MSP430スタートアップ：第8回（最終回） アナログICの温度特性を測る

渡辺明禎; Akiyoshi Watanabe

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MSP430スタートアップ：第8回（最終回）アナログICの温度特性を測る

机译：MSP430启动：第8次（最终）测量模拟IC的温度特性

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第7回（本誌2007年9月号）ではMSP430F4270を使った高精度小型恒温槽を紹介しました．小型恒温槽を製作した目的の一つは，小型電子部品の温度校正や温度特性の測定などです．F4270を使うと，このようなことも自動的に簡単に行うことができるので，今回はこの方法を紹介します．

机译：在第7期（本杂志的2007年9月版）中，我们介绍了使用MSP430F4270的高精度紧凑型恒温浴。制造小型恒温槽的目的之一是校准小型电子零件的温度并测量温度特性。使用F4270，这种事情可以自动轻松地完成，因此这次我将介绍这种方法。

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来源
《トランジスタ技術》 |2007年第10期|共4页
作者
渡辺明禎; Akiyoshi Watanabe;
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作者单位

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收录信息
原文格式 PDF
正文语种 jpn
中图分类半导体三极管（晶体管）;
关键词

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