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Solving the structure completion problem in surface crystallography

机译：解决表面晶体学中的结构完成问题

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Measured intensities of short-wavelength radiation diffracted from a crystal surface contain a contribution from the known bulk structure and the unknown surface structure. The recovery of the diffracted amplitude from the unknown surface from the experimental intensity measurements and from calculated amplitudes from the known bulk (treated as a reference wave) is closely analogous to holography, or to the structure completion problem in bulk crystallography. We show how an algorithm based on ideas of Bayesian statistics enables the direct recovery of the surface electro density from simulated surface X-ray diffraction data.
机译：从晶体表面衍射的短波辐射的测量强度包含已知的体结构和未知的表面结构的贡献。从实验强度测量结果和从已知块体（作为参考波）计算出的振幅中，从未知表面衍射的振幅的恢复与全息术或块状晶体学中的结构完成问题极为相似。我们将展示基于贝叶斯统计思想的算法如何从模拟的表面X射线衍射数据直接恢复表面电密度。

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