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Spectrally resolved x-ray beam induced current in a single InGaP nanowire

机译：光谱分辨的X射线束引起的单个Ingap纳米线中的电流

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We demonstrate x-ray absorption fine structure spectroscopy (XAFS) detected by x-ray beam induced current (XBIC) in single n(+)i-n(+) doped nanowire devices. Spatial scans with the 65 nm diameter beam show a peak of the XBIC signal in the middle segment of the nanowire. The XBIC and the x-ray fluorescence signals were detected simultaneously as a function of the excitation energy near the Ga K absorption edge at 10.37 keV. The spectra show similar oscillations around the edge, which shows that the XBIC is limited by the primary absorption. Our results reveal the feasibility of the XBIC detection mode for the XAFS investigation in nanostructured devices.
机译：我们展示了在单个N（+）I-N（+）掺杂纳米线装置中的X射线束感应电流（Xbic）检测的X射线吸收细结构光谱（XAF）。 具有65nm直径光束的空间扫描显示纳米线的中间段中的XBIC信号的峰值。 同时检测XBIC和X射线荧光信号，同时检测到GA K吸收边缘的激发能量，10.37keV。 光谱围绕边缘显示出类似的振荡，这表明Xbic受到主要吸收的限制。 我们的结果揭示了XBIC检测模式在纳米结构装置中XBIC检测模式的可行性。

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