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Variability of the Si-O-Si angle in amorphous-SiO2 probed by electron paramagnetic resonance and Raman spectroscopy

机译:电子顺磁共振和拉曼光谱探测非晶SiO2中Si-O-Si角的变化

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摘要

We report an experimental investigation by electron paramagnetic resonance (EPR) and Raman spectroscopy on a variety of amorphous silicon dioxide materials. Our study by EPR have permitted us to point out that the splitting of the primary hyperfine doublet of the E', center shows a relevant sample-to-sample variability, changing from similar to 41.8 to similar to 42.6 mT in the set of materials we considered. The parallel study by Raman spectroscopy has enabled us to state that this variability is attributable to the different Si-O-Si angle characterizing the matrices of the different materials.
机译:我们报告通过电子顺磁共振(EPR)和拉曼光谱对各种非晶态二氧化硅材料进行的实验研究。通过EPR进行的研究使我们指出,E'中心的超细双峰的分裂显示出相关的样品间差异,在我们的材料集中从相似的41.8 mT改变为相似的42.6 mT考虑过的。拉曼光谱学的平行研究使我们能够指出,这种变化可归因于表征不同材料基质的不同Si-O-Si角。

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