• 主题
高级搜索  >
历史搜索 清空历史
首页> 外文期刊>Journal of Applied Polymer Science >QUANTITATIVE MEASUREMENT OF INTERDIFFUSION AT POLYMER-POLYMER INTERFACES WITH TEM/EDS AND EELS
【24h】

QUANTITATIVE MEASUREMENT OF INTERDIFFUSION AT POLYMER-POLYMER INTERFACES WITH TEM/EDS AND EELS

机译：用TEM / EDS和EELS定量测量聚合物与聚合物界面的互扩散

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           
页面导航
  • 摘要
  • 著录项
  • 相似文献
  • 相关主题

摘要

Transmission electron microscopy and energy dispersive spectroscopy (TEM/EDS) were used to map the concentration profile at the interface of a poly(vinyl chloride) and poly(methyl methacrylate) bilayer. Thin sections in the order of 800 Angstrom were cut using an ultramicrotome, examined with TEM, and the concentration profile was mapped with EDS. The intensity of fluorescence X-rays was adjusted for sample thickness variation by measuring the relative thickness across the interface with electron energy-loss spectroscopy (EELS). The interfacial thickness of the bilayer after 6 h at 120 degrees C was 1.5 mu m, whereas the interdiffusion coefficient was determined as 8.0 X 10(-14) cm(2)/s. (C) 1995 John Wiley and Sons, Inc. [References: 15]
机译：透射电子显微镜和能量色散光谱（TEM / EDS）用于绘制聚氯乙烯和聚甲基丙烯酸甲酯双层界面处的浓度分布图。使用超薄切片机切割800埃数量级的薄切片，用TEM检查，并用EDS绘制浓度分布图。通过使用电子能量损失谱仪（EELS）测量界面上的相对厚度，可以调整荧光X射线强度以适应样品厚度变化。双层膜在120摄氏度6小时后的界面厚度为1.5微米，而相互扩散系数确定为8.0 X 10（-14）cm（2）/ s。 （C）1995 John Wiley and Sons，Inc. [参考：15]

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

  • 客服微信

  • 服务号