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【24h】

Generalization of the Rouard method to an absorbing thin-film stack and application to surface plasmon resonance

机译：Rouard方法在吸收性薄膜堆叠中的推广及其在表面等离子体共振中的应用

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In the context of surface plasmon resonance (SPR) kinetic biochips, it is important to model the SPR phenomenon (i.e., extinction of reflectivity) toward biochip design and optimization. The Rouard approach that models reflectivity off a thin-film stack is shown to be extendable to any number of absorbing layers with no added complexity. Using the generalized Rouard method, the effect of SPR is simulated as a function of the wavelength for various metal thicknesses. Given an optimal metal thickness, the dependence of SPR on the angle of incidence and wavelength is also demonstrated. Such a model constitutes a potential basis for the efficient design and optimization of multidimensional sensors.
机译：在表面等离振子共振（SPR）动力学生物芯片的背景下，为生物芯片设计和优化建模SPR现象（即反射性消光）非常重要。 Rouard方法模拟了薄膜堆叠的反射率，显示出可以扩展到任意数量的吸收层，而不会增加复杂性。使用广义Rouard方法，针对各种金属厚度，将SPR的效果模拟为波长的函数。给定最佳的金属厚度，还证明了SPR对入射角和波长的依赖性。这样的模型为有效设计和优化多维传感器奠定了潜在的基础。

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