Logic-Path-and-Clock-Path-Aware At-Speed Scan Test Generation

Fuqiang Li; Xiaoqing Wen; Stefan Holst; Kohei Miyase; Seiji Kajihara

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Logic-Path-and-Clock-Path-Aware At-Speed Scan Test Generation

机译：逻辑路径和时钟路径感知的快速扫描测试生成

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Both logic paths and clock paths are subject to the impact of IR-Drop which occurs in capture mode during scan test. This paper describes a new method for generating high-quality capture-power-safe at-speed scan test vectors by adjusting the impact of IR-Drop on both logic and clock paths. Experimental results on large benchmark circuits have shown the effectiveness of the proposed method.

机译：逻辑路径和时钟路径均受IR-Drop的影响，该影响发生在扫描测试期间的捕获模式下。本文介绍了一种通过调整IR-Drop对逻辑和时钟路径的影响来生成高质量捕获功率安全的快速扫描测试矢量的新方法。在大型基准电路上的实验结果表明了该方法的有效性。

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来源
《電子情報通信学会技術研究報告. ディペンダブルコンピュ-ティング. Dependable Computing》 |2015年第449期|共6页
作者
Fuqiang Li; Xiaoqing Wen; Stefan Holst; Kohei Miyase; Seiji Kajihara;
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作者单位

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收录信息
原文格式 PDF
正文语种 eng
中图分类通信保密与通信安全;
关键词
At-Speed Scan Test; IR-Drop; Clock Stretch; Capture-Power-Safety; Test Quality;

机译：高速扫描测试;IR下降;时钟拉伸;捕获电源安全;测试质量;

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