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QUANTITATIVE SURFACE ANALYSIS OF ETHYLENE-PROPYLENE POLYMERS AND THEIR SEQUENCE DISTRIBUTIONS USING TOF-SIMS

机译：基于TOF-SIM的乙烯-丙烯聚合物及其序列分布的定量表面分析

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Ethylene-propylene (C2-C3) based polymers represent the largest class of synthetic polymers. They are used in numerous and varied applications in which the surface chemistry often plays a critical role Despite the importance of these surfaces, there has been no good way of quantitatively determining the comonomer concentration and sequence distribution on these surfaces (top 10-20A). Valence band XPS and static secondary ion mass spectrometry (SSIMS) analyses have been frequently used to distinguish polyethylene (PE), polypropylene (PP) and various types of EP, but have not provided quantitative information. In this report, new static time-of-flight secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS) techniques are presented for the quantitative surface characterization1 of C2-C3 polymers, These quantitative ToF-SIMS (jpabilities are then extended down to microscopic areas (a few microns in diameter) using the imaging capability of the instrument.
机译：基于乙烯-丙烯（C2-C3）的聚合物代表了最大种类的合成聚合物。它们用于多种多样的应用中，其中表面化学通常起着至关重要的作用尽管这些表面很重要，但仍没有定量确定这些表面上共聚单体浓度和序列分布的良好方法（前10-20A）。价带XPS和静态二次离子质谱（SSIMS）分析经常被用来区分聚乙烯（PE），聚丙烯（PP）和各种类型的EP，但没有提供定量信息。在本报告中，提出了一种新的静态飞行时间二次离子质谱（ToF-SIMS）技术，用于C2-C3聚合物的定量表面表征1.这些定量的ToF-SIMS（可扩展性随后扩展到微观区域（a使用仪器的成像功能。

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