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【24h】

One-step Jones matrix polarization holography for extraction of spatially resolved Jones matrix of polarization-sensitive materials

机译：一步琼斯矩阵极化全息术，用于提取极化敏感材料的空​​间分辨琼斯矩阵

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We propose, for the first time to our knowledge, a method for realizing one-step measurement of two-dimensional Jones matrix parameters of polarization-sensitive materials. This method could be called one-step Jones matrix polarization holography (JMPH). Our theoretical analysis and the experimental results demonstrate that a double-source polarization interferometer combined with angular multiplexing holography make it possible to realize one-step holographic measurements of four spatially resolved Jones matrix parameters. Compared with the existing methods, our one-step JMPH has a simpler optical arrangement and easier measuring procedure. We believe that it will provide a new approach for development of an integrated system suitable for measuring, in real-time, a Jones matrix or transmittance matrix, as well as dynamic polarization imaging.
机译：据我们所知，我们首次提出了一种实现偏振敏感材料的二维Jones矩阵参数的单步测量的方法。这种方法可以称为一步琼斯矩阵偏振全息术（JMPH）。我们的理论分析和实验结果表明，双源偏振干涉仪与角复用全息技术相结合，可以实现对四个空间分辨的琼斯矩阵参数的一步式全息测量。与现有方法相比，我们的单步JMPH具有更简单的光学布置和更容易的测量过程。我们相信它将为开发适用于实时测量琼斯矩阵或透射率矩阵以及动态偏振成像的集成系统提供新的方法。

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