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【24h】

Characterizing the carrier-envelope offset in an optical frequency comb without traditional f-to-2f interferometry

机译：无需传统的f至2f干涉测量法即可表征光频率梳中的载波包络偏移

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We present a new method to measure the frequency noise and modulation response of the carrier-envelope offset (CEO) beat of an optical frequency comb that does not make use of the traditional f-to-2f interferometry. Instead, we use an appropriate combination of different signals to extract the contribution of the CEO frequency without directly detecting it. We present a proof-of-principle validation realized with a commercial Er: fiber frequency comb and show an excellent agreement with the results obtained using a standard f-to-2f interferometer. This approach is attractive for the characterization of novel frequency comb technologies for which self-referencing is challenging, such as semiconductor mode-locked lasers, microresonator-based systems, or GHz repetition rate lasers. (C) 2015 Optical Society of America
机译：我们提出了一种不使用传统的f至2f干涉测量方法来测量光频率梳的载波包络偏移（CEO）拍的频率噪声和调制响应的新方法。相反，我们使用不同信号的适当组合来提取CEO频率的贡献而不直接检测到它。我们提出了使用商业Er：光纤频率梳实现的原理验证，并且与使用标准f-to-2f干涉仪获得的结果非常吻合。这种方法对于表征自参考面临挑战的新型频率梳技术很有吸引力，例如半导体锁模激光器，基于微谐振器的系统或GHz重复频率激光器。 （C）2015年美国眼镜学会

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