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Identifying sampling comb changes in Fourier transform spectrometers with significant self-emission and beam splitter absorption

机译：识别具有明显自发射和分束器吸收能力的傅立叶变换光谱仪中的采样梳变化

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For accurate calibration of Fourier transform spectrometers we must constrain or resample the interferogram data to an invariant sampling comb. This can become challenging when instrument self-emission is significant and beam splitter absorption is present. The originally-sampled interferogram center-burst position can move due not only to sampling comb changes, but also to an interaction between the strength of an external target and the so-called anomalous phase (the two ports of the interferometer contribute center-bursts at different locations, and the relative weighting of the two ports varies with the strength of the external target). We present a model of the anomalous phase to enable partitioning of changes in observed center-burst location between sampling comb changes and anomalous phase effects.
机译：为了精确校准傅立叶变换光谱仪，我们必须将干涉图数据约束或重新采样为不变采样梳。当仪器的自发光显着并且存在分束器吸收时，这可能变得具有挑战性。最初采样的干涉图中心爆裂位置不仅会由于采样梳的变化而移动，而且还会由于外部目标的强度与所谓的反常相之间的相互作用而发生移动（干涉仪的两个端口在位置不同，并且两个端口的相对权重随外部目标的强度而变化）。我们提出了一个异常相的模型，以实现在采样梳形变化和异常相效应之间观察到的中心爆裂位置变化的划分。

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