ディジタル回路のトラブル対策

著录项

• 来源
  《トランジスタ技術》 |2003年第9期|共10页
• 作者

  中辛政; 大中邦彦; 阪野孝雄; Yukimasa Naka; Kunihiko Ohnaka; Takao Sakano;

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• 作者单位

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• 收录信息
• 原文格式 PDF
• 正文语种 jpn
• 中图分类 半导体三极管（晶体管）;
• 关键词

  カバレツジ; テスタビリテイ; テスト·べンチ; 檢査成績表; 檢査仕樣書; コマンド·プロシージヤ; 目視檢査; 設計不良; 製造不良; パターン·ジエネレータ; テスト·べクタ; クロツク·スキユー; セツトアツプ·タイム; ホールド·タイム; イリーがル·ステト;

  机译：覆盖范围;可测试性;测试企业;检验报告;检验报告;命令过程;视觉检验;设计缺陷;制造缺陷;模式生成器;测试向量;Crotsk Skiyu;建立时间;保持时间伊莉·勒·史托（Illy Le Steto）;