Characterization of a charge-coupled-device detector in the 1100-0.14-nm (1-eV to 9-keV) spectral region

Poletto Luca; Boscolo Alessio; Tondello Giuseppe

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Characterization of a charge-coupled-device detector in the 1100-0.14-nm (1-eV to 9-keV) spectral region

机译：1100-0.14nm（1-eV至9-keV）光谱区域中电荷耦合器件检测器的表征

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《Applied optics》 |1999年第1期|共1页
作者
Poletto Luca; Boscolo Alessio; Tondello Giuseppe;
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