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Theoretical Analysis of Multilayer Surface Plasmon Resonance Sensors Using Thin-Film Optical Admittance Formalism

机译：薄膜光导纳形式主义的多层表面等离子体共振传感器的理论分析

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A theoretical analysis of surface plasmon resonance (SPR) behavior of conventional Ag sensor within the Kretschmann configuration is reported using thin-film optical admittance formalism. We examine the additional layer thickness and refractive index effects on optical admittance by considering Ag/SiO2, Ag/TiO2, and Ag/Si sensors. Theoretical results show that imaginary part of admittance is more sensitive to the sensing medium refractive index change than its real part, and a maximum of angular sensitivity reached by the sensors may be obtained simply by calculating the shift of the incident angle corresponding to the minimum of admittance imaginary parts.
机译：使用薄膜光导纳形式主义，报道了传统的Ag传感器在克雷奇曼构型内的表面等离振子共振（SPR）行为的理论分析。我们通过考虑Ag / SiO2，Ag / TiO2和Ag / Si传感器来检查附加层厚度和折射率对光学导纳的影响。理论结果表明，导纳的虚部对感测介质的折射率变化的敏感度要大于其实部，并且可以通过简单地计算与入射角的最小值对应的入射角的位移来获得传感器所达到的最大角灵敏度。导纳虚部。

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