机译:通过等离子体衰减长度确定金属纳米粒子介电壳临界厚度的定量研究
Beihang Univ Sch Chem Minist Educ Key Lab Bioinspired Smart Interfacial Sci &
Techn Beijing 100191 Peoples R China;
Nanyang Technol Univ Ctr Programmable Mat Sch Mat Sci &
Engn Singapore 639798 Singapore;
Beihang Univ Sch Chem Minist Educ Key Lab Bioinspired Smart Interfacial Sci &
Techn Beijing 100191 Peoples R China;
Nanyang Technol Univ Ctr Programmable Mat Sch Mat Sci &
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shell-coated NP; critical thickness; plasmon decay length; plasmonic sensing;
机译:通过等离子体衰减长度确定金属纳米粒子介电壳临界厚度的定量研究
机译:局域介电常数和壳厚度控制的纳米金属壳的非线性饱和吸收。
机译:通过壳厚度可调谐针孔Au @ SiO2核 - 壳纳米颗粒揭示的远程等离子体场和催化效应:对硝基苯酚还原的案例研究
机译:双金属芯壳纳米粒子对介电基材的吸收和等离子体共振
机译:介电功能特性对等离振子共振金属纳米粒子光学响应的影响。
机译:表面等离子体共振传感器对贵金属薄膜介电常数的实验研究
机译:球状金属中表面等离子共振的辐射阻尼 纳米颗粒嵌入电介质中
机译:二维临界表面结构,受激拉曼散射和双等离子体衰变不稳定性的实验研究。年度报告,1981年1月1日至1982年4月30日