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Structured illumination diffraction phase microscopy for broadband, subdiffraction resolution, quantitative phase imaging

机译：宽带结构照明衍射相位显微镜，亚衍射分辨率，定量相位成像

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Structured illumination microscopy (SIM) is an established technique that allows subdiffraction resolution imaging by heterodyning high sample frequencies into the system's passband via structured illumination. However, until now, SIM has been typically used to achieve subdiffraction resolution for intensity-based imaging. Here, we present a novel optical setup that uses structured illumination with a broadband light source to obtain noise-reduced, sub-diffraction resolution, quantitative phase imaging (QPM) of cells. We compare this with a previous work for sub-diffraction QPM imaging via SIM that used a laser source, and was thus still corrupted by coherent noise.
机译：结构照明显微镜（SIM）是一项成熟的技术，通过将高采样频率通过结构照明混入系统的通带，可以实现亚衍射分辨率成像。但是，到目前为止，SIM通常已用于实现基于强度的成像的子衍射分辨率。在这里，我们提出了一种新颖的光学装置，该装置使用带宽带光源的结构化照明来获得降低噪声的子衍射分辨率，细胞的定量相位成像（QPM）。我们将其与以前通过SIM使用激光源进行亚衍射QPM成像的工作进行了比较，因此仍然被相干噪声破坏。

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