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Surface-plasmon Schottky contact detector based on a symmetric metal stripe in silicon

机译:基于硅中对称金属条的表面等离子体肖特基接触检测器

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摘要

A Schottky contact detector comprising a symmetric metal stripe buried in Si, capable of detecting surface plasmons at wavelengths below the bandgap of Si, is described. A model for the detector is proposed, and its performance is assessed at (lambda)_(0)velence1550 nm assuming a CoSi_(2) stripe in p-type Si. End-fire coupled responsivities of about 0.1 A/W and minimum detectable powers of about -20 dBm are predicted at room temperature.
机译:描述了一种肖特基接触检测器,其包括掩埋在Si中的对称金属条,其能够检测在Si的带隙以下的波长的表面等离子体激元。提出了一种用于检测器的模型,并假设在p型Si中存在CoSi_(2)条,在λ_(0)velence1550 nm处评估了其性能。在室温下,预计端火耦合响应约为0.1 A / W,最小可检测功率约为-20 dBm。

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