Leistungselektronik fur elektrische Fahrantriebe ist im Einsatz besonderen klimatischen Umweltbedingungen ausgesetzt. Besonders kritisch sind hier neben grossen Temperaturunterschieden Feuchte und Betauung, durch die im Steuergerat bei entsprechenden Bedingungen elektrochemische Migration stattfinden kann, was zu Funktionsstorungen bis hin zur Zerstorung der Baugruppe fuhren kann. Zur Uberprufung der Robustheit des Schaltungsdesigns werden deshalb standardisierte Klimaprufungen wie z.B. Betrieb der Baugruppe bei 85℃ und 85% relativer Luftfeuchte vorgeschrieben und durchgefuhrt. Bei diesen Prufungen stellt sich oft die Leiterplatte als Schwachpunkt heraus, besonders bei Leiterplatten fur Elektroantriebe, die sich durch dicke Kupferlagen und besonders hohe Spannungsbelastungen bis 500V auszeichnen. Zu beobachten sind hier u.a. Migrationserscheinungen im Inneren der Leiterplatten, sogenannte Conductive Anodic Filaments (CAF). Fur die Erprobung der CAF-Bestandigkeit von Leiterplatten wurde dazu von der IPC ein spezieller Test entwickelt, bei dem haufig Prufspannungen von 50V oder 100V verwendet werden. Der Beitrag stellt aktuelle CAF-Untersuchungsergebnisse an Leiterplatten mit bis zu 105 μm Kupferinnenlagen und Prufspannungen bis 500V vor. Auf die Testmethode, den Prufaufbau und die Gestaltung der Pruflinge wird detailliert eingegangen sowie die entscheidenden Einflussgrossen aufgezeigt.
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