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Method of excess fractions with application to absolute distance metrology: theoretical analysis

机译：过剩分数法在绝对距离计量中的应用：理论分析

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The method of excess fractions (EF) is well established to resolve the fringe order ambiguity generated in interferometric detection. Despite this background, multiwavelength interferometric absolute long distance measurements have only been reported with varying degrees of success. In this paper we present a theoretical model that can predict the unambiguous measurement range in EF based on the selected measurement wavelengths and phase noise. It is shown that beat wavelength solutions are a subset of this theoretical model. The performance of EF, for a given phase noise, is shown to be equivalent to beat techniques but offers many alternative sets of measurement wavelengths and therefore EF offer significantly greater flexibility in experimental design.
机译：多余分数（EF）的方法已经建立，可以解决干涉检测中产生的条纹阶模糊性。尽管有这样的背景，但仅报道了多波长干涉绝对长距离测量的成功程度。在本文中，我们提出了一种理论模型，可以根据所选的测量波长和相位噪声来预测EF中的明确测量范围。结果表明，拍频波长解决方案是该理论模型的一个子集。对于给定的相位噪声，EF的性能与拍频技术相当，但提供了许多可选的测量波长组，因此EF在实验设计中具有更大的灵活性。

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