software testing;
43.
Briefing a New Approach to Improve the EMI Immunity of DSP Systems
机译:
简述提高DSP系统EMI抗扰度的新方法
作者:
Fabian Vargas
;
Rubem D. R. Fagundes
;
Daniel Barros Jr.
;
Diogo B. Brum
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
关键词:
digital signal processing (DSP) systems;
electromagnetic interference (EMI);
on-line testing;
noise immunity;
44.
BDD based Synthesis of Symmetric Functions with Full Path-Delay Fault Testability
机译:
基于BDD的具有全路径延迟故障可测试性的对称函数综合
作者:
Junhao Shi
;
Goerschwin Fey
;
Rolf Drechsler
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
45.
Between-core Vector Overlapping for Test Cost Reduction in Core Testing
机译:
核心间向量重叠以减少核心测试中的测试成本
作者:
Tsuyoshi Shinogi
;
Yuki Yamada
;
Terumine Hayashi
;
Tomohiro Yoshikawa
;
Shinji Tsuruoka
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
46.
Average Leakage Current Macromodeling for Dual-threshold Voltage Circuits
机译:
双阈值电压电路的平均漏电流宏建模
作者:
Yongjun Xu
;
Zuying Luo
;
Zhiguo Chen
;
Xiaowei Li
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
关键词:
macromodeling;
stack effect;
leakage current simulation;
propagation of signal probability;
47.
Automated Test Model Generation from Switch Level Custom Circuits
机译:
从开关级定制电路自动生成测试模型
作者:
Magdy S. Abadir
;
Jing Zeng
;
Carol Pyron
;
Juhong Zhu
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
48.
At-Speed Current Testing
机译:
全速电流测试
作者:
Yinghua Min
;
Jishun Kuang
;
Xiaoyan Niu
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
关键词:
current testing;
logical transition;
hazard;
stuck-open fault;
49.
An enhanced test generator for capacitance induced crosstalk delay faults
机译:
用于电容引起的串扰延迟故障的增强型测试发生器
作者:
Arani Sinha
;
Sandeep K. Gupta
;
Melvin A. Breuer
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
50.
An Efficient Observability Evaluation Algorithm Based on Factored Use-Def Chains
机译:
基于因果使用-Def链的有效可观察性评估算法
作者:
Tao Lv
;
Jianping Fan
;
Xiaowei Li
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
51.
An Expression's Single Fault Model and the Testing Methods
机译:
表达式的单一故障模型和测试方法
作者:
Yunzhan Gong
;
Wanli Xu
;
Xiaowei Li
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
52.
An Automatic Circuit Extractor for RTL Verification
机译:
用于RTL验证的自动电路提取器
作者:
Tun Li
;
Yang Guo
;
Sikun Li
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
53.
A VPI-based Combinational IP Core Module-based Mixed Level Serial Fault Simulation and Test Generation Methodology
机译:
基于VPI的组合IP核心模块的混合级串行故障仿真和测试生成方法
作者:
Pedram A. Riahi
;
Zainalabedin Navabi
;
Fabrizio Lombardi
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
54.
A Test Architecture for System-on-a-Chip
机译:
片上系统的测试架构
作者:
WANG Yong-sheng
;
XIAO Li-yi
;
YU Ming-yan
;
WANG Jin-xiang
;
YE Yi-zheng
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
55.
A Test Generation Approach for Systems-on-Chip that use Intellectual Property Cores
机译:
使用知识产权内核的片上系统的测试生成方法
作者:
Zhigang Jiang
;
Sandeep K. Gupta
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
56.
A Method of Test Plan Grouping to Shorten Test Length for RTL Data Paths under a Test Controller Area Constraint
机译:
在测试控制器区域约束下缩短RTL数据路径测试长度的测试计划分组方法
作者:
Toshinori Hosokawa
;
Hiroshi Date
;
Masahide Miyazaki
;
Michiaki Muraoka
;
Hideo Fujiwara
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
关键词:
test plan grouping;
test controllers;
test length;
partly compacted test plan tables;
RTL data paths;
57.
A Sigma-Delta Modulation Based BIST Scheme for A/D Converters
机译:
用于A / D转换器的基于Sigma-Delta调制的BIST方案
作者:
Kuen-Jong Lee
;
Soon-Jyh Chang
;
Ruei-Shiuan Tzeng
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
58.
A Processor-Based Built-in Self-Repair Design for Embedded Memories
机译:
基于处理器的嵌入式存储器内置自我修复设计
作者:
Chin-Lung Su
;
Rei-Fu Huang
;
Cheng-Wen Wu
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
59.
A Novel Method for Online In-Place Detection and Location of Multiple Interconnect Faults in SRAM based FPGAs
机译:
一种基于SRAM的在线就地检测和多重互连故障定位的新方法
作者:
L. Kalyan Kumar
;
Amol J. Mupid
;
Aditya S. Ramani
;
V. Kamakoti
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
60.
A BIST Architecture for FPGA Look-Up Table Testing Reduces Reconfigurations
机译:
用于FPGA查找表测试的BIST架构可减少重新配置
作者:
Ehsan Atoofian
;
Zainalabedin Navabi
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
61.
A DFT Selection Method for Reducing Test Application Time of System-on-Chips
机译:
DFT选择方法,减少芯片上系统的测试应用时间
作者:
Masahide Miyazaki
;
Toshinori Hosokawa
;
Hiroshi Date
;
Michiaki Muraoka
;
Hideo Fujiwara
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
关键词:
test scheduling;
test access mechanism;
wrapper;
design for test;
62.
A Linear Time Fault Diagnosis Algorithm for Hypercube Multiprocessors under the MM* Comparison Model
机译:
MM *比较模型下超立方体多处理器的线性时间故障诊断算法
作者:
Xiaofan Yang
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
63.
Property Classification for Functional Verification Based on CDFG
机译:
基于CDFG的功能验证的属性分类
作者:
Ming Zhu
;
Jinian Bian
;
Weimin Wu
;
Hongxi Xue
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
64.
Test-Point Selection Algorithm Using Small Signal Model for Scan-Based BIST
机译:
基于小信号模型的基于扫描的BIST测试点选择算法
作者:
He Hu
;
Sun Yihe
会议名称:
《》
|
2003年
65.
A BIST Circuit for I_(DDQ) Tests
机译:
用于I_(DDQ)测试的BIST电路
作者:
Masaki Hashizumet
;
Teppei Takedat
;
Hiroyuki Yotsuyanagit
;
Takeomi Tamesadat
;
Yukiya Miuratt
;
Kozo Kinoshita
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
66.
STUDY ON THE COST/BENEFIT/OPTIMIZATION OF SOFTWARE SAFETY TEST
机译:
软件安全性测试的成本/收益/优化研究
作者:
Meng Li
;
Zhu Xu
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
67.
Test Synthesis for Datapaths using Datapath-Controller Functions
机译:
使用数据路径控制器功能对数据路径进行测试综合
作者:
Michiko Inoue
;
Kazuhiro Suzuki
;
Hiroyuki Okamoto
;
Hideo Fujiwara
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
关键词:
design-for-testability;
RTL circuit;
at-speed testing;
hierarchical test generation;
non-scan design;
68.
RTL Concurrent Fault Simulation
机译:
RTL并发故障仿真
作者:
Li Shen
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
关键词:
high-level testing;
RTL;
circuit modeling;
fault model;
concurrent fault simulation;
69.
Fault Diagnosis for Physical Defects of Unknown Behaviors
机译:
未知行为的物理缺陷的故障诊断
作者:
Xiaoqing Wen
;
Hideo Tamamoto
;
Kewal K. Saluja
;
Kozo Kinoshita
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
70.
Extracting Precise Diagnosis of Bridging Faults From Stuck-at Fault Information
机译:
从卡住的故障信息中提取桥接故障的精确诊断
作者:
Baris Arslan
;
Alex Orailoglu
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
71.
Efficiency Analysis Safety Assessment of Automatic Testing for Safety-critical Software
机译:
安全关键软件自动测试的效率分析和安全评估
作者:
Fangmei Wu
;
Lei Huang
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
72.
Efficient Diagnosis for Multiple Intermittent Scan Chain Hold-Time Faults
机译:
多个间歇性扫描链保持时间故障的有效诊断
作者:
Yu Huang
;
Wu-Tung Cheng
;
Cheng-Ju Hsieh
;
Huan-Yung Tseng
;
Alou Huang
;
Yu-Ting Hung
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
73.
Design Error Diagnosis Based on Verification Techniques
机译:
基于验证技术的设计错误诊断
作者:
Guanghui Li
;
Ming Shao
;
Xiaowei Li
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
74.
Designing Multiple Scan Chains for Systems-on-Chip
机译:
为片上系统设计多个扫描链
作者:
Saffat Quasem
;
Sandeep Gupta
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
75.
Defect Oriented Fault Analysis for SRAM
机译:
SRAM的面向缺陷的故障分析
作者:
Rei-Fu Huang
;
Yung-Fa Chou
;
Cheng-Wen Wu
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
76.
Damage Size and Software Safety Demonstration Stress Testing
机译:
损害大小和软件安全演示压力测试
作者:
Zhongwei Xu
;
Bangxing Chen
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
77.
Conformance Test of Distributed Transaction Service
机译:
分布式交易服务的一致性测试
作者:
Chang Xu
;
Beihong Jin
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
78.
Comparison of Open and Resistive-Open Defect Test Conditions in SRAM Address Decoders
机译:
SRAM地址解码器中的开路和电阻开路缺陷测试条件的比较
作者:
Luigi Dilillo
;
Patrick Girard
;
Serge Pravossoudovitch
;
Arnaud Virazel
;
Simone Borri
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
79.
Chip-Level Diagnostic Strategy For Full-Scan Designs With Multiple Faults
机译:
具有多个故障的全扫描设计的芯片级诊断策略
作者:
Yu-Chiun Lin
;
Shi-Yu Huang
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
80.
Automated TTCN-3 Test Case Generation by means of UML Sequence Diagrams and Markov Chains
机译:
通过UML序列图和马尔可夫链自动生成TTCN-3测试用例
作者:
Matthias Beyer
;
Winfried Dulz
;
Fenhua Zhen
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
81.
Automatic Design Validation Framework for HDL Descriptions via RTL ATPG
机译:
通过RTL ATPG对HDL描述进行自动设计验证的框架
作者:
Liang Zhang
;
Michael Hsiao
;
Indradeep Ghosh
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
82.
An On-Chip Jitter Measurement Circuit for the PLL
机译:
PLL的片上抖动测量电路
作者:
Chin-Cheng Tsai
;
Chung-Len Lee
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
83.
An Object-Oriented Program Automatic Execute Model and The Research of Algorithm
机译:
面向对象的程序自动执行模型及算法研究
作者:
JIN Da-Hai
;
GONG Yun-Zhan
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
84.
Analysis of Software Test Item Generation — Comparison between High Skilled and Low Skilled Engineers —
机译:
软件测试项目生成分析—高技能和低技能工程师之间的比较—
作者:
Masayuki HIRAYAMA
;
Tetsuya YAMAMOTO
;
Osamu MIZUNO
;
Tohru KIKUNO
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
关键词:
software testing;
deviation analysis;
engineer's skill;
85.
Analyzing the Impact of Process Variations on DRAM Testing Using Border Resistance Traces
机译:
使用边界电阻迹线分析工艺变化对DRAM测试的影响
作者:
Zaid Al-Ars
;
Ad J. van de Goor
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
关键词:
DRAMs;
process variations;
border resistance trace;
defect simulation;
memory testing;
86.
A Method to Calculate the Reliability of Component-Based Software
机译:
一种基于组件的软件可靠性计算方法
作者:
Yuan Zhu
;
Jianhua Gao
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
87.
A DFT Approach for Path Delay Faults in Interconnected Circuits
机译:
互连电路中路径延迟故障的DFT方法
作者:
Irith Pomeranz
;
Sudhakar M. Reddy
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
88.
A Low-Cost Jitter Measurement Technique for BIST Applications
机译:
适用于BIST应用的低成本抖动测量技术
作者:
Jui-Jer Huang
;
Jiun-Lang Huang
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
89.
A Heuristic Approach for Design of Easily Testable PLAs Using Pass Transistor Logic
机译:
使用传递晶体管逻辑设计易于测试的PLA的启发式方法
作者:
Rafiqul Islam
;
Hafiz Md Hasan Babu
;
Mohammad Abdur Rahim Mustafa
;
Sumon Shahriar
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
90.
Reducibility of Sequential Test Generation to Combinational Test Generation for Several Delay Fault Models
机译:
几种延迟故障模型的顺序测试生成到组合测试生成的可约性
作者:
Tsuyoshi Iwagaki
;
Satoshi Ohtake
;
Hideo Fujiwara
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
91.
Reducing Scan Shifts using Folding Scan Trees
机译:
使用折叠式扫描树减少扫描移位
作者:
Hiroyuki Yotsuyanagi
;
Toshimasa Kuchii
;
Shigeki Nishikawa
;
Masaki Hashizume
;
Kozo Kinoshita
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
92.
PLL Based High Speed Functional Testing
机译:
基于PLL的高速功能测试
作者:
Jayasanker Jayabalan
;
Chee Kiang Goh
;
Ooi Ban Leong
;
Leong Mook Seng
;
Mahadevan K. Iyer
;
Andrew A.O. Tay
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
93.
Power Conscious BIST Design for Sequential Circuits using ghost-FSM
机译:
使用Ghost-FSM的时序电路的功耗意识BIST设计
作者:
S Roy
;
Biplab K Sikdar
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
关键词:
ghost-FSM;
state assignment;
multi-objective genetic algorithm;
built-in self-test;
power conscious BIST;
94.
Optimizing Test Access Mechanism under Constraints by Genetic Local Search Algorithm
机译:
遗传局部搜索算法优化约束条件下的测试访问机制
作者:
Yingxiang Wang
;
Weikang Huang
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
95.
Optimal Scan Tree Construction with Test Vector Modification for Test Compression
机译:
用于测试压缩的带有测试矢量修改的最佳扫描树构造
作者:
Kohei Miyase
;
Seiji Kajihara
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
96.
Non-Linear Cellular Automata Based PRPG Design (Without Prohibited Pattern Set) In Linear Time Complexity
机译:
线性时间复杂度中基于非线性细胞自动机的PRPG设计(无禁止模式集)
作者:
Sukanta Das
;
Anirban Kundu
;
Subhayan Sen
;
Biplab K Sikdar
;
P Pal Chaudhuri
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
97.
Non-Scan Design for Testability for Mixed RTL Circuits with Both Data Paths and Controller via Conflict Analysis
机译:
通过冲突分析对具有数据路径和控制器的混合RTL电路的可测试性进行非扫描设计
作者:
Dong Xiang
;
Shan Gu
;
Hideo Fujiwara
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
98.
Measurement-based Modeling with Adaptive Sampling
机译:
基于测量的自适应采样建模
作者:
Wang Junfeng
;
Yang Jianhua
;
Xie Gaogang
;
Zhou Mingtian
;
Li Zhongcheng
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
99.
Mapping Symmetric Functions to Hierarchical Module for Path-Delay Fault Testability
机译:
将对称函数映射到分层模块以实现路径延迟故障可测试性
作者:
Hafizur Rahaman
;
Debesh K. Das
;
Bhargab B. Bhattacharya
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
100.
March SL: A Test For All Static Linked Memory Faults
机译:
3月SL:所有静态链接内存故障的测试
作者:
Said Hamdioui
;
ZaidAl-Ars
;
Ad J. van de Goor
;
Mike Rodgers
会议名称:
《12th Asian test symposium》
|
2003年
关键词:
memory testing;
linked faults;
functional fault models;
march tests;
fault coverage;
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