Рассмотрены обобщённые статистические оценки структур и количественных характеристик поверхностей рабочих площадок на примере рисовых чеков. Предложены формулы для определения эмпирических статистических характеристик неровностей поверхности площадок. Приведены примеры графических изображений основных характеристик этих неровностей: корреляционной поверхности и спектральной плотности. Обоснована принципиальная возможность рационального выбора технологических схем движения планирующих машин по поверхности чека.
展开▼
