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Friction force microscopy: A simple technique for identifying graphene on rough substrates and mapping the orientation of graphene grains on copper

机译：摩擦力显微镜：一种用于在粗糙基底上识别石墨烯并绘制铜上石墨烯晶粒取向的简单技术

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At a single atom thick, it is challenging to distinguish graphene from its substrate using conventional techniques. In this paper we show that friction force microscopy (FFM) is a simple and quick technique for identifying graphene on a range of samples, from growth substrates to rough insulators. We show that FFM is particularly effective for characterizing graphene grown on copper where it can correlate the graphene growth to the three-dimensional surface topography. Atomic lattice stick-slip friction is readily resolved and enables the crystallographic orientation of the graphene to be mapped nondestructively, reproducibly and at high resolution. We expect FFM to be similarly effective for studying graphene growth on other metal/locally crystalline substrates, including SiC, and for studying growth of other two-dimensional materials such as molybdenum disulfide and hexagonal boron nitride.
机译：在单个原子厚的情况下，使用常规技术将石墨烯与其底物区分开来是一个挑战。在本文中，我们证明了摩擦力显微镜（FFM）是一种简单，快速的技术，可用于识别从生长基质到粗糙绝缘体的一系列样品中的石墨烯。我们表明，FFM对于表征在铜上生长的石墨烯特别有效，因为它可以将石墨烯的生长与三维表面形貌联系起来。原子晶格粘滑摩擦很容易解决，可以使石墨烯的晶体取向无损，可重复且高分辨率地绘制。我们希望FFM在研究包括SiC在内的其他金属/局部晶体衬底上的石墨烯生长以及研究其他二维材料（例如二硫化钼和六方氮化硼）的生长方面具有类似的效果。

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