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Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium
Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium
召开年:
2018
召开地:
Reno(US)
出版时间:
-
会议文集:
-
会议论文
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1.
2010 Exhibitors list
机译:
2010年参展商名单
作者:
{missing}
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
2.
President award
机译:
总统奖
作者:
{missing}
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
3.
2008 Best student paper award
机译:
2008年最佳学生论文奖
作者:
{missing}
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
4.
Front cover
机译:
封面
作者:
{missing}
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
5.
General chair's welcome
机译:
一般椅子欢迎
作者:
{missing}
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
6.
The relevance of long-duration TLP stress on system level ESD design
机译:
长持续时间TLP应力对系统级ESD设计的相关性
作者:
Boselli Gianluca
;
Salman Akram
;
Brodsky Jonathan
;
Kunz Hans
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
7.
A TLP-based characterization method for transient gate biasing of MOS devices in high-voltage technologies
机译:
高压技术中MOS器件瞬态栅极偏置的基于TLP的表征方法
作者:
Willemen Joost
;
Johnsson David
;
Cao Yiqun
;
Stecher Matthias
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
8.
TCAD study of the impact of trigger element and topology on silicon controlled rectifier turn-on behavior
机译:
TCAD研究触发元件与拓扑对硅控制整流器开启行为的影响
作者:
Bourgeat Johan
;
Entringer Christophe
;
Galy Philippe
;
Jezequel Frank
;
Bafleur Marise
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
9.
On-chip ESD protection with improved high holding current SCR (HHISCR) achieving IEC 8kV contact system level
机译:
片上ESD保护具有改进的高保持电流SCR(HHISCR)实现IEC 8KV接触系统级别
作者:
Bart Sorgeloos
;
Ilse Backers
;
Olivier Marichal
;
Bart Keppens
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
10.
A scalable Verilog-A modeling method for ESD protection devices
机译:
可扩展的Verilog-A ESD保护设备的建模方法
作者:
Li Weiying
;
Tian Yu
;
Wei Linpeng
;
Gill Chai
;
Mao Wei
;
Wang Chuanzheng
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
11.
Investigation of current flow during wafer-level CDM using real-time probing
机译:
使用实时探测对晶圆级CDM流动的研究
作者:
Jack Nathan
;
Shukla Vrashank
;
Rosenbaum Elyse
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
12.
SCCF — System to component level correlation factor
机译:
SCCF - 组件级相关因子系统
作者:
Thijs S.
;
Scholz M.
;
Linten D.
;
Griffoni A.
;
Russ C.
;
Stadler W.
;
Lafonteese D.
;
Vashchenko V.
;
Sawada M.
;
Concannon A.
;
Hopper P.
;
Jansen P.
;
Groeseneken G
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
13.
ESD stimulated ignition of metal powders
机译:
ESD刺激金属粉末的点火
作者:
Beloni Ervin
;
Dreizin Edward L.
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
14.
Building-up of system level ESD modeling: Impact of a decoupling capacitance on ESD propagation
机译:
系统级ESD建模的构建:解耦电容对ESD传播的影响
作者:
Monnereau Nicolas
;
Caignet Fabrice
;
Tremouilles David
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
15.
On the dynamic destruction of LDMOS transistors beyond voltage overshoots in high voltage ESD
机译:
关于LDMOS晶体管的动态破坏,高压ESD电压过冲
作者:
Cao Yiqun
;
Glaser Ulrich
;
Willemen Joost
;
Frei Stephan
;
Stecher Matthias
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
16.
A new ESD design methodology for high voltage DMOS applications
机译:
用于高压DMOS应用的新型ESD设计方法
作者:
Malobabic Slavica
;
Salcedo Javier A.
;
Righter Alan W.
;
Hajjar Jean-Jacques
;
Liou Juin J.
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
17.
HBM tester waveforms, equivalent circuits, and socket capacitance
机译:
HBM测试仪波形,等效电路和插座电容
作者:
Maloney Timothy J.
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
18.
SPICE simulation methodology for system level ESD design
机译:
系统级ESD设计的Spice仿真方法
作者:
Lou Lifang
;
Duvvury Charvaka
;
Jahanzeb Agha
;
Park Jae
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
19.
The effect of ESD on the performance of magnetic storage drives
机译:
ESD对磁存储驱动器性能的影响
作者:
Iben Icko Eric Timothy
;
Lee Gilda
;
Czarnecki Stanley
;
Golcher Peter
;
Lam Michelle
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
20.
A novel physical model for the SCR ESD protection device
机译:
SCR ESD保护装置的新型物理模型
作者:
Romanescu Alexandru
;
Fonteneau Pascal
;
Legrand Charles-Alexandre
;
Ferrari Philippe
;
Arnould Jean-Daniel
;
Manouvrier Jean-Robert
;
Beckrich-Ros Helene
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
21.
CDM2 — A new CDM test method for improved test repeatability and reproducibility
机译:
CDM2 - 一种新的CDM测试方法,可改善测试重复性和再现性
作者:
Given Robert
;
Hernandez Marcos
;
Meuse Tom
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
22.
Triggering of transient latch-up (TLU) by system level ESD
机译:
系统级ESD触发瞬态闩锁(TLU)
作者:
Brodbeck Tilo
;
Stadler Wolfgang
;
Baumann Christian
;
Esmark Kai
;
Domanski Krzysztof
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
23.
A comprehensive study of MEMS behavior under EOS/ESD events: Breakdown characterization, dielectric charging, and realistic cures
机译:
EOS / ESD事件下MEMS行为的综合研究:击穿表征,介电充电和现实治疗
作者:
Tazzoli Augusto
;
Barbato Marco
;
Ritrovato Vincenzo
;
Meneghesso Gaudenzio
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
24.
Biographies
机译:
传记
作者:
{missing}
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
25.
2009 Best Paper Award
机译:
2009年最佳纸张奖
作者:
(missing)
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2011年
26.
Joel P. Weidendorf Memorial Award
机译:
Joel P. Weidendorf纪念奖
作者:
(missing)
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2011年
27.
General chair's welcome
机译:
一般椅子欢迎
作者:
(missing)
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2011年
28.
Inside front cover
机译:
在前盖内
作者:
(missing)
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2011年
29.
Industry Contribution Award
机译:
行业贡献奖
作者:
(missing)
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2011年
30.
2009 Best Student Paper Award
机译:
2009年最佳学生论文奖
作者:
(missing)
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2011年
31.
Technical program committee 2011
机译:
技术计划委员会2011年
作者:
(missing)
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2011年
32.
2011 Exhibitors list
机译:
2011年参展商名单
作者:
(missing)
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2011年
33.
2010 Friendship Award in recognition of RCJ 2010 Best Paper Award/Japan
机译:
2010年友谊奖,了解RCJ 2010年最佳纸张奖/日本
作者:
(missing)
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2011年
34.
Industry Pioneer Recognition Award
机译:
行业先锋识别奖
作者:
(missing)
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2011年
35.
Outstanding Contributions Award
机译:
杰出贡献奖
作者:
(missing)
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2011年
36.
President Award
机译:
总统奖
作者:
(missing)
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2011年
37.
Back cover
机译:
封底
作者:
(missing)
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2011年
38.
2009 Symposium Outstanding Paper Award
机译:
2009年专题讨论会卓越纸奖
作者:
(missing)
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2011年
39.
Front cover
机译:
封面
作者:
(missing)
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2011年
40.
David F. Barber Sr. Memorial Award
机译:
David F. Barber Sr.纪念奖
作者:
(missing)
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2011年
41.
History
机译:
历史
作者:
(missing)
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2011年
42.
Copyright page
机译:
版权页面
作者:
(missing)
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2011年
43.
A CDM robust 5V distributed ESD clamp network leveraging both active MOS and lateral NPN conduction
机译:
一种CDM鲁棒5V分布式ESD钳位网络,利用有源MOS和横向NPN传导
作者:
Ruth Scott
;
Stockinger Michael
;
Miller James W.
;
Whitney Vincent
;
Kearney Mark
;
Ngo Sean
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2011年
44.
ESD system level characterization and modeling methods applied to a LIN transceiver
机译:
ESD系统级别表征和应用于LIN收发器的建模方法
作者:
Besse P.
;
Lafon F.
;
Monnereau N.
;
Caignet F.
;
Laine J. P.
;
Salles A.
;
Rigour S.
;
Bafleur M.
;
Nolhier N.
;
Tremouilles D.
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2011年
45.
A predictive full chip dynamic ESD simulation and analysis tool for analog and mixed-signal ICs
机译:
模拟和混合信号IC的预测全芯片动态ESD仿真和分析工具
作者:
Tian Guangchun
;
Xiao Yunpeng
;
Connerney Duane
;
Kang Taeghyun
;
Young Alister
;
Liu Qiang
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2011年
46.
Filter models of CDM measurement channels and TLP device transients
机译:
CDM测量通道和TLP设备瞬变滤波器型号
作者:
Maloney Timothy J.
;
Daniel Abishai
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2011年
47.
Investigation of statistical tools to analyze repetitive HMM stress endurance of system-level ESD protection
机译:
统计工具的调查分析重复肝病耐力耐力的系统级ESD保护
作者:
Diatta Marianne
;
Tremouilles David
;
Bouyssou Emilien
;
Bafleur Marise
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2011年
48.
Voltage monitor circuit for ESD diagnosis
机译:
用于ESD诊断的电压监控电路
作者:
Jack Nathan
;
Rosenbaum Elyse
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2011年
49.
ESD robust DeMOS devices in advanced CMOS technologies
机译:
ESD高级CMOS技术中的强大演示设备
作者:
Shrivastava Mayank
;
Russ Christian
;
Gossner Harald
;
Bychikhin S.
;
Pogany D.
;
Gornik E.
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2011年
50.
New high voltage ESD protection devices based on bipolar transistors for automotive applications
机译:
基于双极晶体管的新型高压ESD保护装置,用于汽车应用
作者:
Gendron Amaury
;
Gill Chai
;
Zhan Carol
;
Kaneshiro Mike
;
Cowden Bill
;
Hong Changsoo
;
Ida Richard
;
Nguyen Dung
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2011年
51.
The impact of electrical overstress on the design, handling and application of integrated circuits
机译:
电源转音对集成电路设计,处理和应用的影响
作者:
Kaschani K. T.
;
Gartner R.
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2011年
52.
Effect of on-chip ESD protection on 10 Gb/s receivers
机译:
片上ESD保护对10 GB / S接收器的影响
作者:
Faust Adam C.
;
Srivastava Ankit
;
Rosenbaum Elyse
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2011年
53.
ESD simulation with Wunsch-Bell based behavior modeling methodology
机译:
基于Wunsch-Balt的行为建模方法的ESD仿真
作者:
Cao Yiqun
;
Glaser Ulrich
;
Willemen Joost
;
Magrini Filippo
;
Mayerhofer Michael
;
Frei Stephan
;
Stecher Matthias
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2011年
54.
A SCR-based ESD protection for MEMS — Merits and challenges
机译:
基于SCR的ESD保护,用于MEMS - 优点和挑战
作者:
Sangameswaran Sandeep
;
Thijs Steven
;
Scholz Mirko
;
De Coster Jeroen
;
Linten Dimitri
;
Groeseneken Guido
;
De Wolf Ingrid
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2011年
55.
Study of system ESD codesign of a realistic mobile board
机译:
系统ESD型号勘测董事会的研究
作者:
Johnsson David
;
Gossner Harald
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2011年
56.
Relationship between moulding compounds and tribocharging in IC manufacturing and Tape Reel shipment
机译:
IC制造和卷筒装运中模塑化合物与摩擦摩擦的关系
作者:
Christoforou Yorgos
;
Rattawat Paiboon
;
Seantumpol Pitak
;
Sukpitikul Arkhom
;
Mavinkurve Amar
;
Goumans Leon
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2011年
57.
Diode protection of GMR sensors
机译:
二极管保护GMR传感器
作者:
Iben Icko Eric Timothy
;
Gebreselasie Ephrem G
;
Loiseau Alain
;
Gauthier Robert
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2011年
58.
Interrogation of damage-state in leadfree electronics under sequential exposure to thermal aging and thermal cycling
机译:
在序贯暴露于热老化和热循环下引线电子产品中损伤状态的询问
作者:
Lall Pradeep
;
Vaidya Rahul
;
More Vikrant
;
Goebel Kai
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2011年
59.
Biographies
机译:
传记
作者:
(missing)
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2011年
60.
Electrostatic discharges from charged particles approaching a grounded surface
机译:
从接地表面接近带电粒子的静电放电
作者:
Dascalescu L.
;
Ribardiere P.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
1998年
61.
Measures against electrostatic destruction of electronic devices at electronic equipment assembly shops
机译:
电子设备装配商店电子设备静电破坏措施
作者:
Saotome K.
;
Matsuhashi K.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
1998年
62.
Fields and ESD risk from charged object introduction into hard drives
机译:
从充电对象引入硬盘驱动器的字段和ESD风险
作者:
Perry B.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
1999年
63.
ESD protection of GMR heads in manufacturing
机译:
在制造业中的GMR头部的ESD保护
作者:
Fu Jin Wu
;
Xiao Min Wang
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
1999年
64.
Electrostatic discharge (ESD) mechanism for battery charge contact failure in cordless phones
机译:
静电放电(ESD)电池电量接触机构的无绳电话
作者:
Coyle R.J.
;
Min-Chung Jon
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
1999年
65.
Measurement of ionizer performance-a new approach
机译:
测量离子发生性能 - 一种新方法
作者:
Levit L.B.
;
Desai G.G.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
1999年
66.
ESD performance optimization of ballast resistor on power AlGaAs-GaAs heterojunction bipolar transistor technology
机译:
电力Algaas-GaAs异质结双极晶体管技术的镇流器电阻的ESD性能优化
作者:
Chu C.Y.
;
Li G.P.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
1999年
67.
ESD damage by directly arcing to a MR head
机译:
ESD损坏通过直接弧线向MR HEAD弧
作者:
Li-Yan Zhu
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
1999年
68.
ESD testing of GMR heads as a function of temperature
机译:
作为温度的函数,GMR头的ESD测试
作者:
Moore C.
;
Wallash A.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
1999年
69.
Effects of aging, wiping and humidity on surface resistivity of polyethylene and polypropylene boxes
机译:
老化,擦拭和湿度对聚乙烯和聚丙烯箱表面电阻率的影响
作者:
Lesniewski T.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
1999年
70.
Using HGA antennas to measure EMI; establishing and correlating damage thresholds of GMR heads
机译:
使用HGA天线测量EMI;建立和关联GMR头的损伤阈值
作者:
Perry B.
;
Himle J.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
1999年
71.
A study of diode protection for giant magnetoresistive recording heads
机译:
巨型磁阻录音头二极管保护研究
作者:
Wallash A.
;
Wenwei Wang
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
1999年
72.
Copyright
机译:
版权
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2001年
73.
Title Page
机译:
封面
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2001年
74.
Field-induced Breakdown Esd Damage Of Magnetoresistive Recording Heads
机译:
磁阻录音头的现场诱导的击穿ESD损坏
作者:
Wallash A.
;
Honda M.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2001年
75.
GMR heads as ESD detectors - a direct assessment of subtle ESD
机译:
GMR头作为ESD探测器 - 直接评估微妙的ESD
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2001年
76.
Effect of low-level ESD on the lifetime of GMR heads
机译:
低水平ESD对GMR头寿命的影响
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2001年
77.
Contact transfer of anions from hands as a function of the use of hand lotions
机译:
从手中接触阴离子的转移作为使用手提的功能
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2001年
78.
ESD evaluation by TLP method on advanced semiconductor devices
机译:
通过TLP方法对高级半导体器件的ESD评估
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2001年
79.
A study of GMR breakdown damage in cleaning
机译:
清洗中GMR击穿损坏的研究
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2001年
80.
Transmission line pulse (TLP) testing of GMR recording heads
机译:
传输线脉冲(TLP)GMR录制头测试
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2001年
81.
The future of RF technology for established wireless markets and emerging wireless applications
机译:
RF技术的未来为既定的无线市场和新兴无线应用
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2001年
82.
Electromagnetic field generated by transient electrostatic discharges (ESD) from person charged with low electrostatic voltage
机译:
由带有低静电电压的人的瞬态静电放电(ESD)产生的电磁场
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2001年
83.
Effects Of Unbalanced Ionizers On Magnetoresistive Recording Heads
机译:
不平衡离子仪对磁阻记录头的影响
作者:
Snyder H.
;
Wallash A.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2001年
84.
DC Transient Monitoring and analysis to prevent EOS in burn-in systems
机译:
直流瞬态监控和分析,防止EOS在烧坏系统中
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2001年
85.
Why The Human Body Capacitance Is So Large
机译:
为什么人体电容如此之大
作者:
Jiusheng Huang
;
ZhanCheng Wu
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2001年
86.
Gate Burnout Of Small Signal Modfet's At Tlp Stress
机译:
在TLP压力下小信号MODFET的门烧坏
作者:
Vashchenko V.A.
;
Martynov J.B.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2001年
87.
Measurement Of Cleanroom Fabric Surface Resistivities
机译:
洁净室织物表面电阻的测量
作者:
Cooper D.W.
;
Linke R.C.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2001年
88.
Controlling ESD damage of ICs at various steps of back-end process
机译:
控制后端过程的各个步骤控制ICS的ESD损伤
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2001年
89.
The EMI/ESD environment of large server installations
机译:
大型服务器安装的EMI / ESD环境
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2001年
90.
Esd Sources Pinpointed By Analysis Of Radio Wave Emissions
机译:
通过分析无线电波排放来定位ESD来源
作者:
Bernier J.
;
Croft G.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2001年
91.
Particle Generation Of Ceramic Emitters For Cleanroom Air Ionizers
机译:
洁净室空气电离器的陶瓷发射器的颗粒生成
作者:
Okano K.
;
Posadas A.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2001年
92.
The purity, wetting, and electrical properties of static-dissipative surfactant coatings versus inherently-dissipative polymer alloys
机译:
静态耗散表面活性剂涂料与固有耗散聚合物合金的纯度,润湿和电性能
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2001年
93.
What Every Esd Engineer Needs To Understand About Patents
机译:
每个ESD工程师都需要了解专利
作者:
Matsil I.S.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2001年
94.
Shock In The Shower
机译:
淋浴时震惊
作者:
Swenson D.E.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2001年
95.
A study of the variables of electrodes used in the measurement of table and floor materials and how they affect the test results
机译:
用于测量表和地板材料的电极变量及其影响测试结果的研究
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2001年
96.
Wafer charging evaluation method of ion milling in GMR head manufacturing using antenna test element group
机译:
使用天线测试元件组GMR头制造中离子研磨的晶片充电评估方法
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2001年
97.
Using PSPICE to study transient propagation in GMR circuits
机译:
使用PSPICE在GMR电路中研究瞬态传播
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2001年
98.
A study of shunt ESD protection for GMR recording heads
机译:
GMR录制头分流ESD保护研究
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2001年
99.
Static Control Technology Preserves Ancient Egyptian Artifacts
机译:
静态控制技术保存古埃及神器
作者:
Steinman A.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2001年
100.
Performance of fiber based ESD protective packaging
机译:
基于纤维的ESD保护包装的性能
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2001年
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