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Characterization of thin-film losses with a synchronously pumped ringdown cavity

机译：利用同步泵浦的环形腔表征薄膜损耗

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We describe the use of a synchronously pumped ringdown cavity for measuring total optical losses, absorption and scattering, in thin optical films of arbitrary thickness on transparent substrates. This technique is compared with a single-pulse ringdown cavity regime and is shown to have a superior signal-to-noise ratio and resolution. We also provide an analysis of the factors affecting the resolution of the technique. Using this ringdown cavity pumped by a conventional mode-locked Ti:sapphire laser, we experimentally detect losses of only 58±9 and 112±9 parts per million in Ta_(2)O_(5) and SiO_(2) films, respectively. To our knowledge, these are so far the lowest losses measured in thin films on stand-alone transparent substrates.
机译：我们描述了使用同步泵浦的衰荡腔来测量透明基板上任意厚度的光学薄膜中的总光学损耗，吸收和散射。将该技术与单脉冲衰荡腔模式进行了比较，并显示出具有出色的信噪比和分辨率。我们还提供了影响该技术分辨率的因素的分析。使用由常规锁模Ti：蓝宝石激光器泵浦的这种衰荡腔，我们实验地检测到Ta_（2）O_（5）和SiO_（2）薄膜的损耗分别仅为百万分之58±9和112±9。据我们所知，这是迄今为止在独立透明基板上的薄膜中测得的最低损耗。

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    《Applied optics》 |2003年第22期|共6页
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