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1.
Design and test of the RT-NKE task scheduling algorithm for multicore architectures
机译:
用于多核架构的RT-NKE任务调度算法的设计和测试
作者:
Renato Severo
;
Celso Maciel da Costa
;
Adriane Parraga
;
Debora Motta
;
Ivan Muller
;
Fabian Vargas
会议名称:
《2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Task analysis;
Multicore processing;
Scheduling algorithms;
Scheduling;
Partitioning algorithms;
Real-time systems;
2.
IJTAG compatible analogue embedded instruments for MPSoC life-time prediction
机译:
兼容IJTAG的模拟嵌入式仪器,用于MPSoC寿命预测
作者:
Jerrin Pathrose
;
Ghazanfar Ali
;
Hans G. Kerkhoff
会议名称:
《2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Temperature measurement;
Monitoring;
Temperature sensors;
Voltage measurement;
Instruments;
Layout;
Temperature;
3.
Alternative functional verification methodology for low and medium level designs (Applied to an AES encryption module)
机译:
适用于中低级别设计的替代功能验证方法(适用于AES加密模块)
作者:
Frank Plasencia-Balabarca
;
Edward Mitacc-Meza
;
Mario Raffo-Jara
;
Carlos Silva-Cárdenas
会议名称:
《2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Encryption;
Adaptation models;
Reliability;
Measurement;
Tools;
Object oriented modeling;
Business;
4.
Superimposed in-circuit debugging for self-healing FPGA overlays
机译:
用于自我修复FPGA覆盖层的叠加式在线调试
作者:
Alexandra Kourfali
;
Dirk Stroobandt
会议名称:
《2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Debugging;
Field programmable gate arrays;
Tools;
Computer bugs;
Observability;
Table lookup;
5.
Processor core profiling for SEU effect analysis
机译:
用于SEU效果分析的处理器核心配置文件
作者:
Rodrigo Travessini
;
Paulo R. C. Villa
;
Fabian L. Vargas
;
Eduardo Augusto Bezerra
会议名称:
《2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Registers;
Circuit faults;
Pipelines;
Single event upsets;
Tunneling magnetoresistance;
Redundancy;
6.
Direct optimization of a PCI express link equalization in industrial post-silicon validation
机译:
在工业硅后验证中直接优化PCI Express链路均衡
作者:
Francisco E. Rangel-Patiño
;
José E. Rayas-Sánchez
;
Edgar A. Vega-Ochoa
;
Nagib Hakim
会议名称:
《2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Finite impulse response filters;
Linear programming;
Optimization;
Equalizers;
Testing;
Transmitters;
Receivers;
7.
Improving approximate-TMR using multi-objective optimization genetic algorithm
机译:
使用多目标优化遗传算法改进近似TMR
作者:
I. Albandes
;
A. Serrano-Cases
;
A.J. Sánchez-Clemente
;
M. Martins
;
A. Martínez-Álvarez
;
S. Cuenca-Asensi
;
F. L. Kastensmidt
会议名称:
《2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Logic gates;
Genetic algorithms;
Libraries;
Circuit faults;
Approximation algorithms;
Optimization;
Tunneling magnetoresistance;
8.
Influence of temperature on dynamic fault behavior due to resistive defects in FinFET-based SRAMs
机译:
温度对基于FinFET的SRAM中电阻缺陷造成的动态故障行为的影响
作者:
G. Medeiros
;
E. Brum
;
L. Bolzani Poehls
;
T. Copetti
;
T. Balen
会议名称:
《2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Circuit faults;
FinFETs;
SRAM cells;
Temperature sensors;
Logic gates;
9.
Single event effect: Simulations and analysis on 3N163 PMOS transistor
机译:
单事件效果:3N163 PMOS晶体管的仿真和分析
作者:
Juliano Oliveira
;
Marcilei Aparecida Guazzelli
;
Marco Antônio Assis
;
Renato Giacomini
会议名称:
《2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Ions;
MOSFET;
Integrated circuit modeling;
Logic gates;
Tools;
Semiconductor process modeling;
Radiation effects;
10.
Architecture of an industrial analog input designed to meet safety requirements
机译:
工业模拟输入的架构,旨在满足安全要求
作者:
João de Moraes
;
Taisy Weber
;
Guilherme Müller
;
Tiago DallAgnol
;
Rafael Macedo
;
Elaine P. L. Scartezzini
;
Roque E. Dapper
;
Sergio Cechin
;
João Netto
会议名称:
《2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium》
|
2018年
关键词:
control equipment;
design engineering;
fault tolerance;
IEC standards;
industrial control;
safety systems;
11.
Automated design flow for applying Triple Modular Redundancy (TMR) in complex digital circuits
机译:
在复杂数字电路中应用三重模块冗余(TMR)的自动化设计流程
作者:
Luis Alberto Contreras Benites
;
Fernanda Lima Kastensmidt
会议名称:
《2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Tunneling magnetoresistance;
Logic gates;
Circuit faults;
Optimization;
Tools;
Redundancy;
Transient analysis;
12.
Reliability evaluation on interfacing with AXI and AXI-S on Xilinx Zynq-7000 AP-SoC
机译:
在Xilinx Zynq-7000 AP-SoC上与AXI和AXI-S接口的可靠性评估
作者:
Fabio Benevenuti
;
Fernanda Lima Kastensmidt
会议名称:
《2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium》
|
2018年
关键词:
IP networks;
Reliability;
Field programmable gate arrays;
Tools;
Process control;
Tunneling magnetoresistance;
Random access memory;
13.
Using FPGA self-produced transients to emulate SETs for SER estimation
机译:
使用FPGA自身产生的瞬态来仿真SET以进行SER估计
作者:
Fábio B. Armelin
;
Lírida A. B. Naviner
;
Roberto dAmore
会议名称:
《2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Clocks;
Transient analysis;
Distortion;
Estimation;
Delays;
Field programmable gate arrays;
Emulation;
14.
Validation of a dynamic checkpoint mechanism for Apache Hadoop with failure scenarios
机译:
带有失败场景的Apache Hadoop动态检查点机制的验证
作者:
Paulo Vinicius Cardoso
;
Patrícia Pitthan Barcelos
会议名称:
《2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Fault tolerant systems;
Fault tolerance;
Heart beat;
Monitoring;
Computer crashes;
File systems;
15.
Exploiting power supply ramp rate for calibrating cell strength in SRAM PUFs
机译:
利用电源斜率来校准SRAM PUF中的单元强度
作者:
Wendong Wang
;
Adit Singh
;
Ujjwal Guin
;
Abhijit Chatterjee
会议名称:
《2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Transistors;
Power supplies;
SRAM cells;
Aging;
Integrated circuit reliability;
16.
Fault masking ratio analysis of majority voters topologies
机译:
大多数选民拓扑的故障掩盖率分析
作者:
Ingrid F. V. Oliveira
;
Rafael B. Schvittz
;
Paulo F. Butzen
会议名称:
《2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Circuit faults;
Transistors;
Logic gates;
Transient analysis;
Tunneling magnetoresistance;
Robustness;
Redundancy;
17.
Fault-tolerant architecture with full recovery under presence of SEU
机译:
容错架构,在SEU存在下可完全恢复
作者:
Augusto Einsfeldt
;
Renato Giacomini
会议名称:
《2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Clocks;
Circuit faults;
Fault tolerance;
Fault tolerant systems;
Registers;
Computer architecture;
18.
A flexible stand-alone FPGA-based ATE for ASIC manufacturing tests
机译:
灵活的基于FPGA的独立ATE用于ASIC制造测试
作者:
Dionisio de Carvalho
;
Bruno Sanches
;
M. De Carvalho
;
Wilhelmus Van Noije
会议名称:
《2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Manufacturing;
Pins;
Integrated circuits;
Clocks;
Complexity theory;
Test pattern generators;
Logic gates;
19.
A hardware-based approach for SEU monitoring in SRAMs with weak resistive defects
机译:
基于硬件的方法在电阻缺陷较弱的SRAM中进行SEU监控
作者:
G. Redivo Pinto
;
G. Cardoso Medeiros
;
F. Vargas
;
L. Bolzani Poehls
会议名称:
《2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium》
|
2018年
关键词:
SRAM cells;
Monitoring;
Sensors;
Transistors;
Manufacturing;
Circuit faults;
20.
A metric-guided gate-sizing methodology for aging guardband reduction
机译:
一种度量指导的门径调整方法,可减少保护带的老化
作者:
Andres F. Gomez
;
Roberto Gomez
;
Victor Champac
会议名称:
《2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium》
|
2018年
关键词:
ageing;
integrated circuit reliability;
logic circuits;
logic gates;
transistor circuits;
21.
RTOS for mixed criticality applications deployed on NoC-based COTS MPSoC
机译:
用于基于NoC的COTS MPSoC上部署的混合关键性应用程序的RTOS
作者:
Stefano Esposito
;
Serhiy Avramenko
;
Massimo Violante
会议名称:
《2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Software;
Routing;
Computer architecture;
Aerospace electronics;
Topology;
Task analysis;
Nickel;
22.
Testing approximate digital circuits: Challenges and opportunities
机译:
测试近似数字电路:挑战与机遇
作者:
Marcello Traiola
;
Arnaud Virazel
;
Patrick Girard
;
Mario Barbareschi
;
Alberto Bosio
会议名称:
《2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Circuit faults;
Integrated circuits;
Testing;
Measurement uncertainty;
Digital circuits;
Perturbation methods;
23.
About on-line functionally untestable fault identification in microprocessor cores for safety-critical applications
机译:
关于用于安全关键型应用的微处理器内核中的在线功能不可测试的故障识别
作者:
R. Cantoro
;
A. Firrincieli
;
D. Piumatti
;
M. Restifo
;
E. Sanchez
;
M. Sonza Reorda
会议名称:
《2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Circuit faults;
Fault diagnosis;
Controllability;
Logic gates;
Integrated circuit modeling;
Microprocessors;
24.
Probability aware fault-injection approach for SER estimation
机译:
用于SER估计的概率感知故障注入方法
作者:
Fábio B. Armelin
;
Lírida A. B. Naviner
;
Roberto dAmore
会议名称:
《2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Circuit faults;
Estimation;
Transient analysis;
Clocks;
Field programmable gate arrays;
Decoding;
Standards;
25.
TDevCGen: A synthesis toolset of HW/SW communication protocol monitors from high-level specifications
机译:
TDevCGen:硬件/软件通信协议综合工具集,来自高级规范
作者:
Rafael Melo Macieira
;
Edna Barros
会议名称:
《2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Protocols;
Registers;
Semantics;
Syntactics;
Monitoring;
Software;
Tools;
26.
A review of approximate computing techniques towards fault mitigation in HW/SW systems
机译:
硬件/软件系统中用于缓解故障的近似计算技术的综述
作者:
Alexander Aponte-Moreno
;
Alejandro Moncada
;
Felipe Restrepo-Calle
;
Cesar Pedraza
会议名称:
《2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Software;
Hardware;
Approximate computing;
Circuit faults;
Computer architecture;
Redundancy;
Fault tolerant systems;
27.
Towards evolvable hardware and genetic algorithm operators to fail safe systems achievement
机译:
迈向可进化的硬件和遗传算法运营商,以确保系统的安全性失败
作者:
Gabriel Natan P. Silva
;
Ricardo O. Duarte
会议名称:
《2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Hardware;
Circuit faults;
Genetic algorithms;
Reliability;
Table lookup;
Complexity theory;
28.
Processor checkpoint recovery for transient faults in critical applications
机译:
处理器检查点恢复,用于关键应用程序中的瞬时故障
作者:
Paulo R. C. Villa
;
Rodrigo Travessini
;
Fabian L. Vargas
;
Eduardo A. Bezerra
会议名称:
《2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Redundancy;
Field programmable gate arrays;
Registers;
Hardware;
Tunneling magnetoresistance;
Circuit faults;
29.
Impact of process variations on the detectability of resistive short defects: Comparative analysis between 28nm Bulk and FDSOI technologies
机译:
工艺变化对电阻性短缺陷可检测性的影响:28nm Bulk与FDSOI技术的对比分析
作者:
Amit Karel
;
Florence Azais
;
Mariane Comte
;
Jean-Marc Galliere
;
Michel Renovell
会议名称:
《2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Silicon-on-insulator;
Resistance;
Transistors;
Circuit faults;
Logic gates;
Immune system;
Power supplies;
30.
Influence of passive oscillator component variation on OBT sensitivity in OTAs
机译:
无源振荡器组件变化对OTA中OBT灵敏度的影响
作者:
Pablo A. Petrashin
;
Luis E. Toledo
;
Walter J. Lancioni
;
Carlos Vazquez
;
Tinus Stander
;
Fortunato C. Dualibe
会议名称:
《2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Oscillators;
Circuit faults;
Topology;
Testing;
Sensitivity;
Transistors;
Integrated circuit modeling;
31.
Analysis of LEON3 systems integration for a Network-on-Chip
机译:
片上网络的LEON3系统集成分析
作者:
Lucas M. V. Pereira
;
Douglas R. Melo
;
Cesar A. Zeferino
;
Eduardo A. Bezerra
会议名称:
《2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Network interfaces;
Standards;
Tools;
Field programmable gate arrays;
Network-on-chip;
Systems architecture;
Libraries;
32.
Real-time validation of mixed-criticality applications
机译:
混合关键应用程序的实时验证
作者:
S. Esposito
;
J. Sini
;
M. Violante
会议名称:
《2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Testing;
Aerospace electronics;
Software;
Atmospheric modeling;
Real-time systems;
Hardware;
Computer architecture;
33.
On the use of a failure emulator mechanism at nanosatellite subsystems integration tests
机译:
在纳米卫星子系统集成测试中使用故障仿真器机制
作者:
Carlos L. G. Batista
;
Eliane Martins
;
Maria de Fátima Mattiello-Francisco
会议名称:
《2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Finite element analysis;
Robustness;
Protocols;
Space vehicles;
Testing;
Software;
Tools;
34.
Ionizing radiation modeling in DRAM transistors
机译:
DRAM晶体管中的电离辐射建模
作者:
Moritz Fieback
;
Mottaqiallah Taouil
;
Said Hamdioui
;
Marco Rovatti
会议名称:
《2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium》
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2018年
关键词:
Transistors;
Logic gates;
Mathematical model;
Random access memory;
Leakage currents;
Computational modeling;
Radiation effects;
35.
Reliability analysis on case-study traffic sign convolutional neural network on APSoC
机译:
基于APSoC的案例研究交通标志卷积神经网络的可靠性分析
作者:
Israel C. Lopes
;
Fabio Benevenuti
;
Fernanda Lima Kastensmidt
;
Altamiro A. Susin
;
Paolo Rech
会议名称:
《2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium》
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2018年
关键词:
Reliability;
Computer architecture;
Neutrons;
Field programmable gate arrays;
Mathematical model;
Kernel;
Neurons;
36.
Error detection method for the ARINC429 communication
机译:
ARINC429通信的错误检测方法
作者:
Marcos Silveira Santos
;
Roberto dAmore
会议名称:
《2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium》
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2018年
关键词:
Fault detection;
Redundancy;
Protocols;
Universal Serial Bus;
Payloads;
Testing;
Real-time systems;
37.
Using short-term fourier transform for particle detection and recognition in a CMOS oscillator-based chain
机译:
在基于CMOS振荡器的链中使用短期傅立叶变换进行粒子检测和识别
作者:
H. Aziza
;
K. Coulié
;
W. Rahajandraibe
;
R. Vauché
会议名称:
《2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium》
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2018年
关键词:
Fourier transforms;
Voltage-controlled oscillators;
Detectors;
Correlation;
Time-frequency analysis;
Sensitivity;
38.
Challenges and emerging solutions in testing HBM IO systems
机译:
测试HBM IO和系统的挑战和新兴解决方案
作者:
Salem Abdennadher
;
Michael Altmann
;
Bin Xue
会议名称:
《2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium》
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2018年
关键词:
Random access memory;
Built-in self-test;
Pins;
Integrated circuits;
Maintenance engineering;
Discrete Fourier transforms;
39.
Exploring the inherent fault tolerance of successive approximation algorithms under laser fault injection
机译:
探索激光故障注入下逐次逼近算法的固有容错能力
作者:
Gennaro S. Rodrigues
;
Fernanda L. Kastensmidt
;
Vincent Pouget
;
Alberto Bosio
会议名称:
《2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium》
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2018年
关键词:
Approximation algorithms;
Laser beams;
Semiconductor lasers;
Fault tolerance;
Fault tolerant systems;
Benchmark testing;
Approximate computing;
40.
A fault tolerant dynamically scheduled processor with partial permanent fault handling
机译:
具有部分永久性故障处理功能的容错动态调度处理器
作者:
Felix Mühlbauer
;
Lukas Schröder
;
Mario Schölzel
会议名称:
《2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium》
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2018年
关键词:
Fault tolerant systems;
Hardware;
Transient analysis;
Redundancy;
Computer architecture;
Out of order;
41.
Flexible architecture of memory BISTs
机译:
内存BIST的灵活架构
作者:
Reinaldo Silveira
;
Qadeer Qureshi
;
Rodrigo Zeli
会议名称:
《2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium》
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2018年
关键词:
Built-in self-test;
Registers;
Random access memory;
Generators;
Memory management;
IP networks;
Circuit faults;
42.
Time domain electrical characterization in zinc oxide nanoparticle thin-film transistors
机译:
氧化锌纳米粒子薄膜晶体管的时域电特性
作者:
Thales E. Becker
;
Fábio F. Vidor
;
Gilson I. Wirth
;
Thorsten Meyers
;
Julia Reker
;
Ulrich Hilleringmann
会议名称:
《2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium》
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2018年
关键词:
Zinc oxide;
II-VI semiconductor materials;
Thin film transistors;
Nanoparticles;
Logic gates;
Semiconductor device measurement;
43.
A novel method of impact and failure mechanism analysis of RF-based fault injection: A frequency response analyzer, FRA
机译:
基于射频故障注入的冲击和失效机理分析的新方法:频率响应分析仪FRA
作者:
Luiz Carlos Kretly
;
Ricardo Maltione
;
Marcelo Gradella Vilalva
会议名称:
《2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium》
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2018年
关键词:
Failure analysis;
Electromagnetic interference;
Voltage control;
Integrated circuits;
Regulators;
Clocks;
44.
Defeating hardware Trojan in microprocessor cores through software obfuscation
机译:
通过软件混淆击败微处理器内核中的硬件木马
作者:
Andrea Marcelli
;
Ernesto Sanchez
;
Giovanni Squillerò
;
Muhammad Usman Jamal
;
Afnan Imtiaz
;
Simone Machetti
;
Filippo Mangani
;
Paolo Monti
;
Davide Pola
;
Alessandro Salvato
;
Michele Simili
会议名称:
《2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium》
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2018年
关键词:
Hardware;
Trojan horses;
Logic gates;
Production;
Evolutionary computation;
Instruction sets;
45.
Post-silicon validation based on synthetic test patterns for early detection of timing anomalies
机译:
基于合成测试模式的硅后验证,可用于早期检测时序异常
作者:
Eduardo Garcia-Espinosa
;
Omar Longoria-Gandara
;
Enrique Gonzalez-Garcia
;
Arturo Veloz-Guerrero
会议名称:
《2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium》
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2018年
关键词:
Computer bugs;
Silicon;
Clocks;
Fabrication;
Flip-flops;
Delays;
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