机译:通过调速开尔文探针力显微镜检查TiO2(110)的表面电位
Osaka Univ Grad Sch Engn Dept Appl Phys 2-1 Yamadaoka Suita Osaka 5650871 Japan;
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surface potential; TiO2; Kelvin probe force microscopy (KPFM); atomic force microscopy (AFM);
机译:通过调速开尔文探针力显微镜检查TiO2(110)的表面电位
机译:调频开尔文探针力显微镜研究TiO2(110)的表面电势
机译:用开尔文探针力显微镜对金红石型TiO2(110)表面台阶上的表面电势成像
机译:用开尔文探针力显微镜研究GaN基场效应晶体管中的截面电势分布
机译:开尔文探头力显微镜的基础及其在太阳能电池特征中的应用
机译:用开尔文探针力显微镜对金红石型TiO2(110)表面台阶上的表面电势成像
机译:使用非接触原子力学显微镜和开尔文探针力显微镜阐明氧化/减少金红石TiO2(110)表面上的Au纳米光泽剂的充电状态