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Model-independent method for the determination of guiding thin-film optical parameters

机译:确定薄膜光学参数的模型无关方法

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摘要

A method for the determination of the optical constants of thin films based on the combination of a waveguide measurement procedure with the spectroscopic measurements made from the UV to the IR is presented. As a test material AlN thin film on sapphire substrates is investigated.
机译:提出了一种基于波导测量程序与从UV到IR的光谱测量相结合的薄膜光学常数测定方法。作为测试材料,研究了蓝宝石衬底上的AlN薄膜。

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