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High resolution deformation and damage detection using fluorescent dyes

机译：使用荧光染料的高分辨率变形和损伤检测

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We demonstrate the application of fluorescence microscopy to detect nanoscale deformation and damage in polymeric materials. Fluorescent probes were dispersed in a poly-dimethyl siloxane matrix, and were subsequently strained with and without the presence of edge cracks. This technique can reveal cracks that are invisible to white light microscopy ( smaller than 250 nm), and is outperformed only by high resolution electron or scanning probe microscopy. The technique may find applications in early stage damage detection in structural health monitoring systems for a wide variety of polymeric materials.
机译：我们证明了荧光显微镜在检测聚合物材料中的纳米级变形和破坏中的应用。将荧光探针分散在聚二甲基硅氧烷基质中，随后在有或没有边缘裂纹的情况下进行应变。此技术可以揭示白光显微镜（小于250 nm）不可见的裂纹，并且仅在高分辨率电子显微镜或扫描探针显微镜下才能胜过。该技术可在多种聚合物材料的结构健康监测系统的早期损伤检测中找到应用。

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