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首页> 外文期刊>Physica, B. Condensed Matter >Grazing incidence XAFS under non-specular conditions
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Grazing incidence XAFS under non-specular conditions

机译：非镜面条件下的掠入射XAFS

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The extended X-ray absorption fine structure technique (EXAFS) in the reflection mode under specular and nonspecular conditions was used for the ex situ investigation of a sputter-deposited thin copper film on a float glass substrate. We prove the existence of a fine structure similar to EXAFS, which can be observed in the region of diffusely scattered intensities. It is shown that this new technique is surface sensitive for grazing angles above the critical angle of total reflection and an even higher surface sensitivity with respect to conventional reflection mode EXAFS can be achieved. (C) 2004 Elsevier B.V. All rights reserved.
机译：在镜面和非镜面条件下，采用反射模式下的扩展X射线吸收精细结构技术（EXAFS），对浮法玻璃基板上的溅射沉积铜薄膜进行了异位研究。我们证明了存在类似于EXAFS的精细结构，可以在分散散射强度的区域中观察到这种结构。结果表明，该新技术对于掠角全反射的临界角以上具有表面敏感性，并且相对于常规反射模式EXAFS可以实现更高的表面敏感性。 （C）2004 Elsevier B.V.保留所有权利。

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