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首页> 外文期刊>Journal of Non-Crystalline Solids: A Journal Devoted to Oxide, Halide, Chalcogenide and Metallic Glasses, Amorphous Semiconductors, Non-Crystalline Films, Glass-Ceramics and Glassy Composites >An overview of time domain spectroscopy
【24h】

An overview of time domain spectroscopy

机译：时域光谱学概述

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An introduction outlining the operational use of time domain spectroscopy (TDS) is presented. As the most common use of TDS is the reflectance mode, attention is given to reflectance measurement techniques and analysis, specifically the application of a numerical algorithm to reduce the effects of the quarter and half wavelength resonant/anti-resonant conditions, and the use of bilinear correction analysis. The bilinear analysis method is described, using suitable permittivity standards, to obtain the complex bilinear coefficients used to correct data for imperfections in sampling head response, transmission lines, connector junctions, and the like. Reflectance measurements made on chlorobenzene are presented to demonstrate the effectiveness of this analysis in correcting the data for imperfections in the measuring system and extending the useful frequency range well beyond the 'lump' circuit frequency limit. (C) 2002 Elsevier Science B.V. All rights reserved. [References: 6]
机译：介绍了概述时域光谱（TDS）的操作使用。由于TDS最常见的用途是反射率模式，因此应注意反射率测量技术和分析，特别是应用数值算法以减少四分之一和一半波长谐振/反谐振条件的影响，以及使用双线性校正分析。描述了使用合适的介电常数标准的双线性分析方法，以获得用于校正数据的复杂双线性系数，该数据用于采样头响应，传输线，连接器结等中的缺陷。介绍了在氯苯上进行的反射率测量，以证明该分析在校正测量系统中的缺陷数据以及将有用频率范围扩展到远远超出“集总”电路频率限制的有效性。 （C）2002 Elsevier Science B.V.保留所有权利。 [参考：6]

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