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Nonuniform depolarization properties of typical nanostructures and potential applications

机译：典型纳米结构和潜在应用的非均匀去极化性能

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Nonuniform depolarization properties of SiO2 thin film, two-dimensional (2D) Si grating, and three-dimensional Si cylinder grating, were systematically investigated by Lu-Chipman decomposition. We find that introducing surface profiles with dimensions comparable to the detecting wavelengths can lead to obvious nonuniform depolarization, and control of the sample azimuth can manipulate the uniformity of the depolarizer components. The results indicate that the 2D nanostructure shows obvious nonuniform depolarization at 0 degrees and 90 degrees azimuths, while almost uniform depolarization at 45 degrees azimuth. These discovered phenomena may give rise to some potential applications, such as the detection of the existence of nanostructures without apriori information about the sample, and the design of a uniform or nonuniform depolarizer. (C) 2020 Optical Society of America
机译：通过Lu-Chipman分解系统地研究了SiO 2薄膜，二维（2D）Si光栅和三维Si缸光栅的非均匀去极化性能。 我们发现引入具有与检测波长相当的尺寸的表面曲线可以导致显而易见的非均匀性去极化，并且对样品方位角的控制可以操纵去极化器组分的均匀性。 结果表明，2D纳米结构在0度和90度方差时显示出明显的不均匀的去极化，而几乎均匀的45度方差的去极化。 这些发现的现象可以产生一些潜在的应用，例如检测纳米结构的存在，而没有关于样品的APRiORI信息，以及均匀或非均匀的去偏振器的设计。 （c）2020美国光学学会

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