• 主题
高级搜索  >
历史搜索 清空历史
首页> 外文期刊>Nanotechnology >Magnetic force microscopy using tip magnetization modulated by ferromagnetic resonance
【24h】

Magnetic force microscopy using tip magnetization modulated by ferromagnetic resonance

机译：使用铁磁共振调制的尖端磁化强度的磁力显微镜

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           
页面导航
  • 摘要
  • 著录项
  • 相似文献
  • 相关主题

摘要

In magnetic force microscopy (MFM), the tip-sample distance should be reduced to analyze the microscopic magnetic domain structure with high spatial resolution. However, achieving a small tip-sample distance has been difficult because of superimposition of interaction forces such as van der Waals and electrostatic forces induced by the sample surface. In this study, we propose a new method of MFM using ferromagnetic resonance (FMR) to extract only the magnetic field near the sample surface. In this method, the magnetization of a magnetic cantilever is modulated by FMR to separate the magnetic field and topographic structure. We demonstrate the modulation of the magnetization of the cantilever and the identification of the polarities of a perpendicular magnetic medium.
机译：在磁力显微镜（MFM）中，应减小尖端样本的距离以分析具有高空间分辨率的微观磁畴结构。但是，由于相互作用力（例如范德华力和由样品表面感应的静电力）的叠加，很难实现较小的尖端样品距离。在这项研究中，我们提出了一种使用铁磁共振（FMR）来仅提取样品表面附近磁场的MFM新方法。在这种方法中，磁悬臂的磁化强度通过FMR进行调制，以分离磁场和地形结构。我们展示了悬臂的磁化强度调制和垂直磁性介质极性的识别。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

  • 客服微信

  • 服务号