Mesure de tres faibles birefringences par l'obtention d'une retroaction optique sur une diode laser

J. Morville; D. Romanini; M. Chenevier

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Mesure de tres faibles birefringences par l'obtention d'une retroaction optique sur une diode laser

机译：通过在激光二极管上获得光反馈来测量非常低的双折射

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Nous utilisions les proprietes des cavites optiques de tres haute finesse (>5.10~4) pour mesures de tres faibles birefringences intracavite. Afin de realiser l'asservissement necessaire du laser sur une frequence de resonance de la cavite, nous utilisons une diode laser monomode, source particulierement sensible a la retroaction optique. Cette retroaction est obtenue directement a partir des effets de polarisation induit par les birefringences des miroirs de haute reflectivite formant la cavite. L'estimation de la sensibilite de la technique a travers la stabilite de l'asservissement laisse envisager des mesures de birefringences intracaite inferieures a 10~(-7) radian.

机译：我们将非常高的光学腔（> 5.10〜4）的特性用于非常低的腔内双折射测量。为了在腔体的共振频率上实现对激光器的必要伺服控制，我们使用了单模激光二极管，这是一种对光反馈特别敏感的光源。该反馈直接从由形成腔的高反射率镜的双折射引起的偏振效应中获得。通过从动的稳定性来估算技术的灵敏度，可以考虑测量小于10〜（-7）弧度的内向双折射。

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来源
《Journal de Physique, IV: Proceedings of International Conference》 |2002年第5期|共2页
作者
J. Morville; D. Romanini; M. Chenevier;
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正文语种 fie
中图分类物理学;
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