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Single-shot characterization of strongly focused coherent XUV and soft X-ray beams

机译:强焦相干XUV和软X射线束的单次表征

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摘要

In this Letter, we present a novel, to the best of our knowledge, single-shot method for characterizing focused coherent beams. We utilize a dedicated amplitude-only mask, in combination with an iterative phase retrieval algorithm, to reconstruct the amplitude and phase of a focused beam from a single measured far-field diffraction pattern alone. In a proof-of-principle experiment at a wavelength of 13.5 nm, we demonstrate our new method and obtain an RMS phase error of better than A./70. This method will find applications in the alignment of complex optical systems, real-time feedback to adaptive optics, and single-shot beam characterization, e.g., at free-electron lasers or high-order harmonic beamlines. (C) 2020 Optical Society of America
机译:在这封信中,我们提出了一种小说,以我们的知识,用于表征聚焦相干梁的单次射击方法。 我们利用专用的幅度掩模与迭代相位检索算法结合,以单独从单个测量的远场衍射图形重建聚焦光束的幅度和相位。 在波长为13.5nm的原则上的原则上实验中,我们展示了我们的新方法,并获得了比A./70更好的RMS相位误差。 该方法将在复杂光学系统的对准中找到应用,自适应光学器件的实时反馈和单次反馈和单次光束表征,例如在自由电子激光器或高阶谐波光束上。 (c)2020美国光学学会

著录项

  • 来源
    《Optics Letters》 |2020年第17期|共4页
  • 作者单位

    Friedrich Schiller Univ Jena Abbe Ctr Photon Inst Appl Phys Albert Einstein Str 15 D-07745 Jena Germany;

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    Friedrich Schiller Univ Jena Abbe Ctr Photon Inst Appl Phys Albert Einstein Str 15 D-07745 Jena Germany;

    Friedrich Schiller Univ Jena Abbe Ctr Photon Inst Appl Phys Albert Einstein Str 15 D-07745 Jena Germany;

  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类 计量学;光学;
  • 关键词

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