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首页> 外文期刊>Journal of Non-Crystalline Solids: A Journal Devoted to Oxide, Halide, Chalcogenide and Metallic Glasses, Amorphous Semiconductors, Non-Crystalline Films, Glass-Ceramics and Glassy Composites >Structural investigation of photonic materials at the nanolevel using XPS
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Structural investigation of photonic materials at the nanolevel using XPS

机译：使用XPS对纳米级光子材料进行结构研究

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This work deals with X-ray photoemitted spectra (XPS) from materials which are of interest for photonic applications. In particular xHfO(2) - (100 - x) SiO2 (x = 10, 20, 30 mol%) glass-ceramics planar waveguides and silver ion-exchanged (0.5, 1.5, 5 mol%) sodalime glasses are investigated. The aim of the work is to explore the material structural changes occurring at the nanometric scale which are produced during the fabrication process in order to enlighten the formation of the nanostructures. The results show that XPS is sufficiently sensitive to detect the formation of nanostructures in the analyzed materials providing at the same time also chemical information. Both these inputs are important to tune the production processes to increase the efficiency of the optical devices.
机译：这项工作处理了光子应用中感兴趣的材料的X射线光发射光谱（XPS）。特别是研究了xHfO（2）-（100-x）SiO2（x = 10、20、30 mol％）玻璃陶瓷平面波导和银离子交换（0.5、1.5、5 mol％）钠钙玻璃。这项工作的目的是探索在制造过程中产生的，在纳米尺度上发生的材料结构变化，以启发纳米结构的形成。结果表明，XPS足够灵敏，可以检测所分析材料中的纳米结构，同时提供化学信息。这两个输入对于调整生产过程以提高光学设备的效率都很重要。

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