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Dedicated spectrophotometer for localized transmittance and reflectance measurements

机译：专用分光光度计，用于局部透射率和反射率测量

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A dedicated spectrophotometer is built to achieve localized transmittance and reflectance measurements. The spatial resolution can be chosen from 100 (mu)m to 2 mm, the spectral resolution from 0.5 to 5 nm, and the spectral range from 400 to 1700 nm. This apparatus can be used to study the index and thickness uniformity on single layers to determine and optimize the characteristics of the deposition chamber. It can also be used to measure the spatial variations of optical properties of intended nonuniform coatings such as linear variable filters.
机译：专用分光光度计可实现局部透射率和反射率测量。空间分辨率可以从100μm到2 mm中选择，光谱分辨率从0.5到5 nm中选择，光谱范围从400到1700 nm。该设备可用于研究单层的折射率和厚度均匀性，以确定和优化沉积室的特性。它也可以用于测量预期的非均匀涂层（例如线性可变滤光片）的光学性能的空间变化。

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