...
  • 主题
高级搜索  >
历史搜索 清空历史
首页> 外文期刊>Ultramicroscopy >A combined environmental straining specimen holder for high-voltage electron microscopy
【24h】

A combined environmental straining specimen holder for high-voltage electron microscopy

机译：用于高压电子显微镜的组合式环境应变试样架

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           
页面导航
  • 摘要
  • 著录项
  • 相似文献
  • 相关主题

摘要

A novel specimen holder that enables in situ observation of crack-tip deformation and/or fracture under a controlled environment is developed for a high-voltage electron microscope (HVEM). A window-type environmental cell (EC) that incorporates a uniaxial straining apparatus is built into a side-entry-type single-tilt specimen holder. The gas control in EC, straining apparatus esign, limited field of view for crack-tip observation, and specimen preparation for the specimen holder are presented in detail. Experimental results successfully demonstrate that the developed specimen holder is quite useful for the dynamic observation of crack-tip deformation and/or fracture subjected to a hostile environment, such as hydrogen gas.
机译：针对高压电子显微镜（HVEM），开发了一种新型标本架，该标本架能够在受控环境下现场观察裂纹尖端的变形和/或断裂。装有单轴应变仪的窗式环境池（EC）内置于侧入式单倾斜样品架中。详细介绍了EC中的气体控制，应变仪设备，用于裂纹尖端观察的有限视野以及为样品架准备的样品。实验结果成功地证明，开发的样品架对于动态观察在恶劣环境（例如氢气）下的裂纹尖端变形和/或断裂非常有用。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

  • 客服微信

  • 服务号