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首页> 外文期刊>Journal of Physics, D. Applied Physics: A Europhysics Journal >An application of phase retrieval x-ray diffiractometry to refraction/small-angle scattering data
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An application of phase retrieval x-ray diffiractometry to refraction/small-angle scattering data

机译：相位检索X射线衍射法在折射/小角度散射数据中的应用

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A recently developed experimental-analytical x-ray diffraction method for the direct, comprehensive, non-destructive characterization of crystalline materials is applied to analyse x-ray scattering data from amorphous materials. High-resolution refraction/small-angle scattering intensity profiles from a homogeneous, non-crystalline sample were collected at the 1 km long bean-dine, SPring-8, Japan. A logarithmic dispersion relation is used to determine the x-ray phase. A priori knowledge of the sample structure is utilised to reconstruct the physical characteristics of the sample with a resolution of 0.25 mum. These studies have demonstrated the viability of the technique as a new characterization method for amorphous materials. [References: 29]
机译：用于晶体材料的直接，全面，非破坏性表征的最新开发的实验分析型X射线衍射方法被用于分析来自非晶态材料的X射线散射数据。在日本SPring-8的1公里长的豆坑中，收集了均匀的非晶态样品的高分辨率折射/小角度散射强度曲线。对数色散关系用于确定X射线相位。利用样品结构的先验知识来重建分辨率为0.25 mum的样品的物理特性。这些研究证明了该技术作为非晶材料新表征方法的可行性。 [参考：29]

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