...
  • 主题
高级搜索  >
历史搜索 清空历史
首页> 外文期刊>電子情報通信学会技術研究報告. ディペンダブルコンピュ-ティング. Dependable Computing >マルチサイクルキャプチャテスト生成を用いた低消費電力指向遷移故障テスト生成法
【24h】

マルチサイクルキャプチャテスト生成を用いた低消費電力指向遷移故障テスト生成法

机译：使用多周期捕获测试生成的低功耗定向过渡故障测试生成方法

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           
页面导航
  • 摘要
  • 著录项
  • 相似文献
  • 相关主题

摘要

ディープサブミクロン時代の実速度スキャンテストにおいて，キャプチャ時の消費電力の増加が問題となっている．キャプチャ時の高い消費電力は過度のIRドロップを引き起こす可能性があり，歩留まり低下の原因のひとつに挙げられる．マルチサイクルBIST機構において，マルチサイクル間キャプチャ動作を行った後のキャプチャ時の消費電力は低いということが報告されている．本論文では，この点に着目し，キャプチャ時の消費電力を削減するために，マルチサイクルキャプチャテスト生成を用いたブロードサイドテスト用のテスト生成法を提案する．
机译：在深亚微米时代的实际速度扫描测试中，捕获期间功耗的增加已成为一个问题。捕获过程中的高功耗会导致过多的IR压降，这是低良率的原因之一。据报道，在多周期BIST机制中，执行多周期捕获操作后捕获期间的功耗很低。针对这一点，本文提出了一种使用多周期捕获测试生成的宽边测试生成方法，以减少捕获期间的功耗。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

  • 客服微信

  • 服务号